AtomExplorer: Εργαλείο τοπογραφίας ακριβείας για τσιπ και νανοϋλικά

Περιγραφή προϊόντος:

Το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης βασικού τύπου (AFM) είναι ένα ευέλικτο και υψηλής απόδοσης όργανο που έχει σχεδιαστεί για να ανταποκρίνεται στις διαφορετικές ανάγκες της επιστημονικής έρευνας και των βιομηχανικών εφαρμογών Ε&Α. Αυτό το πολυλειτουργικό AFM είναι εξοπλισμένο με προηγμένες λειτουργίες μέτρησης, όπως Ηλεκτροστατική Μικροσκοπία Δύναμης (EFM), Μικροσκοπία Δύναμης Ανιχνευτή σάρωσης (KPFM), Μικροσκοπία Πιεζοηλεκτρικής Δύναμης (PFM) και Μικροσκοπία Μαγνητικής Δύναμης (MFM). Αυτές οι δυνατότητες επιτρέπουν σε ερευνητές και μηχανικούς να διεξάγουν ένα ευρύ φάσμα επιφανειακών αναλύσεων νανοκλίμακας, καθιστώντας το απαραίτητο εργαλείο για την επιστήμη των υλικών, την έρευνα ημιαγωγών και την ανάπτυξη της νανοτεχνολογίας.

Ένα από τα χαρακτηριστικά γνωρίσματα αυτού του βασικού τύπου AFM είναι η ικανότητά του να δέχεται δείγματα μεγέθους έως Φ 25 mm, παρέχοντας άφθονο χώρο για μια ποικιλία τύπων δειγμάτων. Είτε εργάζονται με λεπτές μεμβράνες, επιστρώσεις ή χύμα υλικά, οι χρήστες μπορούν να αναλύσουν με σιγουριά τα δείγματά τους χωρίς να ανησυχούν για περιορισμούς μεγέθους. Η μέθοδος σάρωσης πλήρους δείγματος τριών αξόνων XYZ του συστήματος εξασφαλίζει ολοκληρωμένη και ακριβή σάρωση σε ολόκληρη την επιφάνεια του δείγματος, παρέχοντας ακριβή τοπογραφικά και λειτουργικά δεδομένα ιδιοτήτων.

Η ανάλυση δειγματοληψίας εικόνας του μικροσκοπίου ατομικής δύναμης βασικού τύπου είναι εξαιρετικά προσαρμόσιμη, που κυμαίνεται από 32*32 σημεία έως εντυπωσιακά 4096*4096 σημεία. Αυτή η εκτεταμένη σειρά επιτρέπει στους χρήστες να ισορροπούν μεταξύ της ταχύτητας σάρωσης και της λεπτομέρειας της εικόνας, ανάλογα με τις πειραματικές τους απαιτήσεις. Η απεικόνιση υψηλής ανάλυσης είναι απαραίτητη για την αποτύπωση μικροσκοπικών χαρακτηριστικών της επιφάνειας και την κατανόηση φαινομένων νανοκλίμακας, κάτι που είναι ζωτικής σημασίας τόσο για την ακαδημαϊκή έρευνα όσο και για την ανάπτυξη βιομηχανικών προϊόντων.

Εκτός από τις πολυλειτουργικές του δυνατότητες μέτρησης και τις ευέλικτες επιλογές απεικόνισης, αυτό το μοντέλο AFM ενσωματώνει προηγμένη τεχνολογία προστασίας άκρων, ειδικά τη λειτουργία ασφαλούς εισαγωγής βελόνας. Αυτό το καινοτόμο χαρακτηριστικό προστατεύει τους ευαίσθητους ανιχνευτές AFM κατά την εμπλοκή και τη σάρωση, μειώνοντας σημαντικά τον κίνδυνο ζημιάς στο άκρο και διασφαλίζοντας σταθερή ποιότητα μέτρησης. Η ασφαλής λειτουργία εισαγωγής βελόνας ενισχύει την αξιοπιστία και τη μακροζωία του οργάνου, κάτι που είναι ιδιαίτερα σημαντικό για περιβάλλοντα βιομηχανικής έρευνας υψηλής απόδοσης.

