Λειτουργίες MFM/KPFM για Χαρακτηρισμό Υλικών Νανοκλίμακας Υψηλής Ακρίβειας

Περιγραφή του προϊόντος:

Το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης (AFM) είναι ένα υπερσύγχρονο μικροσκόπιο δύναμης σάρωσης που έχει σχεδιαστεί για να παρέχει απαράμιλλες δυνατότητες απεικόνισης και μέτρησης σε νανοκλίμακα.Με την προηγμένη μέθοδο σάρωσης πλήρους δείγματος XYZ τριών αξόνων, το AFM αυτό επιτρέπει την ακριβή και ολοκληρωμένη εξέταση των επιφανειών δειγμάτων, εξασφαλίζοντας υψηλή ακρίβεια και επαναληψιμότητα στην έρευνα σε νανοκλίμακα και στις βιομηχανικές εφαρμογές.Η δυνατότητα σάρωσης πλήρους δείγματος επιτρέπει στο μικροσκόπιο να σάρωσε σε ολόκληρη την περιοχή δείγματος, παρέχοντας ένα λεπτομερές και πλήρες προφίλ επιφάνειας.

Ένα από τα πιο αξιοσημείωτα χαρακτηριστικά αυτού του μικροσκόπου ατομικής δύναμης είναι η συμβατότητά του με δείγματα με διάμετρο έως και 25 mm.Η γενναιόδωρη χωρητικότητα του δείγματος το καθιστά ευέλικτο για ένα ευρύ φάσμα επιστημονικών ερευνών και αναλύσεων υλικώνΟι ερευνητές και οι μηχανικοί μπορούν να μελετήσουν με αυτοπεποίθηση μεγαλύτερα ή ακανόνιστα δείγματα χωρίς να συμβιβάζονται με την ανάλυση ή την ακρίβεια της σάρωσης.

Η ακρίβεια και η ακρίβεια είναι κρίσιμες στις μετρήσεις σε νανοκλίμακα, και αυτό το AFM υπερέχει σε αυτό το θέμα.08% προς την κατεύθυνση ZΗ ελάχιστη αυτή μη γραμμικότητα εξασφαλίζει ότι τα δεδομένα θέσης που συλλέγονται κατά τη διάρκεια της σάρωσης είναι εξαιρετικά αξιόπιστα, μειώνοντας την στρέβλωση και ενισχύοντας την πιστότητα των εικόνων τοπολογίας επιφάνειας.Αυτή η ακρίβεια συμβάλλει σημαντικά στην επίτευξη της ανάλυσης νανομέτρου, επιτρέποντας στους χρήστες να διερευνήσουν τα χαρακτηριστικά της επιφάνειας σε ατομική ή μοριακή κλίμακα.

Η περιοχή γωνίας σάρωσης από 0 έως 360 μοίρες ενισχύει περαιτέρω την ευελιξία αυτού του μικροσκόπου σάρωσης.Αυτή η πλήρης ικανότητα σάρωσης περιστροφής επιτρέπει στους χρήστες να επιθεωρούν και να αναλύουν τα χαρακτηριστικά της επιφάνειας από οποιοδήποτε προσανατολισμό, οδηγώντας σε πιο ολοκληρωμένη συλλογή δεδομένων και καλύτερη κατανόηση των ιδιοτήτων και συμπεριφορών της επιφάνειας.Η ικανότητα αυτή είναι ιδιαίτερα ωφέλιμη κατά την εξέταση ανισοτρόπων υλικών ή σύνθετων γεωμετριών επιφάνειας.

Αυτό που πραγματικά ξεχωρίζει αυτό το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης είναι οι πολυλειτουργικές δυνατότητες μέτρησης.Μικροσκόπηση δύναμης ανίχνευσης Κέλβιν (KPFM), Πιεζοηλεκτρική μικροσκόπηση (PFM), μικροσκόπηση χωρητικότητας σάρωσης (SCM) και μικροσκόπηση μαγνητικής δύναμης (MFM).Κάθε ένας από αυτούς τους τρόπους παρέχει μοναδικές πληροφορίες για τις διαφορετικές φυσικές ιδιότητες του δείγματος, όπως τα ηλεκτρικά, μαγνητικά και πιεζοηλεκτρικά χαρακτηριστικά, επιτρέποντας ολοκληρωμένο χαρακτηρισμό επιφάνειας σε ένα μόνο όργανο.

