Modalità MFM/KPFM per la caratterizzazione di materiali nanoscopici ad alta precisione

Descrizione del prodotto:

Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è un microscopio a forza a scansione all'avanguardia progettato per fornire capacità di imaging e misurazione senza pari a scala nanometrica. Con il suo metodo di scansione completo del campione a tre assi XYZ avanzato, questo AFM consente un esame preciso e completo delle superfici dei campioni, garantendo elevata accuratezza e ripetibilità nella ricerca su scala nanometrica e nelle applicazioni industriali. La capacità di scansione completa del campione consente al microscopio di scansionare l'intera area del campione, fornendo un profilo di superficie dettagliato e completo.

Una delle caratteristiche principali di questo Microscopio a Forza Atomica è la sua compatibilità con campioni fino a 25 mm di diametro. Questa generosa capacità di accogliere campioni di grandi dimensioni lo rende versatile per un'ampia gamma di indagini scientifiche e analisi dei materiali, dai wafer a semiconduttore ai campioni biologici. Ricercatori e ingegneri possono studiare con sicurezza campioni più grandi o di forma irregolare senza compromettere la risoluzione o la precisione di scansione.

Precisione e accuratezza sono fondamentali nelle misurazioni su scala nanometrica, e questo AFM eccelle in questo senso. Vanta una non linearità eccezionalmente bassa, con solo lo 0,02% nella direzione XY e lo 0,08% nella direzione Z. Una non linearità così minima assicura che i dati posizionali raccolti durante la scansione siano altamente affidabili, riducendo la distorsione e migliorando la fedeltà delle immagini della topologia della superficie. Questa precisione contribuisce in modo significativo al raggiungimento della risoluzione nanometrica, consentendo agli utenti di esplorare le caratteristiche della superficie a scala atomica o molecolare.

L'intervallo di angolo di scansione da 0 a 360 gradi migliora ulteriormente la flessibilità di questo microscopio a forza a scansione. Questa capacità di scansione rotazionale completa consente agli utenti di ispezionare e analizzare le caratteristiche della superficie da qualsiasi orientamento, portando a una raccolta di dati più completa e a una migliore comprensione delle proprietà e dei comportamenti della superficie. Questa capacità è particolarmente vantaggiosa quando si esaminano materiali anisotropi o geometrie superficiali complesse.

Ciò che distingue veramente questo Microscopio a Forza Atomica sono le sue capacità di misurazione multifunzionali. Supporta più modalità operative, tra cui Microscopia a Forza Elettrostatica (EFM), Microscopia a Forza a Sonda Kelvin (KPFM), Microscopia a Forza Piezoelettrica (PFM), Microscopia Capacitiva a Scansione (SCM) e Microscopia a Forza Magnetica (MFM). Ognuna di queste modalità fornisce informazioni uniche sulle diverse proprietà fisiche del campione, come caratteristiche elettriche, magnetiche e piezoelettriche, consentendo una caratterizzazione completa della superficie in un unico strumento.

Inoltre, l'AFM offre una modalità opzionale di Microscopia a Forza Atomica Conduttiva (C-AFM), che espande la sua funzionalità per includere misurazioni della conduttività elettrica a scala nanometrica. Questa modalità opzionale è preziosa per i ricercatori che lavorano su nanoelettronica, scienza dei materiali e sviluppo di dispositivi a semiconduttore, dove la comprensione dei percorsi di conduzione elettrica è essenziale.

Nel complesso, questo Microscopio a Forza Atomica integra più modalità e tecnologia di scansione avanzata per fornire imaging a risoluzione nanometrica e analisi multifunzionale della superficie. Il suo metodo di scansione completo del campione a tre assi XYZ assicura una copertura accurata e precisa di campioni fino a 25 mm di diametro, mentre la sua bassa non linearità e l'angolo di scansione completo a 360 gradi garantiscono una raccolta di dati ad alta fedeltà. Che venga utilizzato nella ricerca accademica, nella scienza dei materiali o nel controllo qualità industriale, questo microscopio a forza a scansione è uno strumento potente e versatile che soddisfa le esigenze più esigenti della caratterizzazione della superficie su scala nanometrica.

