Moduły MFM/KPFM do wysokoprecyzyjnej charakterystyki materiałów w nanoskali

Opis produktu:

Mikroskop sił atomowych (AFM) to najnowocześniejszy mikroskop sił skaningowych zaprojektowany w celu zapewnienia niezrównanych możliwości obrazowania i pomiarów w nanoskali. Dzięki zaawansowanej, trójosiowej metodzie skanowania pełnej próbki XYZ, ten AFM umożliwia precyzyjne i kompleksowe badanie powierzchni próbek, zapewniając wysoką dokładność i powtarzalność w badaniach w nanoskali i zastosowaniach przemysłowych. Możliwość skanowania całej próbki umożliwia mikroskopowi skanowanie całego obszaru próbki, zapewniając szczegółowy i kompletny profil powierzchni.

Jedną z wyróżniających się cech tego mikroskopu sił atomowych jest jego kompatybilność z próbkami o średnicy do 25 mm. Dzięki temu dużemu dostosowaniu do wielkości próbki można go wszechstronnie stosować w szerokim zakresie badań naukowych i analiz materiałów, od płytek półprzewodnikowych po próbki biologiczne. Naukowcy i inżynierowie mogą spokojnie badać większe próbki lub próbki o nieregularnym kształcie, bez utraty rozdzielczości i precyzji skanowania.

Precyzja i dokładność mają kluczowe znaczenie w pomiarach w nanoskali, a AFM wyróżnia się pod tym względem. Charakteryzuje się wyjątkowo niską nieliniowością, wynoszącą zaledwie 0,02% w kierunku XY i 0,08% w kierunku Z. Taka minimalna nieliniowość zapewnia wysoką niezawodność danych pozycyjnych zebranych podczas skanowania, redukując zniekształcenia i zwiększając wierność obrazów topologii powierzchni. Precyzja ta znacząco przyczynia się do osiągnięcia rozdzielczości nanometrowej, umożliwiając użytkownikom badanie cech powierzchni w skali atomowej lub molekularnej.

Zakres kąta skanowania od 0 do 360 stopni dodatkowo zwiększa elastyczność tego mikroskopu sił skanujących. Ta pełna zdolność skanowania rotacyjnego pozwala użytkownikom sprawdzać i analizować cechy powierzchni z dowolnej orientacji, co prowadzi do bardziej wszechstronnego gromadzenia danych i lepszego zrozumienia właściwości i zachowań powierzchni. Możliwość ta jest szczególnie korzystna podczas badania materiałów anizotropowych lub złożonych geometrii powierzchni.

Tym, co naprawdę wyróżnia ten Mikroskop Sił Atomowych, są jego wielofunkcyjne możliwości pomiarowe. Obsługuje wiele trybów pracy, w tym mikroskopię sił elektrostatycznych (EFM), mikroskopię sił ze skaningową sondą Kelvina (KPFM), mikroskopię sił piezoelektrycznych (PFM), skaningową mikroskopię pojemnościową (SCM) i mikroskopię sił magnetycznych (MFM). Każdy z tych trybów zapewnia unikalny wgląd w różne właściwości fizyczne próbki, takie jak właściwości elektryczne, magnetyczne i piezoelektryczne, umożliwiając kompleksową charakterystykę powierzchni w jednym instrumencie.

Dodatkowo AFM oferuje opcjonalny tryb przewodzącej mikroskopii sił atomowych (C-AFM), który rozszerza jego funkcjonalność o pomiary przewodności elektrycznej w nanoskali. Ten opcjonalny tryb jest nieoceniony dla badaczy zajmujących się nanoelektroniką, materiałoznawstwem i rozwojem urządzeń półprzewodnikowych, gdzie niezbędne jest zrozumienie ścieżek przewodzenia elektrycznego.

Ogólnie rzecz biorąc, ten Mikroskop Sił Atomowych integruje wiele trybów i zaawansowaną technologię skanowania, aby zapewnić obrazowanie w rozdzielczości nanometrowej i wielofunkcyjną analizę powierzchni. Trójosiowa metoda skanowania pełnych próbek XYZ zapewnia dokładne i precyzyjne pokrycie próbek o średnicy do 25 mm, a niska nieliniowość i pełny kąt skanowania 360 stopni gwarantują gromadzenie danych o wysokiej jakości. Niezależnie od tego, czy używany jest w badaniach akademickich, materiałoznawstwie, czy w przemysłowej kontroli jakości, ten mikroskop sił skanujących jest potężnym i wszechstronnym narzędziem, które spełnia rygorystyczne potrzeby charakteryzacji powierzchni w nanoskali.

