AtomExplorer: Công cụ Khảo sát Địa hình Chính xác cho Chip & Vật liệu Nano

Mô tả sản phẩm:

Kính hiển vi lực nguyên tử loại cơ bản (AFM) là một thiết bị linh hoạt và hiệu suất cao được thiết kế để đáp ứng nhu cầu đa dạng của nghiên cứu khoa học và ứng dụng R&D công nghiệp. AFM đa chức năng này được trang bị các chế độ đo tiên tiến, bao gồm Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi lực thăm dò Kelvin quét (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM) và Kính hiển vi lực từ (MFM). Những khả năng này cho phép các nhà nghiên cứu và kỹ sư thực hiện nhiều phân tích bề mặt ở quy mô nano, khiến nó trở thành công cụ không thể thiếu cho khoa học vật liệu, nghiên cứu chất bán dẫn và phát triển công nghệ nano.

Một trong những tính năng nổi bật của AFM loại Cơ bản này là khả năng chứa các mẫu có kích thước lên tới Φ 25 mm, cung cấp không gian rộng rãi cho nhiều loại mẫu vật khác nhau. Dù làm việc với màng mỏng, lớp phủ hay vật liệu rời, người dùng có thể tự tin phân tích mẫu của mình mà không phải lo lắng về giới hạn kích thước. Phương pháp quét toàn mẫu ba trục XYZ của hệ thống đảm bảo quét toàn diện và chính xác trên toàn bộ bề mặt mẫu, cung cấp dữ liệu đặc tính chức năng và địa hình chính xác.

Độ phân giải lấy mẫu hình ảnh của Kính hiển vi lực nguyên tử loại Cơ bản có khả năng tùy chỉnh cao, từ mức thấp nhất là 32*32 điểm đến mức ấn tượng 4096*4096 điểm. Phạm vi rộng này cho phép người dùng cân bằng giữa tốc độ quét và chi tiết hình ảnh, tùy thuộc vào yêu cầu thử nghiệm của họ. Hình ảnh có độ phân giải cao là điều cần thiết để ghi lại các đặc điểm bề mặt nhỏ và hiểu các hiện tượng ở cấp độ nano, điều này rất quan trọng trong cả nghiên cứu học thuật và phát triển sản phẩm công nghiệp.

Ngoài khả năng đo đa chức năng và các tùy chọn hình ảnh linh hoạt, mẫu AFM này còn tích hợp công nghệ bảo vệ đầu kim tiên tiến, đặc biệt là Chế độ chèn kim an toàn. Tính năng cải tiến này bảo vệ các đầu dò AFM nhạy cảm trong quá trình gắn và quét, giảm đáng kể nguy cơ hư hỏng đầu dò và đảm bảo chất lượng đo nhất quán. Chế độ chèn kim an toàn giúp nâng cao độ tin cậy và tuổi thọ của thiết bị, điều này đặc biệt quan trọng đối với môi trường nghiên cứu công nghiệp năng suất cao.

Được thiết kế chú trọng đến độ ổn định và độ chính xác, Kính hiển vi lực nguyên tử loại Cơ bản mang lại hiệu suất AFM có độ ổn định cao giúp giảm thiểu tiếng ồn và độ lệch trong quá trình đo. Độ ổn định này rất quan trọng để thu được dữ liệu chính xác và có thể tái tạo, đặc biệt khi tiến hành các phép đo nhạy cảm như kính hiển vi lực thăm dò Kelvin hoặc kính hiển vi lực áp điện. Cấu trúc chắc chắn và hệ thống điều khiển tiên tiến làm cho AFM này trở thành một công cụ đáng tin cậy cho các nghiên cứu khoa học dài hạn và các dự án R&D công nghiệp.

Là một AFM dành cho nghiên cứu khoa học, mô hình này hỗ trợ nhiều nhu cầu thử nghiệm, từ đặc tính bề mặt cơ bản đến lập bản đồ đặc tính chức năng phức tạp. Các nhà nghiên cứu có thể khám phá các đặc tính điện, từ và áp điện ở cấp độ nano một cách dễ dàng nhờ các chế độ đo đa chức năng tích hợp. Ngoài ra, giao diện thân thiện với người dùng và các công cụ phần mềm linh hoạt tạo điều kiện thuận lợi cho việc thu thập, phân tích và trực quan hóa dữ liệu, hợp lý hóa quy trình nghiên cứu.

Trong môi trường R&D công nghiệp, Kính hiển vi lực nguyên tử loại cơ bản đóng vai trò là kính hiển vi quan trọng để kiểm soát chất lượng, phát triển vật liệu và phân tích lỗi. Tính đa chức năng của nó làm giảm nhu cầu sử dụng nhiều thiết bị riêng biệt, tiết kiệm cả không gian phòng thí nghiệm và chi phí vận hành. Độ ổn định và độ chính xác cao của AFM này khiến nó trở thành sự lựa chọn tuyệt vời để phát triển các vật liệu và thiết bị thế hệ tiếp theo trong đó các đặc tính cấp nano ảnh hưởng trực tiếp đến hiệu suất sản phẩm.

