AtomExplorer: ferramenta de topografia de precisão para chips e nanomateriais

Descrição do Produto:

O Microscópio de Força Atômica (AFM) do tipo Básico é um instrumento versátil e de alto desempenho projetado para atender às diversas necessidades de pesquisa científica e aplicações de P&D industrial. Este AFM multifuncional está equipado com modos de medição avançados, incluindo Microscopia de Força Eletrostática (EFM), Microscopia de Força de Sonda Kelvin (KPFM), Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM) e Microscopia de Força Magnética (MFM). Essas capacidades permitem que pesquisadores e engenheiros conduzam uma ampla gama de análises de superfície em nanoescala, tornando-o uma ferramenta indispensável para ciência de materiais, pesquisa em semicondutores e desenvolvimento de nanotecnologia.

Uma das características de destaque deste AFM do tipo Básico é sua capacidade de acomodar amostras de até Φ 25 mm de tamanho, proporcionando amplo espaço para uma variedade de tipos de espécimes. Seja trabalhando com filmes finos, revestimentos ou materiais a granel, os usuários podem analisar com confiança suas amostras sem se preocupar com restrições de tamanho. O método de varredura de amostra completa de três eixos XYZ do sistema garante uma varredura abrangente e precisa em toda a superfície da amostra, fornecendo dados precisos de propriedades topográficas e funcionais.

A resolução de amostragem de imagem do Microscópio de Força Atômica do tipo Básico é altamente personalizável, variando de apenas 32*32 pontos a impressionantes 4096*4096 pontos. Essa ampla gama permite que os usuários equilibrem a velocidade de varredura e os detalhes da imagem, dependendo de seus requisitos experimentais. A imagem de alta resolução é essencial para capturar minúsculas características da superfície e entender os fenômenos em nanoescala, o que é crucial tanto na pesquisa acadêmica quanto no desenvolvimento de produtos industriais.

Além de suas capacidades de medição multifuncionais e opções de imagem flexíveis, este modelo de AFM incorpora tecnologia avançada de proteção da ponta, especificamente o Modo de Inserção Segura da Agulha. Este recurso inovador protege as delicadas sondas AFM durante o engajamento e a varredura, reduzindo significativamente o risco de danos à ponta e garantindo a qualidade consistente da medição. O modo de inserção segura da agulha aprimora a confiabilidade e a longevidade do instrumento, o que é particularmente importante para ambientes de pesquisa industrial de alto rendimento.

Projetado com estabilidade e precisão em mente, o Microscópio de Força Atômica do tipo Básico oferece desempenho AFM de alta estabilidade que minimiza ruído e deriva durante as medições. Essa estabilidade é fundamental para obter dados reproduzíveis e precisos, especialmente ao realizar medições sensíveis, como microscopia de força de sonda Kelvin ou microscopia de força piezoelétrica. A construção robusta e os sistemas de controle avançados tornam este AFM um instrumento confiável para investigações científicas de longo prazo e projetos de P&D industrial.

Como um AFM para pesquisa científica, este modelo suporta um amplo espectro de necessidades experimentais, desde a caracterização fundamental da superfície até o mapeamento complexo de propriedades funcionais. Os pesquisadores podem explorar propriedades elétricas, magnéticas e piezoelétricas em nanoescala com facilidade, graças aos modos de medição multifuncionais integrados. Além disso, sua interface amigável e ferramentas de software versáteis facilitam a aquisição, análise e visualização de dados, simplificando o fluxo de trabalho da pesquisa.

Em configurações de P&D industrial, o Microscópio de Força Atômica do tipo Básico serve como um microscópio crítico para controle de qualidade, desenvolvimento de materiais e análise de falhas. Sua multifuncionalidade reduz a necessidade de vários instrumentos separados, economizando espaço de laboratório e custos operacionais. A alta estabilidade e precisão deste AFM o tornam uma excelente escolha para o desenvolvimento de materiais e dispositivos de última geração, onde as propriedades em nanoescala impactam diretamente o desempenho do produto.