Σχεδιασμένο με γνώμονα τη σταθερότητα και την ακρίβεια, το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης Βασικού τύπου προσφέρει απόδοση AFM υψηλής σταθερότητας που ελαχιστοποιεί τον θόρυβο και τη μετατόπιση κατά τη διάρκεια των μετρήσεων. Αυτή η σταθερότητα είναι κρίσιμη για τη λήψη αναπαραγώγιμων και ακριβών δεδομένων, ειδικά κατά τη διεξαγωγή ευαίσθητων μετρήσεων όπως η μικροσκοπία δύναμης ανιχνευτή Kelvin ή η μικροσκοπία πιεζοηλεκτρικής δύναμης. Η στιβαρή κατασκευή και τα προηγμένα συστήματα ελέγχου καθιστούν αυτό το AFM ένα αξιόπιστο όργανο για μακροπρόθεσμες επιστημονικές έρευνες και βιομηχανικά έργα Ε&Α.

Ως AFM για επιστημονική έρευνα, αυτό το μοντέλο υποστηρίζει ένα ευρύ φάσμα πειραματικών αναγκών, από τον βασικό χαρακτηρισμό της επιφάνειας έως τη σύνθετη χαρτογράφηση λειτουργικών ιδιοτήτων. Οι ερευνητές μπορούν να εξερευνήσουν ηλεκτρικές, μαγνητικές και πιεζοηλεκτρικές ιδιότητες σε νανοκλίμακα με ευκολία, χάρη στους ενσωματωμένους πολυλειτουργικούς τρόπους μέτρησης. Επιπλέον, η φιλική προς τον χρήστη διεπαφή και τα ευέλικτα εργαλεία λογισμικού διευκολύνουν την απόκτηση, την ανάλυση και την οπτικοποίηση δεδομένων, βελτιστοποιώντας τη ροή εργασιών της έρευνας.

Σε βιομηχανικές ρυθμίσεις Ε&Α, το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης βασικού τύπου χρησιμεύει ως κρίσιμο μικροσκόπιο για ποιοτικό έλεγχο, ανάπτυξη υλικών και ανάλυση αστοχιών. Η πολυλειτουργικότητά του μειώνει την ανάγκη για πολλαπλά ξεχωριστά όργανα, εξοικονομώντας χώρο εργαστηρίου και λειτουργικό κόστος. Η υψηλή σταθερότητα και η ακρίβεια αυτού του AFM το καθιστούν εξαιρετική επιλογή για την ανάπτυξη υλικών και συσκευών επόμενης γενιάς όπου οι ιδιότητες νανοκλίμακας επηρεάζουν άμεσα την απόδοση του προϊόντος.

Συνολικά, το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης βασικού τύπου συνδυάζει πολυλειτουργικότητα, απεικόνιση υψηλής ανάλυσης, ευελιξία δειγμάτων και προηγμένη προστασία άκρων για να προσφέρει μια ολοκληρωμένη λύση για ανάλυση επιφάνειας νανοκλίμακας. Είτε χρησιμοποιείται σε ακαδημαϊκά εργαστήρια είτε σε εγκαταστάσεις βιομηχανικής έρευνας, ξεχωρίζει ως ένα αξιόπιστο, υψηλής σταθερότητας AFM που ικανοποιεί τις απαιτητικές απαιτήσεις της σύγχρονης επιστημονικής έρευνας και της βιομηχανικής καινοτομίας.

Χαρακτηριστικά:

• Όνομα προϊόντος: Μικροσκόπιο ατομικής δύναμης βασικού τύπου
• Σημεία δειγματοληψίας εικόνων: 32*32 έως 4096*4096
• Τρόποι λειτουργίας: Λειτουργία πατήματος, Λειτουργία επαφής, Λειτουργία ανύψωσης, Λειτουργία απεικόνισης φάσης
• Πολυλειτουργικές μετρήσεις:
  • Ηλεκτροστατικό μικροσκόπιο δύναμης (EFM)
  • Μικροσκόπιο σάρωσης Kelvin (KPFM)
  • Πιεζοηλεκτρικό Μικροσκόπιο Δύναμης (PFM)
  • Μικροσκόπιο Μαγνητικής Δύναμης (MFM)
• Μέθοδος σάρωσης: Σάρωση πλήρους δείγματος τριών αξόνων XYZ
• Εύρος σάρωσης:
  • 100 μm * 100 μm * 10 μm
  • 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Ιδανικό για χαρακτηρισμό επιφάνειας υλικού και ανάλυση υφής επιφάνειας
• Επιτρέπει την απεικόνιση τοπογραφίας νανοκλίμακας υψηλής ανάλυσης

