AtomExplorer: Präzisionstool für Chips und Nanomaterialien

Beschreibung des Produkts:

Das Atomkraftmikroskop (AFM) des Grundtyps ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Instrument, das den vielfältigen Anforderungen der wissenschaftlichen Forschung und der industriellen F&E-Anwendungen gerecht wird.Dieses multifunktionale AFM ist mit fortschrittlichen Messmodi ausgestattet, einschließlich Elektrostatischer Kraftmikroskopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM) und Magnetkraftmikroskopie (MFM).Diese Fähigkeiten ermöglichen es Forschern und Ingenieuren, eine Vielzahl von Oberflächenanalysen im Nanobereich durchzuführen., so daß es ein unverzichtbares Werkzeug für die Materialwissenschaft, Halbleiterforschung und Nanotechnologieentwicklung ist.

Eine der herausragenden Eigenschaften dieses AFM des Basistyps ist seine Fähigkeit, Proben mit einer Größe von bis zu Φ 25 mm aufzunehmen, was für eine Vielzahl von Probenarten ausreichend Platz bietet.,In den meisten Fällen werden die Proben in der Verpackung und in den Verpackungsmaterialverpackungen, die für die Verpackung verwendet werden, oder in großen Mengen analysiert, ohne sich um Größenbeschränkungen zu sorgen.Die dreiachsige XYZ-Scanmethode des Systems sorgt für eine umfassende und präzise Scan der gesamten Probenfläche, die genaue topographische und funktionelle Eigenschaften liefern.

Die Auflösung des Grundtyp-Atomkraftmikroskops ist sehr anpassbar und reicht von 32*32 bis zu 4096*4096.Diese große Bandbreite ermöglicht es den Benutzern, die Geschwindigkeit des Scans und die Detailgenauigkeit des Bildes auszugleichenDie hochauflösende Bildgebung ist unerlässlich, um winzige Oberflächenmerkmale zu erfassen und Phänomene im Nanobereich zu verstehen.Das ist sowohl in der akademischen Forschung als auch in der industriellen Produktentwicklung entscheidend..

Zusätzlich zu seinen multifunktionalen Messfunktionen und flexiblen Bildgebungsmöglichkeiten enthält dieses AFM-Modell eine fortschrittliche Spitzenschutztechnologie, insbesondere den Safe Needle Insertion Mode.Diese innovative Funktion schützt die empfindlichen AFM-Sonden während des Einsatzes und Scannens, wodurch das Risiko von Schäden an der Spitze erheblich verringert und eine gleichbleibende Messqualität gewährleistet wird.Dies ist besonders wichtig für Industrieforschungsumgebungen mit hohem Durchsatz..

Das mit Blick auf Stabilität und Präzision konzipierte Atomkraftmikroskop Basic-Type bietet eine hohe Stabilität bei der AFM-Leistung, die Lärm und Drift während der Messungen minimiert.Diese Stabilität ist entscheidend, um reproduzierbare und genaue Daten zu erhalten, insbesondere bei der Durchführung empfindlicher Messungen wie Kelvin-Sonde-Kraftmikroskopie oder Piezoelektrik-Kraftmikroskopie.Die robuste Konstruktion und die fortschrittlichen Steuerungssysteme machen dieses AFM zu einem zuverlässigen Instrument für langfristige wissenschaftliche Untersuchungen und industrielle FuE-Projekte.

Als AFM für die wissenschaftliche Forschung unterstützt dieses Modell ein breites Spektrum experimenteller Bedürfnisse, von der grundlegenden Oberflächencharakterisierung bis zur komplexen funktionalen Eigenschaftskartierung.Forscher können elektrischeDie Ergebnisse der Studie zeigen, dass die Messung der magnetischen und piezoelektrischen Eigenschaften auf der Nanoskala dank der integrierten multifunktionalen Messmodi sehr einfach erfolgt.Die benutzerfreundliche Benutzeroberfläche und die vielseitigen Softwaretools erleichtern die Datenerfassung, Analyse und Visualisierung, die den Forschungs-Workflow optimieren.

Im Bereich der industriellen Forschung und Entwicklung dient das Atomkraftmikroskop des Grundtyps als kritisches Mikroskop für die Qualitätskontrolle, die Materialentwicklung und die Fehleranalyse.Die Multifunktionalität verringert die Notwendigkeit mehrerer separater Instrumente, so dass sowohl Laborfläche als auch Betriebskosten eingespart werden.Die hohe Stabilität und Präzision dieses AFM machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für die Entwicklung von Materialien und Geräten der nächsten Generation, bei denen sich die Eigenschaften im Nanobereich direkt auf die Produktleistung auswirken.