Επιπλέον, το AFM προσφέρει μια προαιρετική λειτουργία μικροσκόπησης ατομικής δύναμης (C-AFM), η οποία επεκτείνει τη λειτουργικότητά του ώστε να περιλαμβάνει μετρήσεις ηλεκτρικής αγωγιμότητας σε νανοκλίμακα.Αυτή η προαιρετική λειτουργία είναι ανεκτίμητη για τους ερευνητές που εργάζονται στο νανοηλεκτρονικό, επιστήμη υλικών και ανάπτυξη συσκευών ημιαγωγών, όπου η κατανόηση των ηλεκτρικών οδών αγωγής είναι απαραίτητη.

Συνολικά, αυτό το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης ενσωματώνει πολλαπλές λειτουργίες και προηγμένη τεχνολογία σάρωσης για την παροχή απεικόνισης με ανάλυση νανομέτρου και πολυλειτουργική ανάλυση επιφάνειας.Η μέθοδος σάρωσης πλήρους δείγματος με τρεις άξονες XYZ της διασφαλίζει πλήρη και ακριβή κάλυψη δειγμάτων μέχρι 25 mm διάμετροςΗ χαμηλή μη γραμμικότητα και η πλήρης γωνία σάρωσης 360 μ. εγγυώνται τη συλλογή δεδομένων υψηλής ακρίβειας.Αυτό το μικροσκόπιο σάρωσης είναι ένα ισχυρό και ευέλικτο εργαλείο που ικανοποιεί τις απαιτητικές ανάγκες της χαρακτηριστικής επιφάνειας σε νανοκλίμακα.

Συνδυάζοντας ισχυρό μηχανικό σχεδιασμό, ευέλικτους τρόπους μέτρησης και εξαιρετική ανάλυση,Αυτό το AFM ξεχωρίζει ως ένα απαραίτητο εργαλείο για όποιον επιδιώκει να διερευνήσει και να κατανοήσει την πολυπλοκότητα των επιφανειών σε νανομετρική κλίμακαΟι πολυλειτουργικές του δυνατότητες το καθιστούν ιδανικό για ένα ευρύ φάσμα εφαρμογών.παρέχοντας στους ερευνητές και τους μηχανικούς τις λεπτομερείς γνώσεις που είναι απαραίτητες για την επέκταση των ορίων της νανοτεχνολογίας και της επιστήμης των υλικών.

Χαρακτηριστικά:

• Ονομασία προϊόντος: Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης (AFM)
• Περιοχή σάρωσης: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Σημεία δειγματοληψίας εικόνας: 32*32 έως 4096*4096
• Μέθοδος σάρωσης: σάρωση πλήρους δείγματος σε τρεις άξονες XYZ
• Γωνία σάρωσης: 0-360°
• Μέγεθος δείγματος: συμβατό με δείγματα με διάμετρο 25 mm
• Κατάσταση σάρωσης χωρίς επαφή για ακριβή ανάλυση της επιφάνειας
• Ικανότητες χαρτογράφησης των ιδιοτήτων επιφάνειας για λεπτομερή χαρακτηρισμό υλικών

Τεχνικές παραμέτρους:

Εφαρμογές:

Το Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, που προέρχεται από την Κίνα, είναι ένα προηγμένο εργαλείο που έχει σχεδιαστεί για ένα ευρύ φάσμα επιστημονικών και βιομηχανικών εφαρμογών.Οι ευπροσάρμοστες λειτουργίες του, συμπεριλαμβανομένης της λειτουργίας επαφής, Τρόπος χτυπήματος, Τρόπος απεικόνισης φάσης, Τρόπος ανύψωσης και Τρόπος πολλαπλής κατεύθυνσης σάρωσης ∆ιατρέπει στους ερευνητές να διεξάγουν ακριβείς αναλύσεις επιφάνειας υπό διάφορες συνθήκες.Αυτή η ευελιξία καθιστά το AtomEdge Pro ιδανικό για λεπτομερή χαρτογράφηση ιδιοτήτων επιφάνειας και απεικόνιση υψηλής ανάλυσης.

