AtomExplorer: チップとナノ材料のための精密トポグラフィーツール

製品の説明:

Basic型原子間力顕微鏡（AFM）は、科学研究および産業界の研究開発用途の多様なニーズに対応するために設計された、多用途で高性能な機器です。この多機能AFMは、静電フォース顕微鏡（EFM）、走査型ケルビン探針フォース顕微鏡（KPFM）、圧電フォース顕微鏡（PFM）、磁気フォース顕微鏡（MFM）などの高度な測定モードを搭載しています。これらの機能により、研究者やエンジニアは、幅広いナノスケール表面分析を実施でき、材料科学、半導体研究、ナノテクノロジー開発に不可欠なツールとなっています。

このBasic型AFMの際立った特徴の1つは、最大φ25mmのサンプルに対応できることで、さまざまな種類の標本に十分なスペースを提供することです。薄膜、コーティング、バルク材料など、ユーザーはサイズ制限を気にすることなく、自信を持ってサンプルを分析できます。システムのXYZ三軸フルサンプル走査方式により、サンプル表面全体にわたる包括的かつ正確な走査が保証され、正確な地形データと機能特性データが得られます。

Basic型原子間力顕微鏡の画像サンプリング解像度は高度にカスタマイズ可能で、32*32ポイントから最大4096*4096ポイントまで幅広く対応しています。この広範な範囲により、ユーザーは実験要件に応じて、走査速度と画像の詳細さのバランスを取ることができます。高解像度イメージングは、微細な表面の特徴を捉え、ナノスケール現象を理解するために不可欠であり、学術研究と産業製品開発の両方で重要です。

このAFMモデルは、多機能測定機能と柔軟なイメージングオプションに加えて、高度なチップ保護技術、具体的にはSafe Needle Insertion Modeを組み込んでいます。この革新的な機能は、エンゲージメントと走査中に繊細なAFMプローブを保護し、チップ損傷のリスクを大幅に軽減し、一貫した測定品質を保証します。Safe Needle Insertion Modeは、機器の信頼性と寿命を向上させ、高スループットの産業研究環境において特に重要です。

安定性と精度を念頭に置いて設計されたBasic型原子間力顕微鏡は、測定中のノイズとドリフトを最小限に抑える高安定性AFM性能を提供します。この安定性は、ケルビン探針フォース顕微鏡や圧電フォース顕微鏡などの高感度測定を行う場合に特に重要であり、再現性と正確なデータを取得するために不可欠です。堅牢な構造と高度な制御システムにより、このAFMは長期的な科学的調査および産業界の研究開発プロジェクトに信頼できる機器となっています。

科学研究用のAFMとして、このモデルは、基本的な表面特性評価から複雑な機能特性マッピングまで、幅広い実験ニーズをサポートします。研究者は、統合された多機能測定モードのおかげで、ナノスケールでの電気的、磁気的、圧電的特性を容易に探索できます。さらに、ユーザーフレンドリーなインターフェースと多用途なソフトウェアツールにより、データ取得、分析、可視化が容易になり、研究ワークフローが合理化されます。

産業界の研究開発環境では、Basic型原子間力顕微鏡は、品質管理、材料開発、故障分析のための重要な顕微鏡として機能します。その多機能性により、複数の別々の機器の必要性が減り、実験室スペースと運用コストの両方を節約できます。このAFMの高い安定性と精度は、ナノスケール特性が製品性能に直接影響する次世代材料とデバイスの開発に最適な選択肢となります。

全体として、Basic型原子間力顕微鏡は、多機能性、高解像度イメージング、サンプルの多様性、高度なチップ保護を組み合わせ、ナノスケール表面分析のための包括的なソリューションを提供します。学術研究室または産業研究施設で使用されるかにかかわらず、現代の科学研究と産業イノベーションの厳しい要件を満たす、信頼性の高い高安定性AFMとして際立っています。

特徴:

• 製品名: Basic型原子間力顕微鏡
• 画像サンプリングポイント: 32*32～4096*4096
• 動作モード: タップモード、コンタクトモード、リフトモード、位相イメージングモード
• 多機能測定:
  • 静電フォース顕微鏡（EFM）
  • 走査型ケルビン顕微鏡（KPFM）
  • 圧電フォース顕微鏡（PFM）
  • 磁気フォース顕微鏡（MFM）
• 走査方法: XYZ三軸フルサンプル走査
• 走査範囲:
  • 100μm * 100μm * 10μm
  • 30μm * 30μm * 5μm
• 材料表面特性評価および表面テクスチャ分析に最適
• 高解像度ナノスケール地形イメージングを可能にする

技術的パラメータ:

アプリケーション:

Truth Instruments AtomExplorer Basic型原子間力顕微鏡（AFM）は、高精度な表面テクスチャ分析とナノスケール地形イメージングのために設計された高度なナノスケール顕微鏡です。中国発祥のこの多用途機器は、静電フォース顕微鏡（EFM）、走査型ケルビン探針顕微鏡（KPFM）、圧電フォース顕微鏡（PFM）、磁気フォース顕微鏡（MFM）などの多機能測定機能を備え、幅広い研究および産業用途に対応しています。これらの機能により、AtomExplorerは、ナノスケール材料や表面を扱う科学者やエンジニアにとって不可欠なツールとなっています。

AtomExplorerの主な用途の1つは、詳細な表面テクスチャ分析が不可欠な材料科学研究室です。研究者は、その高解像度イメージングを利用して、ナノスケールでのさまざまな材料の形態と特性を研究し、ナノテクノロジー、半導体研究、薄膜特性評価におけるブレークスルーを可能にすることができます。φ25mmのサンプルサイズ容量と100μm * 100μm * 10μmまたは30μm * 30μm * 5μmの走査範囲により、多様なサンプルに対応でき、マイクロエレクトロニクス部品、ポリマー、生体材料の分析に最適です。

学術および産業研究環境では、AtomExplorerは、32*32から4096*4096までの画像サンプリングポイントを備えた詳細な3D表面マップを提供し、包括的なナノスケール地形イメージングを容易にします。この機能により、表面の特徴を正確に可視化および測定することができ、品質管理、故障分析、ナノ製造におけるイノベーションに不可欠です。さらに、Safe Needle Insertion Modeなどのチップ保護技術の採用により、繊細な走査プロセス中の長寿命と信頼性が保証されます。

AtomExplorerの多機能性により、静電および磁気特性の測定など、さまざまなシナリオでの使用が可能になり、電子デバイス、磁性材料、圧電部品の研究に役立ちます。ユーザーフレンドリーな設計とカスタマイズ可能な走査パラメータにより、日常的な実験室での使用だけでなく、高度な研究プロジェクトにも適しています。価格は連絡により交渉可能であり、Truth Instruments AtomExplorerは、ナノスケール顕微鏡のニーズに対する費用対効果の高い強力なソリューションを提供し、さまざまな科学および産業分野における表面テクスチャ分析とナノスケール地形イメージングのための基本的な機器としての地位を確立しています。