AtomExplorer: Инструмент прецизионной топографии для чипов и наноматериалов

Описание продукта:

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) базового типа - это универсальный и высокопроизводительный прибор, разработанный для удовлетворения разнообразных потребностей научных исследований и промышленных НИОКР. Этот многофункциональный АСМ оснащен передовыми режимами измерений, включая микроскопию электростатических сил (EFM), сканирующую зондовую микроскопию Кельвина (KPFM), пьезоэлектрическую силовую микроскопию (PFM) и магнитную силовую микроскопию (MFM). Эти возможности позволяют исследователям и инженерам проводить широкий спектр наноразмерного анализа поверхности, что делает его незаменимым инструментом для материаловедения, исследований полупроводников и разработки нанотехнологий.

Одной из выдающихся особенностей этого АСМ базового типа является его способность вмещать образцы размером до Φ 25 мм, обеспечивая достаточно места для различных типов образцов. Независимо от того, работаете ли вы с тонкими пленками, покрытиями или объемными материалами, пользователи могут уверенно анализировать свои образцы, не беспокоясь об ограничениях по размеру. Метод сканирования образца по трем осям XYZ обеспечивает всестороннее и точное сканирование всей поверхности образца, предоставляя точные данные о топографии и функциональных свойствах.

Разрешение дискретизации изображения атомно-силового микроскопа базового типа может быть настроено в широком диапазоне, от 32*32 точек до впечатляющих 4096*4096 точек. Этот широкий диапазон позволяет пользователям находить баланс между скоростью сканирования и детализацией изображения в зависимости от их экспериментальных требований. Высокое разрешение изображения необходимо для захвата мельчайших особенностей поверхности и понимания наноразмерных явлений, что имеет решающее значение как в академических исследованиях, так и в разработке промышленных продуктов.

В дополнение к своим многофункциональным возможностям измерения и гибким параметрам визуализации, эта модель АСМ включает в себя передовую технологию защиты наконечника, в частности, режим безопасного ввода иглы. Эта инновационная функция защищает хрупкие зонды АСМ во время захвата и сканирования, значительно снижая риск повреждения наконечника и обеспечивая стабильное качество измерений. Режим безопасного ввода иглы повышает надежность и долговечность прибора, что особенно важно для высокопроизводительных промышленных исследовательских сред.

Разработанный с учетом стабильности и точности, атомно-силовой микроскоп базового типа обеспечивает высокую стабильность работы АСМ, которая минимизирует шум и дрейф во время измерений. Эта стабильность имеет решающее значение для получения воспроизводимых и точных данных, особенно при проведении чувствительных измерений, таких как зондовая микроскопия Кельвина или пьезоэлектрическая силовая микроскопия. Прочная конструкция и передовые системы управления делают этот АСМ надежным инструментом для долгосрочных научных исследований и проектов НИОКР в промышленности.

Как АСМ для научных исследований, эта модель поддерживает широкий спектр экспериментальных потребностей, от фундаментальной характеристики поверхности до сложного отображения функциональных свойств. Исследователи могут с легкостью исследовать электрические, магнитные и пьезоэлектрические свойства в наномасштабе благодаря интегрированным многофункциональным режимам измерения. Кроме того, его удобный интерфейс и универсальные программные инструменты облегчают сбор, анализ и визуализацию данных, оптимизируя рабочий процесс исследования.

В условиях промышленных НИОКР атомно-силовой микроскоп базового типа служит критическим микроскопом для контроля качества, разработки материалов и анализа отказов. Его многофункциональность снижает потребность в нескольких отдельных приборах, экономя как лабораторное пространство, так и эксплуатационные расходы. Высокая стабильность и точность этого АСМ делают его отличным выбором для разработки материалов и устройств следующего поколения, где наноразмерные свойства напрямую влияют на производительность продукта.