Insgesamt kombiniert das Atomkraftmikroskop des Basistyps Multifunktionalität, hochauflösende Bildgebung, Probenvielseitigkeit,und fortschrittlicher Spitzenschutz, um eine umfassende Lösung für die Oberflächenanalyse im Nanobereich zu liefernOb in akademischen Laboratorien oder in Industrieforschungseinrichtungen, es zeichnet sich als zuverlässiger,hohe Stabilität der AFM, die den anspruchsvollen Anforderungen moderner wissenschaftlicher Forschung und industrieller Innovation entspricht.

Eigenschaften:

• Produktbezeichnung: Atomkraftmikroskop des Grundtyps
• Bildprobenpunkte: 32*32 bis 4096*4096
• Betriebsmodus: Tippmodus, Kontaktmodus, Liftmodus, Phasenbildmodus
• Mehrfunktionsmessungen:
  • Elektrostatisches Kraftmikroskop (EFM)
  • Scannen-Kelvin-Mikroskop (KPFM)
  • Piezoelektrische Kraftmikroskop (PFM)
  • Magnetkraftmikroskop (MFM)
• Scannungsmethode: XYZ-Drei-Achsen-Full-Sample-Scan
• Scanningbereich:
  • 100 μm * 100 μm * 10 μm
  • 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Ideal für die Oberflächencharakterisierung und Oberflächentexturanalyse
• Ermöglicht hochauflösende Nanoskala-Topographiebilder

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das Grundtyp-Atomkraftmikroskop (AFM) von Truth Instruments AtomExplorer ist ein fortschrittliches Mikroskop im Nanobereich, das für eine hochpräzise Oberflächentexturanalyse und Nano-Topographie-Bildgebung entwickelt wurde.Herkunft aus China, dieses vielseitige Instrument bietet eine breite Palette von Forschungs- und Industrieanwendungen und bietet multifunktionale Messfunktionen, einschließlich Elektrostatisches Kraftmikroskop (EFM).Scanning Kelvin Probe Mikroskopie (KPFM), Piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM) und Magnetische Kraftmikroskopie (MFM).Diese Eigenschaften machen den AtomExplorer zu einem unverzichtbaren Werkzeug für Wissenschaftler und Ingenieure, die mit Nanomaterialien und Oberflächen arbeiten.

Einer der wichtigsten Anwendungsbereiche für den AtomExplorer ist die Materialwissenschaftslaboratorien, in denen eine detaillierte Oberflächenstrukturanalyse entscheidend ist.Forscher können mit Hilfe der hochauflösenden Bildgebung die Morphologie und Eigenschaften verschiedener Materialien im Nanobereich untersuchen, die Durchbrüche in den Bereichen Nanotechnologie, Halbleiterforschung und Dünnschichtcharakterisierung ermöglicht.Die Probengrößenkapazität des Instruments von Φ 25 mm und die Scannungsbereiche von 100 μm * 100 μm * 10 μm oder 30 μm * 30 μm * 5 μm bieten Platz für eine Vielzahl von Proben, so dass es ideal für die Analyse von mikroelektronischen Komponenten, Polymeren und Biomaterialien geeignet ist.

In akademischen und industriellen Forschungsbereichen erleichtert der AtomExplorer eine umfassende Nano-Topographie.Bereitstellung detaillierter 3D-Oberflächenkarten mit Bildprobenpunkten von 32*32 bis 4096*4096Diese Fähigkeit ermöglicht eine präzise Visualisierung und Messung von Oberflächenmerkmalen, die für die Qualitätskontrolle, die Fehleranalyse und die Innovation in der Nanofertigung unerlässlich sind.die Einbeziehung einer Spitzenschutztechnologie wie der Safe Needle Insertion Mode gewährleistet Langlebigkeit und Zuverlässigkeit bei empfindlichen Scanning-Prozessen.

Die Multifunktionalität des AtomExplorers ermöglicht seinen Einsatz in verschiedenen Szenarien, einschließlich Messungen elektrostatischer und magnetischer Eigenschaften.Magnetische MaterialienDas benutzerfreundliche Design und die anpassbaren Scannerparameter machen es für den routinemäßigen Laborgebrauch sowie für fortgeschrittene Forschungsprojekte geeignet.Mit einem Preis, der bei der Kontaktaufnahme verhandelbar ist, bietet der AtomExplorer von Truth Instruments eine kostengünstige und gleichzeitig leistungsstarke Lösung für Nanomikroskopiebedürfnisse.Stärkung seiner Rolle als grundlegendes Instrument für Oberflächentexturanalysen und Nano-Skala-Topographiebilder in verschiedenen wissenschaftlichen und industriellen Bereichen.