Combinando un design meccanico robusto, modalità di misurazione versatili e una risoluzione eccezionale, questo AFM si distingue come uno strumento essenziale per chiunque cerchi di esplorare e comprendere le complessità delle superfici a scala nanometrica. Le sue capacità multifunzionali lo rendono ideale per un'ampia gamma di applicazioni, fornendo a ricercatori e ingegneri le informazioni dettagliate necessarie per superare i limiti della nanotecnologia e della scienza dei materiali.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio a Forza Atomica (AFM)
• Intervallo di scansione: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Punti di campionamento dell'immagine: da 32*32 a 4096*4096
• Metodo di scansione: Scansione completa del campione a tre assi XYZ
• Angolo di scansione: 0~360°
• Dimensione del campione: Compatibile con campioni con un diametro di 25 mm
• Modalità di scansione senza contatto per un'analisi precisa della superficie
• Capacità di mappatura delle proprietà della superficie per una caratterizzazione dettagliata dei materiali

Parametri tecnici:

Applicazioni:

Il Microscopio a Forza Atomica AtomEdge Pro di Truth Instruments, originario della Cina, è uno strumento avanzato progettato per un'ampia gamma di applicazioni scientifiche e industriali. Le sue versatili modalità operative, tra cui la Modalità di Contatto, la Modalità Tap, la Modalità di Imaging di Fase, la Modalità Lift e la Modalità di Scansione Multidirezionale, consentono ai ricercatori di condurre un'analisi precisa della superficie in varie condizioni. Questa flessibilità rende l'AtomEdge Pro ideale per la mappatura dettagliata delle proprietà della superficie e l'imaging ad alta risoluzione.

Una delle occasioni applicative più importanti per l'AtomEdge Pro è nei laboratori di scienza dei materiali, dove sono fondamentali indagini dettagliate sulle proprietà topografiche e meccaniche. L'eccezionale intervallo di angolo di scansione del dispositivo di 0~360° e la bassa non linearità nella direzione XY (0,02%) e nella direzione Z (0,08%) garantiscono una raccolta di dati altamente accurata e riproducibile. Questa precisione è fondamentale quando si esaminano le caratteristiche della superficie su scala nanometrica e si comprendono le proprietà fondamentali dei nuovi materiali.

Nella ricerca e sviluppo sui semiconduttori, l'AtomEdge Pro svolge un ruolo significativo consentendo la Microscopia a Sonda Kelvin a Scansione (SKPM), essenziale per la mappatura non invasiva dei potenziali elettrici superficiali. La capacità senza contatto di questa tecnica consente la rilevazione sensibile delle variazioni della funzione di lavoro e delle distribuzioni di carica sulle superfici dei semiconduttori senza danneggiare campioni delicati. Questo rende l'AtomEdge Pro uno strumento indispensabile per il controllo qualità e l'ottimizzazione dei dispositivi nell'industria elettronica.

La compatibilità con campioni fino a 25 mm di diametro rende l'AtomEdge Pro adatto a vari tipi di campioni, da film sottili e rivestimenti a campioni biologici. In biotecnologia e scienze della vita, gli elevati punti di campionamento dell'immagine dello strumento, che vanno da 32*32 fino a 4096*4096, offrono una visualizzazione dettagliata delle strutture cellulari e delle interazioni biomolecolari, facilitando le scoperte nella ricerca medica e nello sviluppo farmaceutico.

Inoltre, l'AtomEdge Pro è ampiamente utilizzato nella chimica delle superfici e nella ricerca sulla nanotecnologia per la sua capacità di eseguire una mappatura completa delle proprietà della superficie. I ricercatori possono analizzare l'adesione, l'attrito e le proprietà magnetiche a scala nanometrica, generando informazioni critiche sui fenomeni di superficie. La modalità di scansione multidirezionale migliora ulteriormente la capacità del microscopio di acquisire accuratamente geometrie superficiali complesse.

Nel complesso, il Microscopio a Forza Atomica AtomEdge Pro di Truth Instruments è uno strumento potente e versatile adatto a diverse occasioni e scenari che richiedono una caratterizzazione precisa della superficie, l'imaging senza contatto e tecniche di scansione avanzate come la Microscopia a Sonda Kelvin a Scansione. Il suo design robusto e il set di funzionalità completo lo rendono una risorsa preziosa nella ricerca scientifica, nell'assicurazione della qualità industriale e nello sviluppo di tecnologie innovative.