MFM/KPFM Modları Yüksek Hassasiyetli Nanoölçekli Malzeme Karakterizasyonu İçin

Ürün Açıklaması:

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), nanometre ölçeğinde benzersiz görüntüleme ve ölçüm yetenekleri sağlamak üzere tasarlanmış, son teknoloji bir taramalı kuvvet mikroskobudur. Bu AFM, gelişmiş XYZ üç eksenli tam numune tarama yöntemiyle, numune yüzeylerinin hassas ve kapsamlı bir şekilde incelenmesini sağlayarak, nanometre ölçekli araştırma ve endüstriyel uygulamalarda yüksek doğruluk ve tekrarlanabilirlik sağlar. Tam numune tarama özelliği, mikroskobun tüm numune alanı boyunca tarama yapmasını sağlayarak, ayrıntılı ve eksiksiz bir yüzey profili sunar.

Bu Atomik Kuvvet Mikroskobunun öne çıkan özelliklerinden biri, 25 mm çapa kadar olan numunelerle uyumlu olmasıdır. Bu cömert numune boyutu uyumu, yarı iletken gofretlerden biyolojik numunelere kadar çok çeşitli bilimsel araştırmalar ve malzeme analizleri için çok yönlü olmasını sağlar. Araştırmacılar ve mühendisler, çözünürlükten veya tarama hassasiyetinden ödün vermeden daha büyük veya düzensiz şekilli numuneleri güvenle inceleyebilirler.

Nanometre ölçekli ölçümlerde hassasiyet ve doğruluk kritik öneme sahiptir ve bu AFM bu konuda mükemmeldir. XY yönünde yalnızca %0,02 ve Z yönünde %0,08 gibi son derece düşük doğrusal olmayanlığa sahiptir. Bu kadar az doğrusal olmayanlık, tarama sırasında toplanan konumsal verilerin son derece güvenilir olmasını sağlayarak, bozulmayı azaltır ve yüzey topolojisi görüntülerinin doğruluğunu artırır. Bu hassasiyet, nanometre çözünürlüğe ulaşmaya önemli ölçüde katkıda bulunur ve kullanıcıların yüzey özelliklerini atomik veya moleküler ölçekte keşfetmelerini sağlar.

0 ila 360 derece arasındaki tarama açısı aralığı, bu taramalı kuvvet mikroskobunun esnekliğini daha da artırır. Bu tam dönme tarama yeteneği, kullanıcıların yüzey özelliklerini herhangi bir yönden incelemesine ve analiz etmesine olanak tanıyarak, daha kapsamlı veri toplama ve yüzey özellikleri ve davranışları hakkında daha iyi bir anlayış sağlar. Bu özellik, anizotropik malzemeleri veya karmaşık yüzey geometrilerini incelerken özellikle faydalıdır.

Bu Atomik Kuvvet Mikroskobunu gerçekten farklı kılan şey, çok işlevli ölçüm yetenekleridir. Elektrostatik Kuvvet Mikroskobisi (EFM), Taramalı Kelvin Prob Kuvvet Mikroskobisi (KPFM), Piezoelektrik Kuvvet Mikroskobisi (PFM), Taramalı Kapasitif Mikroskopi (SCM) ve Manyetik Kuvvet Mikroskobisi (MFM) dahil olmak üzere birden fazla çalışma modunu destekler. Bu modların her biri, numunenin elektriksel, manyetik ve piezoelektrik özellikleri gibi farklı fiziksel özellikleri hakkında benzersiz bilgiler sağlayarak, tek bir cihazda kapsamlı yüzey karakterizasyonu sağlar.

Ek olarak, AFM, nanometre ölçeğinde elektriksel iletkenlik ölçümlerini de içerecek şekilde işlevselliğini genişleten isteğe bağlı bir İletken Atomik Kuvvet Mikroskobisi (C-AFM) modu sunar. Bu isteğe bağlı mod, nanoelektronik, malzeme bilimi ve yarı iletken cihaz geliştirme üzerinde çalışan, elektriksel iletim yollarını anlamanın temel olduğu araştırmacılar için paha biçilmezdir.

Genel olarak, bu Atomik Kuvvet Mikroskobu, nanometre çözünürlüklü görüntüleme ve çok işlevli yüzey analizi sağlamak için birden fazla modu ve gelişmiş tarama teknolojisini entegre eder. XYZ üç eksenli tam numune tarama yöntemi, 25 mm çapa kadar olan numunelerin kapsamlı ve hassas bir şekilde kapsanmasını sağlarken, düşük doğrusal olmayanlığı ve tam 360 derecelik tarama açısı, yüksek doğrulukta veri toplamasını garanti eder. İster akademik araştırmalarda, ister malzeme biliminde veya endüstriyel kalite kontrolünde kullanılsın, bu taramalı kuvvet mikroskobu, nanometre ölçekli yüzey karakterizasyonunun zorlu ihtiyaçlarını karşılayan güçlü ve çok yönlü bir araçtır.