В целом, атомно-силовой микроскоп базового типа сочетает в себе многофункциональность, визуализацию с высоким разрешением, универсальность образцов и передовую защиту наконечника, обеспечивая комплексное решение для наноразмерного анализа поверхности. Независимо от того, используется ли он в академических лабораториях или на промышленных исследовательских объектах, он выделяется как надежный АСМ с высокой стабильностью, который отвечает строгим требованиям современных научных исследований и промышленных инноваций.

Особенности:

• Название продукта: Атомно-силовой микроскоп базового типа
• Точки дискретизации изображения: от 32*32 до 4096*4096
• Режимы работы: Тап-режим, Контактный режим, Лифт-режим, Режим фазовой визуализации
• Многофункциональные измерения:
  • Микроскоп электростатических сил (EFM)
  • Сканирующий микроскоп Кельвина (KPFM)
  • Пьезоэлектрический силовой микроскоп (PFM)
  • Магнитный силовой микроскоп (MFM)
• Метод сканирования: сканирование образца по трем осям XYZ
• Диапазон сканирования:
  • 100 мкм * 100 мкм * 10 мкм
  • 30 мкм * 30 мкм * 5 мкм
• Идеально подходит для характеристики поверхности материала и анализа текстуры поверхности
• Обеспечивает получение топографических изображений наноразмерного разрешения

Технические параметры:

Применения:

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) базового типа Truth Instruments AtomExplorer - это усовершенствованный наноразмерный микроскоп, предназначенный для высокоточного анализа текстуры поверхности и получения топографических изображений в наномасштабе. Этот универсальный прибор, разработанный в Китае, отвечает широкому спектру исследовательских и промышленных применений, предлагая многофункциональные возможности измерения, включая микроскоп электростатических сил (EFM), сканирующую зондовую микроскопию Кельвина (KPFM), пьезоэлектрическую силовую микроскопию (PFM) и магнитную силовую микроскопию (MFM). Эти функции делают AtomExplorer незаменимым инструментом для ученых и инженеров, работающих с наноразмерными материалами и поверхностями.

Одним из основных применений AtomExplorer является использование в лабораториях материаловедения, где решающее значение имеет детальный анализ текстуры поверхности. Исследователи могут использовать его визуализацию с высоким разрешением для изучения морфологии и свойств различных материалов в наномасштабе, что позволяет совершать прорывы в нанотехнологиях, исследованиях полупроводников и характеристике тонких пленок. Вместимость образцов прибора Φ 25 мм и диапазоны сканирования 100 мкм * 100 мкм * 10 мкм или 30 мкм * 30 мкм * 5 мкм позволяют работать с разнообразными образцами, что делает его идеальным для анализа микроэлектронных компонентов, полимеров и биоматериалов.

В академических и промышленных исследовательских условиях AtomExplorer облегчает получение комплексных топографических изображений в наномасштабе, предоставляя подробные 3D-карты поверхности с точками дискретизации изображения от 32*32 до 4096*4096. Эта возможность позволяет точно визуализировать и измерять особенности поверхности, что необходимо для контроля качества, анализа отказов и инноваций в нанопроизводстве. Кроме того, включение технологии защиты наконечника, такой как режим безопасного ввода иглы, обеспечивает долговечность и надежность во время деликатных процессов сканирования.

Многофункциональный характер AtomExplorer позволяет использовать его в различных сценариях, включая измерения электростатических и магнитных свойств, что делает его ценным для изучения электронных устройств, магнитных материалов и пьезоэлектрических компонентов. Его удобный дизайн и настраиваемые параметры сканирования делают его подходящим как для рутинного лабораторного использования, так и для передовых исследовательских проектов. С ценой, подлежащей обсуждению при контакте, Truth Instruments AtomExplorer предлагает экономичное, но мощное решение для наноразмерной микроскопии, укрепляя свое место в качестве основного инструмента для анализа текстуры поверхности и получения топографических изображений в наномасштабе в различных научных и промышленных областях.