Łącząc solidną konstrukcję mechaniczną, wszechstronne tryby pomiaru i wyjątkową rozdzielczość, ten AFM wyróżnia się jako niezbędny instrument dla każdego, kto chce zbadać i zrozumieć złożoność powierzchni w skali nanometrowej. Jego wielofunkcyjne możliwości sprawiają, że idealnie nadaje się do szerokiej gamy zastosowań, zapewniając naukowcom i inżynierom szczegółowe informacje niezbędne do przesuwania granic nanotechnologii i materiałoznawstwa.

Cechy:

• Nazwa produktu: Mikroskop sił atomowych (AFM)
• Zakres skanowania: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Punkty próbkowania obrazu: 32*32 do 4096*4096
• Metoda skanowania: Trójosiowe skanowanie pełnej próbki XYZ
• Kąt skanowania: 0 ~ 360°
• Rozmiar próbki: Kompatybilny z próbkami o średnicy 25 mm
• Bezkontaktowy tryb skanowania umożliwiający precyzyjną analizę powierzchni
• Możliwości mapowania właściwości powierzchni w celu szczegółowej charakterystyki materiałów

Parametry techniczne:

Aplikacje:

Pochodzący z Chin mikroskop sił atomowych Truth Instruments AtomEdge Pro to zaawansowane narzędzie przeznaczone do szerokiego zakresu zastosowań naukowych i przemysłowych. Jego wszechstronne tryby pracy — w tym tryb kontaktowy, tryb dotknięcia, tryb obrazowania fazowego, tryb podnoszenia i tryb skanowania wielokierunkowego — umożliwiają badaczom przeprowadzanie precyzyjnej analizy powierzchni w różnych warunkach. Ta elastyczność sprawia, że ​​AtomEdge Pro idealnie nadaje się do szczegółowego mapowania właściwości powierzchni i obrazowania w wysokiej rozdzielczości.

Jednym z najważniejszych zastosowań AtomEdge Pro są laboratoria materiałoznawstwa, gdzie kluczowe znaczenie mają szczegółowe badania właściwości topograficznych i mechanicznych. Wyjątkowy zakres kąta skanowania urządzenia wynoszący 0 ~ 360° oraz niska nieliniowość w kierunku XY (0,02%) i kierunku Z (0,08%) zapewniają bardzo dokładne i powtarzalne gromadzenie danych. Ta precyzja jest niezbędna podczas badania cech powierzchni w nanoskali i zrozumienia podstawowych właściwości nowych materiałów.

W badaniach i rozwoju półprzewodników AtomEdge Pro odgrywa znaczącą rolę, umożliwiając mikroskopię skaningową z sondą Kelvina (SKPM), która jest niezbędna do nieinwazyjnego mapowania potencjałów powierzchni elektrycznych. Bezdotykowa zdolność tej techniki pozwala na czułe wykrywanie zmian funkcji wyjścia i rozkładu ładunku na powierzchniach półprzewodników bez uszkadzania delikatnych próbek. To sprawia, że ​​AtomEdge Pro jest niezbędnym narzędziem do kontroli jakości i optymalizacji urządzeń w przemyśle elektronicznym.

Kompatybilność z próbkami o średnicy do 25 mm sprawia, że ​​AtomEdge Pro nadaje się do różnych typów próbek, od cienkich warstw i powłok po próbki biologiczne. W biotechnologii i naukach przyrodniczych wysokie punkty próbkowania obrazu instrumentu — wahające się od 32*32 do 4096*4096 — zapewniają szczegółową wizualizację struktur komórkowych i interakcji biomolekularnych, ułatwiając przełomowe badania medyczne i rozwój farmaceutyczny.

Ponadto AtomEdge Pro jest szeroko stosowany w badaniach chemii powierzchni i nanotechnologii ze względu na jego zdolność do wykonywania kompleksowego mapowania właściwości powierzchni. Naukowcy mogą analizować właściwości adhezyjne, tarcia i magnetyczne w nanoskali, uzyskując krytyczny wgląd w zjawiska powierzchniowe. Tryb skanowania wielokierunkowego dodatkowo zwiększa zdolność mikroskopu do dokładnego rejestrowania złożonych geometrii powierzchni.

Ogólnie rzecz biorąc, mikroskop sił atomowych Truth Instruments AtomEdge Pro to potężny i wszechstronny instrument odpowiedni na różne okazje i scenariusze, które wymagają precyzyjnej charakterystyki powierzchni, obrazowania bezkontaktowego i zaawansowanych technik skanowania, takich jak mikroskopia ze skaningową sondą Kelvina. Solidna konstrukcja i kompleksowy zestaw funkcji sprawiają, że jest to cenny atut w badaniach naukowych, zapewnianiu jakości w przemyśle i rozwoju innowacyjnych technologii.