Nhìn chung, Kính hiển vi lực nguyên tử loại cơ bản kết hợp tính đa chức năng, hình ảnh có độ phân giải cao, tính linh hoạt của mẫu và khả năng bảo vệ đầu tiên tiến để mang lại giải pháp toàn diện cho phân tích bề mặt ở cấp độ nano. Dù được sử dụng trong các phòng thí nghiệm hàn lâm hay cơ sở nghiên cứu công nghiệp, nó vẫn nổi bật như một AFM đáng tin cậy, có độ ổn định cao, đáp ứng các yêu cầu khắt khe của nghiên cứu khoa học hiện đại và đổi mới công nghiệp.

Đặc trưng:

• Tên sản phẩm: Kính hiển vi lực nguyên tử loại cơ bản
• Điểm lấy mẫu hình ảnh: 32*32 đến 4096*4096
• Chế độ vận hành: Chế độ nhấn, Chế độ liên hệ, Chế độ nâng, Chế độ chụp ảnh pha
• Các phép đo đa chức năng:
  • Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM)
  • Kính hiển vi quét Kelvin (KPFM)
  • Kính hiển vi lực áp điện (PFM)
  • Kính hiển vi lực từ (MFM)
• Phương pháp quét: Quét toàn mẫu ba trục XYZ
• Phạm vi quét:
  • 100 mm * 100 mm * 10 mm
  • 30 mm * 30 mm * 5 mm
• Lý tưởng cho việc mô tả đặc tính bề mặt vật liệu và phân tích kết cấu bề mặt
• Cho phép chụp ảnh địa hình có kích thước nano có độ phân giải cao

Thông số kỹ thuật:

Ứng dụng:

Kính hiển vi lực nguyên tử loại cơ bản AtomExplorer của Truth Instruments (AFM) là kính hiển vi có kích thước nano tiên tiến được thiết kế để phân tích kết cấu bề mặt có độ chính xác cao và chụp ảnh địa hình ở kích thước nano. Có nguồn gốc từ Trung Quốc, thiết bị đa năng này phục vụ cho nhiều ứng dụng nghiên cứu và công nghiệp, cung cấp khả năng đo đa chức năng bao gồm Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi thăm dò Kelvin quét (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM) và Kính hiển vi lực từ (MFM). Những tính năng này làm cho AtomExplorer trở thành một công cụ không thể thiếu đối với các nhà khoa học và kỹ sư làm việc với các vật liệu và bề mặt có kích thước nano.

Một trong những ứng dụng đầu tiên của AtomExplorer là trong các phòng thí nghiệm khoa học vật liệu, nơi việc phân tích kết cấu bề mặt chi tiết là rất quan trọng. Các nhà nghiên cứu có thể sử dụng hình ảnh có độ phân giải cao để nghiên cứu hình thái và tính chất của các vật liệu khác nhau ở cấp độ nano, tạo ra những đột phá trong công nghệ nano, nghiên cứu chất bán dẫn và mô tả đặc tính màng mỏng. Dung lượng cỡ mẫu của thiết bị là Φ 25 mm và phạm vi quét 100 μm * 100 μm * 10 μm hoặc 30 μm * 30 μm * 5 μm chứa nhiều loại mẫu khác nhau, lý tưởng cho việc phân tích các thành phần vi điện tử, polyme và vật liệu sinh học.

Trong môi trường nghiên cứu công nghiệp và học thuật, AtomExplorer tạo điều kiện chụp ảnh địa hình ở cấp độ nano toàn diện, cung cấp bản đồ bề mặt 3D chi tiết với các điểm lấy mẫu hình ảnh có kích thước từ 32*32 đến 4096*4096. Khả năng này cho phép hiển thị và đo lường chính xác các đặc điểm bề mặt, cần thiết cho việc kiểm soát chất lượng, phân tích lỗi và đổi mới trong chế tạo nano. Hơn nữa, việc bao gồm công nghệ bảo vệ đầu kim như Chế độ chèn kim an toàn đảm bảo tuổi thọ và độ tin cậy trong quá trình quét tinh vi.

Bản chất đa chức năng của AtomExplorer cho phép sử dụng nó trong nhiều tình huống khác nhau bao gồm đo đặc tính tĩnh điện và từ tính, khiến nó trở nên có giá trị trong việc nghiên cứu các thiết bị điện tử, vật liệu từ tính và các thành phần áp điện. Thiết kế thân thiện với người dùng và các thông số quét có thể tùy chỉnh giúp nó phù hợp cho việc sử dụng trong phòng thí nghiệm thông thường cũng như các dự án nghiên cứu nâng cao. Với mức giá có thể thương lượng khi liên hệ, Truth Instruments AtomExplorer cung cấp giải pháp hiệu quả nhưng tiết kiệm chi phí cho nhu cầu kính hiển vi cỡ nano, củng cố vị trí của nó như một công cụ cơ bản để phân tích kết cấu bề mặt và chụp ảnh địa hình cỡ nano trong các lĩnh vực khoa học và công nghiệp khác nhau.