Μια από τις σημαντικότερες περιπτώσεις εφαρμογής για το AtomEdge Pro είναι στα εργαστήρια επιστήμης υλικών όπου είναι κρίσιμες λεπτομερείς τοπογραφικές και μηχανικές έρευνες.Η εξαιρετική γωνία σάρωσης της συσκευής είναι 0-360° και η χαμηλή μη γραμμικότητα στην κατεύθυνση XY (00,02%) και η κατεύθυνση Z (0,08%) εξασφαλίζουν υψηλή ακρίβεια και αναπαραγωγικότητα της συλλογής δεδομένων.Αυτή η ακρίβεια είναι ζωτικής σημασίας κατά την εξέταση των χαρακτηριστικών της επιφάνειας σε νανοκλίμακα και την κατανόηση των θεμελιωδών ιδιοτήτων των νέων υλικών.

Στην έρευνα και ανάπτυξη ημιαγωγών, το AtomEdge Pro διαδραματίζει σημαντικό ρόλο, επιτρέποντας τη μικροσκόπηση με ανιχνευτές Kelvin (SKPM),η οποία είναι απαραίτητη για τη χαρτογράφηση των ηλεκτρικών δυνατοτήτων επιφάνειας με μη επεμβατικό τρόποΗ δυνατότητα μη επαφής αυτής της τεχνικής επιτρέπει την ευαίσθητη ανίχνευση των διακυμάνσεων της λειτουργίας εργασίας και της κατανομής φορτίου σε επιφάνειες ημιαγωγών χωρίς να καταστρέφονται ευαίσθητα δείγματα.Αυτό κάνει το AtomEdge Pro ένα απαραίτητο εργαλείο για τον έλεγχο ποιότητας και τη βελτιστοποίηση συσκευών στην βιομηχανία ηλεκτρονικών.

Η συμβατότητα με δείγματα μέχρι 25 mm σε διάμετρο καθιστά το AtomEdge Pro κατάλληλο για διάφορους τύπους δειγμάτων, από λεπτές ταινίες και επικαλύψεις έως βιολογικά δείγματα.Στην βιοτεχνολογία και τις επιστήμες της ζωής, τα υψηλά σημεία δειγματοληψίας εικόνας του οργάνου, που κυμαίνονται από 32*32 έως 4096*4096, προσφέρουν λεπτομερή απεικόνιση των κυτταρικών δομών και των βιομοριακών αλληλεπιδράσεων,τη διευκόλυνση των εξελίξεων στην ιατρική έρευνα και τη φαρμακευτική ανάπτυξη.

Επιπλέον, το AtomEdge Pro χρησιμοποιείται ευρέως στην έρευνα χημείας επιφάνειας και νανοτεχνολογίας για την ικανότητά του να εκτελεί ολοκληρωμένη χαρτογράφηση των ιδιοτήτων της επιφάνειας.τριβή, και μαγνητικές ιδιότητες σε νανοκλίμακα, δημιουργώντας κρίσιμες γνώσεις για τα φαινόμενα της επιφάνειας.Η πολλαπλής κατεύθυνσης λειτουργία σάρωσης ενισχύει περαιτέρω την ικανότητα του μικροσκόπου να καταγράφει με ακρίβεια πολύπλοκες γεωμετρικές επιφάνειες.

Συνολικά, το Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope είναι ένα ισχυρό και ευπροσάρμοστο όργανο κατάλληλο για διάφορες περιπτώσεις και σενάρια που απαιτούν ακριβή χαρακτηριστική επιφάνειας.Μη επακριβής απεικόνισηΟ ισχυρός σχεδιασμός του και το πλήρες σύνολο των χαρακτηριστικών του, το καθιστούν πολύτιμο εργαλείο στην επιστημονική έρευνα.Βιομηχανική διασφάλιση ποιότητας, και την καινοτόμο τεχνολογική ανάπτυξη.