Sağlam mekanik tasarım, çok yönlü ölçüm modları ve olağanüstü çözünürlüğü bir araya getiren bu AFM, nanometre ölçeğinde yüzeylerin karmaşıklıklarını keşfetmek ve anlamak isteyen herkes için vazgeçilmez bir araç olarak öne çıkıyor. Çok işlevli yetenekleri, onu çok çeşitli uygulamalar için ideal hale getirerek, araştırmacılara ve mühendislere, nanoteknoloji ve malzeme biliminin sınırlarını zorlamak için gerekli olan ayrıntılı bilgileri sağlar.

Özellikler:

• Ürün Adı: Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
• Tarama Aralığı: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Görüntü Örnekleme Noktaları: 32*32 - 4096*4096
• Tarama Yöntemi: XYZ Üç Eksenli Tam Numune Taraması
• Tarama Açısı: 0~360°
• Numune Boyutu: 25 mm çapında numunelerle uyumlu
• Hassas yüzey analizi için temassız tarama modu
• Ayrıntılı malzeme karakterizasyonu için yüzey özelliği haritalama yetenekleri

Teknik Parametreler:

Uygulamalar:

Çin menşeli Truth Instruments AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskobu, çok çeşitli bilimsel ve endüstriyel uygulamalar için tasarlanmış gelişmiş bir araçtır. Temas Modu, Dokunma Modu, Faz Görüntüleme Modu, Kaldırma Modu ve Çok Yönlü Tarama Modu dahil olmak üzere çok yönlü çalışma modları, araştırmacıların çeşitli koşullar altında hassas yüzey analizi yapmasını sağlar. Bu esneklik, AtomEdge Pro'yu ayrıntılı yüzey özelliği haritalaması ve yüksek çözünürlüklü görüntüleme için ideal hale getirir.

AtomEdge Pro için öne çıkan uygulama durumlarından biri, ayrıntılı topografik ve mekanik özellik araştırmalarının kritik öneme sahip olduğu malzeme bilimi laboratuvarlarıdır. Cihazın olağanüstü 0~360° tarama açısı aralığı ve XY yönünde (%0,02) ve Z yönünde (%0,08) düşük doğrusal olmayanlığı, son derece doğru ve tekrarlanabilir veri toplamasını sağlar. Bu hassasiyet, nanometre ölçekli yüzey özelliklerini incelerken ve yeni malzemelerin temel özelliklerini anlarken hayati öneme sahiptir.

Yarı iletken araştırmaları ve geliştirmesinde, AtomEdge Pro, elektriksel yüzey potansiyellerini invaziv olmayan bir şekilde haritalamak için gerekli olan Taramalı Kelvin Prob Mikroskopisi (SKPM) sağlayarak önemli bir rol oynar. Bu tekniğin temassız yeteneği, hassas numunelere zarar vermeden yarı iletken yüzeylerdeki işlev varyasyonlarının ve yük dağılımlarının hassas bir şekilde tespit edilmesini sağlar. Bu, AtomEdge Pro'yu elektronik endüstrisinde kalite kontrolü ve cihaz optimizasyonu için vazgeçilmez bir araç haline getirir.

25 mm çapa kadar olan numunelerle uyumluluk, AtomEdge Pro'yu ince filmler ve kaplamalardan biyolojik numunelere kadar çeşitli numune türleri için uygun hale getirir. Biyoteknoloji ve yaşam bilimlerinde, cihazın yüksek görüntü örnekleme noktaları (32*32'den 4096*4096'ya kadar) hücresel yapıların ve biyomoleküler etkileşimlerin ayrıntılı görselleştirilmesini sağlayarak, tıbbi araştırmalarda ve ilaç geliştirmede çığır açılmasını kolaylaştırır.

Ek olarak, AtomEdge Pro, kapsamlı yüzey özelliği haritalaması yapma yeteneği nedeniyle yüzey kimyası ve nanoteknoloji araştırmalarında yaygın olarak kullanılmaktadır. Araştırmacılar, nanometre ölçeğinde yapışma, sürtünme ve manyetik özellikleri analiz ederek, yüzey fenomenleri hakkında kritik bilgiler üretebilirler. Çok yönlü tarama modu, mikroskobun karmaşık yüzey geometrilerini doğru bir şekilde yakalama yeteneğini daha da artırır.

Genel olarak, Truth Instruments AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskobu, hassas yüzey karakterizasyonu, temassız görüntüleme ve Taramalı Kelvin Prob Mikroskopisi gibi gelişmiş tarama teknikleri gerektiren çeşitli durumlar ve senaryolar için uygun, güçlü ve çok yönlü bir araçtır. Sağlam tasarımı ve kapsamlı özellik seti, onu bilimsel araştırmalar, endüstriyel kalite güvencesi ve yenilikçi teknoloji geliştirmede değerli bir varlık haline getirir.