Режимы MFM/KPFM для высокоточной характеристики материалов на наномасштабе

Описание продукта:

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это современный сканирующий силовой микроскоп, разработанный для обеспечения непревзойденных возможностей получения изображений и измерений в наномасштабе. Благодаря усовершенствованному трехкоординатному методу сканирования образца по осям XYZ, этот АСМ позволяет проводить точное и всестороннее исследование поверхностей образцов, обеспечивая высокую точность и повторяемость в наноисследованиях и промышленных приложениях. Возможность сканирования всего образца позволяет микроскопу сканировать всю область образца, обеспечивая детальный и полный профиль поверхности.

Одной из выдающихся особенностей этого атомно-силового микроскопа является его совместимость с образцами диаметром до 25 мм. Такая большая вместимость образцов делает его универсальным для широкого спектра научных исследований и анализа материалов, от полупроводниковых пластин до биологических образцов. Исследователи и инженеры могут уверенно изучать большие или неправильной формы образцы, не ставя под угрозу разрешение или точность сканирования.

Точность и аккуратность имеют решающее значение при измерениях в наномасштабе, и этот АСМ превосходит в этом отношении. Он может похвастаться исключительно низкой нелинейностью, всего 0,02% в направлении XY и 0,08% в направлении Z. Такая минимальная нелинейность гарантирует, что данные о положении, собранные во время сканирования, будут очень надежными, уменьшая искажения и повышая точность изображений топологии поверхности. Эта точность вносит значительный вклад в достижение нанометрового разрешения, позволяя пользователям исследовать особенности поверхности в атомном или молекулярном масштабе.

Диапазон углов сканирования от 0 до 360 градусов еще больше расширяет гибкость этого сканирующего силового микроскопа. Эта полная способность вращательного сканирования позволяет пользователям осматривать и анализировать особенности поверхности с любой ориентацией, что приводит к более полному сбору данных и лучшему пониманию свойств и поведения поверхности. Эта возможность особенно полезна при исследовании анизотропных материалов или сложных геометрических форм поверхности.

Что действительно отличает этот атомно-силовой микроскоп, так это его многофункциональные возможности измерения. Он поддерживает несколько режимов работы, включая электростатическую силовую микроскопию (EFM), сканирующую зондовую микроскопию Кельвина (KPFM), пьезоэлектрическую силовую микроскопию (PFM), сканирующую емкостную микроскопию (SCM) и магнитную силовую микроскопию (MFM). Каждый из этих режимов предоставляет уникальную информацию о различных физических свойствах образца, таких как электрические, магнитные и пьезоэлектрические характеристики, что позволяет проводить всестороннюю характеристику поверхности в одном приборе.

Кроме того, АСМ предлагает дополнительный режим кондуктивной атомно-силовой микроскопии (C-AFM), который расширяет его функциональность, включая измерения электропроводности в наномасштабе. Этот дополнительный режим неоценим для исследователей, работающих в области наноэлектроники, материаловедения и разработки полупроводниковых устройств, где понимание путей электропроводности имеет важное значение.

В целом, этот атомно-силовой микроскоп объединяет несколько режимов и передовую технологию сканирования для получения изображений с нанометровым разрешением и многофункционального анализа поверхности. Его трехкоординатный метод сканирования всего образца по осям XYZ обеспечивает тщательное и точное покрытие образцов диаметром до 25 мм, в то время как его низкая нелинейность и полный угол сканирования 360 градусов гарантируют высокую точность сбора данных. Независимо от того, используется ли он в академических исследованиях, материаловедении или промышленном контроле качества, этот сканирующий силовой микроскоп является мощным и универсальным инструментом, отвечающим высоким требованиям к характеристике поверхности в наномасштабе.

Сочетая надежную механическую конструкцию, универсальные режимы измерения и исключительное разрешение, этот АСМ выделяется как незаменимый инструмент для всех, кто стремится исследовать и понимать сложности поверхностей в нанометровом масштабе. Его многофункциональные возможности делают его идеальным для широкого спектра применений, предоставляя исследователям и инженерам подробную информацию, необходимую для расширения границ нанотехнологий и материаловедения.

Особенности:

• Название продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ)
• Диапазон сканирования: 100 мкм * 100 мкм * 10 мкм
• Точки дискретизации изображения: от 32*32 до 4096*4096
• Метод сканирования: трехкоординатное сканирование всего образца по осям XYZ
• Угол сканирования: 0~360°
• Размер образца: Совместим с образцами диаметром 25 мм
• Режим бесконтактного сканирования для точного анализа поверхности
• Возможности отображения свойств поверхности для детальной характеристики материала

Технические параметры:

Применение:

Атомно-силовой микроскоп Truth Instruments AtomEdge Pro, произведенный в Китае, является передовым инструментом, предназначенным для широкого спектра научных и промышленных применений. Его универсальные режимы работы — включая контактный режим, режим касания, режим фазовой визуализации, режим подъема и многонаправленный режим сканирования — позволяют исследователям проводить точный анализ поверхности в различных условиях. Эта гибкость делает AtomEdge Pro идеальным для детального отображения свойств поверхности и получения изображений с высоким разрешением.

Одним из выдающихся случаев применения AtomEdge Pro являются лаборатории материаловедения, где решающее значение имеют детальные исследования топографических и механических свойств. Исключительный диапазон углов сканирования устройства от 0 до 360° и низкая нелинейность в направлении XY (0,02%) и направлении Z (0,08%) обеспечивают высокую точность и воспроизводимость сбора данных. Эта точность жизненно важна при исследовании наноразмерных особенностей поверхности и понимании фундаментальных свойств новых материалов.

В исследованиях и разработках полупроводников AtomEdge Pro играет важную роль, обеспечивая сканирующую зондовую микроскопию Кельвина (SKPM), которая необходима для неинвазивного отображения электрических потенциалов поверхности. Бесконтактная способность этой техники позволяет чувствительно обнаруживать изменения работы выхода и распределения заряда на полупроводниковых поверхностях, не повреждая хрупкие образцы. Это делает AtomEdge Pro незаменимым инструментом для контроля качества и оптимизации устройств в электронной промышленности.

Совместимость с образцами диаметром до 25 мм делает AtomEdge Pro подходящим для различных типов образцов, от тонких пленок и покрытий до биологических образцов. В биотехнологии и науках о жизни высокие точки дискретизации изображения прибора — от 32*32 до 4096*4096 — обеспечивают детальную визуализацию клеточных структур и биомолекулярных взаимодействий, способствуя прорывам в медицинских исследованиях и разработке фармацевтических препаратов.

Кроме того, AtomEdge Pro широко используется в исследованиях химии поверхности и нанотехнологий для выполнения всестороннего отображения свойств поверхности. Исследователи могут анализировать адгезию, трение и магнитные свойства в наномасштабе, получая критическую информацию о явлениях на поверхности. Многонаправленный режим сканирования еще больше расширяет возможности микроскопа по точному захвату сложных геометрических форм поверхности.

В целом, атомно-силовой микроскоп Truth Instruments AtomEdge Pro является мощным и универсальным инструментом, подходящим для различных случаев и сценариев, требующих точной характеристики поверхности, бесконтактной визуализации и передовых методов сканирования, таких как сканирующая зондовая микроскопия Кельвина. Его надежная конструкция и всеобъемлющий набор функций делают его ценным активом в научных исследованиях, обеспечении качества в промышленности и разработке инновационных технологий.