AtomExplorer: Alat Topografi Presisi Untuk Chip & Nanomaterial

Deskripsi produk:

Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar (AFM) adalah instrumen serbaguna dan berkinerja tinggi yang dirancang untuk memenuhi beragam kebutuhan penelitian ilmiah dan aplikasi R&D industri.AFM multifungsi ini dilengkapi dengan mode pengukuran canggih, termasuk Elektrostatik Force Microscopy (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM), dan Magnetic Force Microscopy (MFM).Kemampuan ini memungkinkan peneliti dan insinyur untuk melakukan berbagai analisis permukaan nanoskala, menjadikannya alat yang sangat diperlukan untuk ilmu material, penelitian semikonduktor, dan pengembangan nanoteknologi.

Salah satu fitur menonjol dari AFM tipe Basic ini adalah kemampuannya untuk menampung sampel hingga Φ 25 mm ukuran, menyediakan ruang yang cukup untuk berbagai jenis spesimen.,lapisan, atau bahan bulk, pengguna dapat dengan percaya diri menganalisis sampel mereka tanpa khawatir tentang batasan ukuran.Sistem XYZ metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu memastikan pemindaian yang komprehensif dan tepat di seluruh permukaan sampel, memberikan data properti topografi dan fungsional yang akurat.

Resolusi pengambilan sampel gambar dari Mikroskop Kekuatan Atom tipe Basic sangat dapat disesuaikan, mulai dari 32*32 poin hingga 4096*4096 poin yang mengesankan.Jangkauan yang luas ini memungkinkan pengguna untuk menyeimbangkan antara kecepatan pemindaian dan detail gambar, tergantung pada kebutuhan eksperimental mereka. pencitraan resolusi tinggi sangat penting untuk menangkap fitur permukaan kecil dan memahami fenomena nanoscale,yang sangat penting dalam penelitian akademis dan pengembangan produk industri.

Selain kemampuan pengukuran multifungsi dan pilihan pencitraan yang fleksibel, model AFM ini menggabungkan teknologi perlindungan ujung canggih, khususnya Safe Needle Insertion Mode.Fitur inovatif ini melindungi probe AFM yang sensitif selama pertempuran dan pemindaian, yang secara signifikan mengurangi risiko kerusakan ujung dan memastikan kualitas pengukuran yang konsisten.yang sangat penting untuk lingkungan penelitian industri dengan throughput tinggi.

Dirancang dengan stabilitas dan presisi dalam pikiran, Mikroskop Angkatan Atom tipe Basic menawarkan kinerja AFM stabilitas tinggi yang meminimalkan kebisingan dan drift selama pengukuran.Stabilitas ini sangat penting untuk mendapatkan data yang dapat direproduksi dan akurat, terutama ketika melakukan pengukuran sensitif seperti mikroskop kekuatan probe Kelvin atau mikroskop kekuatan piezoelektrik.Konstruksi yang kuat dan sistem kontrol canggih membuat AFM ini instrumen yang dapat diandalkan untuk penyelidikan ilmiah jangka panjang dan proyek R & D industri.

Sebagai AFM untuk penelitian ilmiah, model ini mendukung spektrum luas kebutuhan eksperimental, dari karakteristik permukaan dasar untuk pemetaan properti fungsional yang kompleks.Peneliti dapat mengeksplorasi listrik, sifat magnetik, dan piezoelektrik pada skala nano dengan mudah, berkat mode pengukuran multifungsi yang terintegrasi.antarmuka yang user-friendly dan alat perangkat lunak serbaguna memfasilitasi akuisisi data, analisis, dan visualisasi, merampingkan alur kerja penelitian.

Dalam pengaturan R&D industri, Mikroskop Kekuatan Atom tipe Basic berfungsi sebagai mikroskop kritis untuk kontrol kualitas, pengembangan bahan, dan analisis kegagalan.Multifungsionalitasnya mengurangi kebutuhan untuk beberapa instrumen terpisah, menghemat ruang laboratorium dan biaya operasional.Stabilitas dan presisi tinggi dari AFM ini menjadikannya pilihan yang sangat baik untuk mengembangkan bahan dan perangkat generasi berikutnya di mana sifat nanoscale secara langsung mempengaruhi kinerja produk.