Τεχνικές Παράμετροι:

Εφαρμογές:

Το Truth Instruments AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) είναι ένα προηγμένο μικροσκόπιο νανοκλίμακας σχεδιασμένο για ανάλυση υφής επιφάνειας υψηλής ακρίβειας και απεικόνιση τοπογραφίας νανοκλίμακας. Με καταγωγή από την Κίνα, αυτό το ευέλικτο όργανο εξυπηρετεί ένα ευρύ φάσμα ερευνητικών και βιομηχανικών εφαρμογών, προσφέροντας πολυλειτουργικές δυνατότητες μέτρησης, όπως το Ηλεκτροστατικό Μικροσκόπιο Δύναμης (EFM), το Μικροσκόπιο Σάρωσης Kelvin Probe (KPFM), το Piezoelectric Force Microscopy (PFM) και το Magnetic Force Microscopy (PFM). Αυτά τα χαρακτηριστικά καθιστούν το AtomExplorer ένα απαραίτητο εργαλείο για επιστήμονες και μηχανικούς που εργάζονται με υλικά και επιφάνειες νανοκλίμακας.

Μία από τις κύριες περιπτώσεις εφαρμογής του AtomExplorer είναι σε εργαστήρια επιστήμης υλικών όπου η λεπτομερής ανάλυση υφής επιφάνειας είναι ζωτικής σημασίας. Οι ερευνητές μπορούν να χρησιμοποιήσουν την απεικόνιση υψηλής ανάλυσης για να μελετήσουν τη μορφολογία και τις ιδιότητες διαφόρων υλικών σε νανοκλίμακα, επιτρέποντας καινοτομίες στη νανοτεχνολογία, την έρευνα ημιαγωγών και τον χαρακτηρισμό λεπτής μεμβράνης. Η χωρητικότητα μεγέθους δείγματος του οργάνου Φ 25 mm και το εύρος σάρωσης 100 μm * 100 μm * 10 μm ή 30 μm * 30 μm * 5 μm φιλοξενούν μια ποικιλία δειγμάτων, καθιστώντας το ιδανικό για ανάλυση μικροηλεκτρονικών εξαρτημάτων, πολυμερών και βιοϋλικών.

Σε περιβάλλοντα ακαδημαϊκής και βιομηχανικής έρευνας, το AtomExplorer διευκολύνει την ολοκληρωμένη απεικόνιση τοπογραφίας νανοκλίμακας, παρέχοντας λεπτομερείς τρισδιάστατους χάρτες επιφανειών με σημεία δειγματοληψίας εικόνων που κυμαίνονται από 32*32 έως 4096*4096. Αυτή η ικανότητα επιτρέπει την ακριβή απεικόνιση και μέτρηση των χαρακτηριστικών της επιφάνειας, απαραίτητα για τον ποιοτικό έλεγχο, την ανάλυση αστοχιών και την καινοτομία στη νανοκατασκευή. Επιπλέον, η ενσωμάτωση της τεχνολογίας προστασίας άκρων, όπως η λειτουργία ασφαλούς εισαγωγής βελόνας, εξασφαλίζει μακροζωία και αξιοπιστία κατά τις λεπτές διαδικασίες σάρωσης.

Η πολυλειτουργική φύση του AtomExplorer επιτρέπει τη χρήση του σε διάφορα σενάρια, συμπεριλαμβανομένων μετρήσεων ηλεκτροστατικών και μαγνητικών ιδιοτήτων, καθιστώντας το πολύτιμο για τη μελέτη ηλεκτρονικών συσκευών, μαγνητικών υλικών και πιεζοηλεκτρικών εξαρτημάτων. Ο φιλικός προς τον χρήστη σχεδιασμός και οι προσαρμόσιμες παράμετροι σάρωσης το καθιστούν κατάλληλο για συνήθη εργαστηριακή χρήση καθώς και για προηγμένα ερευνητικά έργα. Με τιμή διαπραγματεύσιμη κατόπιν επικοινωνίας, το Truth Instruments AtomExplorer προσφέρει μια οικονομικά αποδοτική αλλά ισχυρή λύση για τις ανάγκες μικροσκοπίας νανοκλίμακας, στερεώνοντας τη θέση του ως θεμελιώδους εργαλείου για ανάλυση υφής επιφάνειας και απεικόνιση τοπογραφίας νανοκλίμακας σε διάφορους επιστημονικούς και βιομηχανικούς τομείς.