AtomExplorer: outil de topographie de précision pour puces et nanomatériaux

Description du produit:

Le microscope de force atomique de type de base (AFM) est un instrument polyvalent et performant conçu pour répondre aux divers besoins de la recherche scientifique et des applications industrielles de R&D.Cet AFM multifonctionnel est équipé de modes de mesure avancés, y compris la microscopie par force électrostatique (EFM), la microscopie par force de sonde à balayage Kelvin (KPFM), la microscopie par force piézoélectrique (PFM) et la microscopie par force magnétique (MFM).Ces capacités permettent aux chercheurs et aux ingénieurs de réaliser un large éventail d'analyses de surface à l'échelle nanométrique., ce qui en fait un outil indispensable pour la science des matériaux, la recherche sur les semi-conducteurs et le développement des nanotechnologies.

L'une des caractéristiques les plus remarquables de ce AFM de type Basic est sa capacité à accueillir des échantillons jusqu'à Φ 25 mm de taille, offrant un espace suffisant pour une variété de types d'échantillons.,Les utilisateurs peuvent analyser leurs échantillons en toute confiance sans se soucier des contraintes de taille.La méthode de balayage à échantillon complet XYZ à trois axes du système assure un balayage complet et précis sur toute la surface de l'échantillon., fournissant des données de propriétés topographiques et fonctionnelles précises.

La résolution d'échantillonnage de l'image du microscope de force atomique de type Basic est hautement personnalisable, allant de 32*32 points à 4096*4096 points.Cette large plage permet aux utilisateurs d'équilibrer la vitesse de numérisation et le détail de l'imageL'imagerie haute résolution est essentielle pour capturer les caractéristiques de surface minuscules et comprendre les phénomènes à l'échelle nanométrique.qui est crucial à la fois dans la recherche académique et le développement de produits industriels.

En plus de ses capacités de mesure multifonctionnelles et de ses options d'imagerie flexibles, ce modèle AFM intègre une technologie de protection de pointe avancée, en particulier le mode d'insertion de l'aiguille en toute sécurité.Cette fonctionnalité innovante protège les sondes AFM délicates lors de l'engagement et du balayageLe mode d'insertion de l'aiguille en toute sécurité améliore la fiabilité et la longévité de l'instrument,qui est particulièrement important pour les environnements de recherche industrielle à haut débit.

Conçu en gardant à l'esprit la stabilité et la précision, le microscope de force atomique de type Basic offre des performances AFM de haute stabilité qui minimisent le bruit et la dérive pendant les mesures.Cette stabilité est essentielle pour obtenir des données reproductibles et précises, en particulier lors de la réalisation de mesures sensibles telles que la microscopie par force de sonde Kelvin ou la microscopie par force piézoélectrique.La construction robuste et les systèmes de contrôle avancés font de cet AFM un instrument fiable pour les recherches scientifiques à long terme et les projets de R & D industriels.

En tant qu'AFM pour la recherche scientifique, ce modèle prend en charge un large éventail de besoins expérimentaux, de la caractérisation fondamentale de la surface à la cartographie complexe des propriétés fonctionnelles.Les chercheurs peuvent explorerLes propriétés magnétiques et piézoélectriques à l'échelle nanométrique sont facilement détectées grâce aux modes de mesure multifonctionnels intégrés.son interface conviviale et ses outils logiciels polyvalents facilitent l'acquisition de données, l'analyse et la visualisation, rationalisant le flux de travail de la recherche.

Dans le cadre de la R&D industrielle, le microscope de force atomique de type Basic sert de microscope critique pour le contrôle de la qualité, le développement de matériaux et l'analyse des défaillances.Sa multifonctionnalité réduit le besoin de plusieurs instruments distincts, ce qui permet d'économiser de l'espace de laboratoire et des coûts opérationnels.La haute stabilité et la précision de cet AFM en font un excellent choix pour le développement de matériaux et de dispositifs de nouvelle génération où les propriétés à l'échelle nanométrique ont un impact direct sur les performances du produit.