Secara keseluruhan, Mikroskop Kekuatan Atom tipe Basic menggabungkan multifungsi, pencitraan resolusi tinggi, fleksibilitas sampel,dan perlindungan ujung canggih untuk memberikan solusi komprehensif untuk analisis permukaan nanoscaleApakah digunakan di laboratorium akademis atau fasilitas penelitian industri, ia menonjol sebagai yang dapat diandalkan,stabilitas tinggi AFM yang memenuhi persyaratan menuntut penelitian ilmiah modern dan inovasi industri.

Fitur:

• Nama produk: Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar
• Titik Sampling Gambar: 32*32 sampai 4096*4096
• Mode Operasi: Mode Tap, Mode Kontak, Mode Lift, Mode Pembuatan Gambar Fase
• Pengukuran multifungsi:
  • Mikroskop Kekuatan Elektrostatik (EFM)
  • Scanning Kelvin Microscope (KPFM)
  • Mikroskop Kekuatan Piezoelektrik (PFM)
  • Mikroskop Kekuatan Magnetik (MFM)
• Metode pemindaian: XYZ Pemindaian Sampel Seluruh Tiga sumbu
• Jangkauan pemindaian:
  • 100 μm * 100 μm * 10 μm
  • 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Ideal untuk karakteristik permukaan material dan analisis tekstur permukaan
• Memungkinkan pencitraan topografi beresolusi tinggi pada skala nano

Parameter teknis:

Aplikasi:

The Truth Instruments AtomExplorer Atomic Force Microscope (AFM) tipe dasar adalah mikroskop nanoskala canggih yang dirancang untuk analisis tekstur permukaan presisi tinggi dan pencitraan topografi nanoskala.Berasal dari Cina, instrumen serbaguna ini melayani berbagai aplikasi penelitian dan industri, menawarkan kemampuan pengukuran multifungsi termasuk Electrostatic Force Microscope (EFM),Pemindaian Mikroskopi Probe Kelvin (KPFM), Mikroskopi Kekuatan Piezoelektrik (PFM), dan Mikroskopi Kekuatan Magnetik (MFM).Fitur-fitur ini membuat AtomExplorer menjadi alat yang sangat diperlukan bagi para ilmuwan dan insinyur yang bekerja dengan bahan dan permukaan berskala nano.

Salah satu kesempatan aplikasi utama untuk AtomExplorer adalah di laboratorium ilmu material di mana analisis tekstur permukaan yang rinci sangat penting.Para peneliti dapat menggunakan pencitraan resolusi tinggi untuk mempelajari morfologi dan sifat berbagai bahan pada skala nanometer, memungkinkan terobosan dalam nanoteknologi, penelitian semikonduktor, dan karakterisasi film tipis.Kapasitas ukuran sampel instrumen Φ 25 mm dan rentang pemindaian 100 μm * 100 μm * 10 μm atau 30 μm * 30 μm * 5 μm mengakomodasi berbagai sampel, membuatnya ideal untuk menganalisis komponen mikroelektronik, polimer, dan biomaterial.

Dalam pengaturan penelitian akademis dan industri, AtomExplorer memfasilitasi pencitraan topografi nanoscale yang komprehensif,menyediakan peta permukaan 3D rinci dengan titik pengambilan sampel gambar mulai dari 32*32 sampai 4096*4096Kemampuan ini memungkinkan untuk visualisasi yang tepat dan pengukuran fitur permukaan, penting untuk kontrol kualitas, analisis kegagalan, dan inovasi dalam nanofabrikasi.termasuk teknologi perlindungan ujung seperti Safe Needle Insertion Mode memastikan umur panjang dan keandalan selama proses pemindaian yang halus.

Sifat multifungsi AtomExplorer memungkinkan penggunaannya dalam berbagai skenario termasuk pengukuran sifat elektrostatik dan magnetik, menjadikannya berharga untuk mempelajari perangkat elektronik,bahan magnetik, dan komponen piezoelektrik. Desain yang ramah pengguna dan parameter pemindaian yang dapat disesuaikan membuatnya cocok untuk penggunaan laboratorium rutin serta proyek penelitian lanjutan.Dengan harga yang dapat dinegosiasikan saat kontak, Truth Instruments AtomExplorer menawarkan solusi yang hemat biaya namun kuat untuk kebutuhan mikroskop skala nano,memperkuat posisinya sebagai instrumen mendasar untuk analisis tekstur permukaan dan pencitraan topografi skala nano di berbagai bidang ilmiah dan industri.