No geral, o Microscópio de Força Atômica do tipo Básico combina multifuncionalidade, imagem de alta resolução, versatilidade de amostra e proteção avançada da ponta para fornecer uma solução abrangente para análise de superfície em nanoescala. Seja usado em laboratórios acadêmicos ou instalações de pesquisa industrial, ele se destaca como um AFM confiável e de alta estabilidade que atende aos exigentes requisitos da pesquisa científica moderna e da inovação industrial.

Características:

• Nome do Produto: Microscópio de Força Atômica do tipo Básico
• Pontos de Amostragem de Imagem: 32*32 a 4096*4096
• Modos de Operação: Modo Tap, Modo Contato, Modo Lift, Modo de Imagem de Fase
• Medições Multifuncionais:
  • Microscópio de Força Eletrostática (EFM)
  • Microscópio Kelvin de Varredura (KPFM)
  • Microscópio de Força Piezoelétrica (PFM)
  • Microscópio de Força Magnética (MFM)
• Método de Varredura: Varredura de Amostra Completa de Três Eixos XYZ
• Faixa de Varredura:
  • 100 μm * 100 μm * 10 μm
  • 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Ideal para caracterização da superfície do material e análise da textura da superfície
• Permite imagem de topografia em nanoescala de alta resolução

Parâmetros Técnicos:

Aplicações:

O Microscópio de Força Atômica (AFM) do tipo Básico AtomExplorer da Truth Instruments é um microscópio em nanoescala avançado projetado para análise de textura de superfície de alta precisão e imagem de topografia em nanoescala. Originário da China, este instrumento versátil atende a uma ampla gama de aplicações de pesquisa e industriais, oferecendo capacidades de medição multifuncionais, incluindo Microscópio de Força Eletrostática (EFM), Microscopia de Sonda Kelvin de Varredura (KPFM), Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM) e Microscopia de Força Magnética (MFM). Esses recursos tornam o AtomExplorer uma ferramenta indispensável para cientistas e engenheiros que trabalham com materiais e superfícies em nanoescala.

Uma das principais ocasiões de aplicação para o AtomExplorer é em laboratórios de ciência de materiais, onde a análise detalhada da textura da superfície é crucial. Os pesquisadores podem utilizar sua imagem de alta resolução para estudar a morfologia e as propriedades de vários materiais em nanoescala, permitindo avanços em nanotecnologia, pesquisa em semicondutores e caracterização de filmes finos. A capacidade de tamanho de amostra do instrumento de Φ 25 mm e as faixas de varredura de 100 μm * 100 μm * 10 μm ou 30 μm * 30 μm * 5 μm acomodam uma ampla variedade de amostras, tornando-o ideal para analisar componentes microeletrônicos, polímeros e biomateriais.

Em configurações de pesquisa acadêmica e industrial, o AtomExplorer facilita a imagem de topografia em nanoescala abrangente, fornecendo mapas de superfície 3D detalhados com pontos de amostragem de imagem variando de 32*32 a 4096*4096. Essa capacidade permite a visualização e medição precisas de características da superfície, essencial para controle de qualidade, análise de falhas e inovação em nanofabricação. Além disso, a inclusão de tecnologia de proteção da ponta, como o Modo de Inserção Segura da Agulha, garante a longevidade e a confiabilidade durante os delicados processos de varredura.

A natureza multifuncional do AtomExplorer permite seu uso em diversos cenários, incluindo medições de propriedades eletrostáticas e magnéticas, tornando-o valioso para estudar dispositivos eletrônicos, materiais magnéticos e componentes piezoelétricos. Seu design amigável e parâmetros de varredura personalizáveis o tornam adequado para uso laboratorial de rotina, bem como para projetos de pesquisa avançados. Com preço negociável mediante contato, o AtomExplorer da Truth Instruments oferece uma solução econômica, mas poderosa, para necessidades de microscopia em nanoescala, solidificando seu lugar como um instrumento fundamental para análise de textura de superfície e imagem de topografia em nanoescala em vários domínios científicos e industriais.