Dans l'ensemble, le microscope de force atomique de type Basic combine la multi-fonctionnalité, l'imagerie haute résolution, la polyvalence des échantillons,et une protection avancée de la pointe pour fournir une solution complète pour l'analyse de surface à l'échelle nanométriqueQu'il soit utilisé dans des laboratoires universitaires ou dans des installations de recherche industrielle, il se distingue par sa fiabilité, son efficacité et son efficacité.AFM à haute stabilité répondant aux exigences exigeantes de la recherche scientifique moderne et de l'innovation industrielle.

Caractéristiques:

• Nom du produit: Microscope de force atomique de type de base
• Points d'échantillonnage d'image: 32*32 à 4096*4096
• Mode de fonctionnement: mode de toucher, mode de contact, mode de levage, mode d'imagerie de phase
• Mesures multifonctionnelles:
  • Microscope de force électrostatique (MEF)
  • Microscope à balayage Kelvin (KPFM)
  • Microscope de force piézoélectrique (PFM)
  • Microscope à force magnétique (MFM)
• Méthode de numérisation: numérisation complète à trois axes XYZ
• Portée de balayage:
  • 100 μm * 100 μm * 10 μm
  • 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Idéal pour la caractérisation de la surface du matériau et l'analyse de la texture de surface
• Permet l'imagerie topographique à l'échelle nanométrique à haute résolution

Paramètres techniques:

Applications:

Le microscope de force atomique de type de base (AFM) de Truth Instruments AtomExplorer est un microscope à l'échelle nanométrique avancé conçu pour l'analyse de la texture de surface de haute précision et l'imagerie topographique à l'échelle nanométrique.D'origine chinoise, cet instrument polyvalent répond à un large éventail d'applications en recherche et dans l'industrie, offrant des capacités de mesure multifonctionnelles, notamment le microscope à force électrostatique (EFM),Microscopie par sonde à scanner Kelvin (KPFM), la microscopie par force piézoélectrique (PFM) et la microscopie par force magnétique (MFM).Ces caractéristiques font de l'AtomExplorer un outil indispensable pour les scientifiques et les ingénieurs travaillant avec des matériaux et des surfaces à l'échelle nanométrique.

L'une des principales applications de l'AtomExplorer est dans les laboratoires de sciences des matériaux où l'analyse détaillée de la texture de surface est cruciale.Les chercheurs peuvent utiliser ses images haute résolution pour étudier la morphologie et les propriétés de divers matériaux à l'échelle nanométrique, permettant des percées dans les domaines de la nanotechnologie, de la recherche sur les semi-conducteurs et de la caractérisation des films minces.La capacité de taille de l'échantillon de l'instrument de Φ 25 mm et les plages de balayage de 100 μm * 100 μm * 10 μm ou 30 μm * 30 μm * 5 μm accueillent une gamme diversifiée d'échantillons, ce qui le rend idéal pour l'analyse de composants microélectroniques, de polymères et de biomatériaux.

Dans les milieux de recherche académique et industrielle, l'AtomExplorer facilite l'imagerie topographique complète à l'échelle nanométrique,fournissant des cartes de surface 3D détaillées avec des points d'échantillonnage d'images allant de 32*32 à 4096*4096Cette capacité permet une visualisation et une mesure précises des caractéristiques de surface, essentielles pour le contrôle de la qualité, l'analyse des défaillances et l'innovation dans la nanofabrication.l'inclusion d'une technologie de protection de la pointe telle que le mode d'insertion de l'aiguille sécurisée garantit la longévité et la fiabilité lors de processus de numérisation délicats.

La nature multifonctionnelle de l'AtomExplorer permet son utilisation dans divers scénarios, y compris les mesures des propriétés électrostatiques et magnétiques, ce qui le rend précieux pour l'étude des appareils électroniques,matériaux magnétiquesSa conception conviviale et ses paramètres de balayage personnalisables le rendent adapté à une utilisation de laboratoire de routine ainsi qu'à des projets de recherche avancés.Avec un prix négociable au contact, l'AtomExplorer de Truth Instruments offre une solution rentable mais puissante pour les besoins de microscopie à l'échelle nanométrique,consolider sa place en tant qu'instrument fondamental pour l'analyse de la texture de surface et l'imagerie topographique à l'échelle nanométrique dans divers domaines scientifiques et industriels.