MFM/KPFM Modi Voor Hoge-Precisie Nanoschaal Materiaal Karakterisering

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope (AFM) is een state-of-the-art scanning force microscope die is ontworpen om ongeëvenaarde beeldvorming en meetmogelijkheden op nanoschaal te bieden.Met zijn geavanceerde XYZ drie-assige full-sample scansysteem, maakt deze AFM een nauwkeurig en volledig onderzoek van de steekproefoppervlakken mogelijk, waardoor een hoge nauwkeurigheid en herhaalbaarheid worden gewaarborgd in nanoschaalonderzoek en industriële toepassingen.De volledige scanning van het monster stelt de microscoop in staat om het gehele monstergebied te scannen, die een gedetailleerd en volledig oppervlakprofiel biedt.

Een van de opvallende kenmerken van deze atoomkrachtmicroscoop is de compatibiliteit met monsters tot 25 mm in diameter.Deze genereuze steekproefgrootte maakt het veelzijdig voor een breed scala aan wetenschappelijke onderzoeken en materiaalanalyseOnderzoekers en ingenieurs kunnen met vertrouwen grotere of onregelmatig gevormde monsters bestuderen zonder afbreuk te doen aan de resolutie of de precisie van de scanning.

Precisie en nauwkeurigheid zijn van cruciaal belang bij nanometen, en dit AFM is in dit opzicht uitstekend.08% in Z-richtingEen dergelijke minimale niet-lineariteit zorgt ervoor dat de positiegegevens die tijdens het scannen worden verzameld zeer betrouwbaar zijn, waardoor vervorming wordt verminderd en de trouw van oppervlaktetopologische afbeeldingen wordt verbeterd.Deze nauwkeurigheid draagt aanzienlijk bij aan het bereiken van een nanometerrevolutie, waardoor gebruikers oppervlaktefuncties op atoom- of moleculaire schaal kunnen verkennen.

Het scanehoekbereik van 0 tot 360 graden vergroot de flexibiliteit van deze scaneffektiemicroscoop.Deze volledige rotatie scanning vermogen stelt gebruikers in staat om te inspecteren en te analyseren oppervlakken van elke oriëntatie, wat leidt tot een meer uitgebreide gegevensverzameling en een beter begrip van de oppervlakte-eigenschappen en -gedrag.Deze mogelijkheid is vooral nuttig bij het onderzoeken van anisotrope materialen of complexe oppervlaktegeometrieën.

Wat deze atoomkrachtmicroscoop echt onderscheidt, zijn de multifunctionele meetmogelijkheden.Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezo-elektrische krachtmicroscopie (PFM), scanning capacitive microscopie (SCM) en magnetische krachtmicroscopie (MFM).Elk van deze modus biedt unieke inzichten in de verschillende fysische eigenschappen van het monster, zoals elektrische, magnetische en piezo-elektrische eigenschappen, waardoor een uitgebreide oppervlaktekarakterisering in één instrument mogelijk is.

Bovendien biedt de AFM een optionele Conductive Atomic Force Microscopy (C-AFM) -modus, die de functionaliteit uitbreidt tot elektrische geleidbaarheidsmetingen op nanoschaal.Deze optionele modus is van onschatbare waarde voor onderzoekers die werken aan nano-elektronica, materiaalwetenschappen en ontwikkeling van halfgeleiderapparaten, waarbij het begrijpen van elektrische geleidingswegen essentieel is.

Over het algemeen integreert deze Atomic Force Microscope meerdere modi en geavanceerde scantechnologie om beeldvorming met een nanometerresolutie en multifunctionele oppervlaktanalyse te leveren.De XYZ-drie-assige volledige-scanmethode zorgt voor een grondige en nauwkeurige afdekking van monsters tot 25 mm in diameterHet is een zeer efficiënt systeem voor het verzamelen van gegevens, met een lage niet-lineariteit en een volledige 360°-scanhoek die zorgt voor een hoge nauwkeurigheid.Deze scanning force microscope is een krachtig en veelzijdig hulpmiddel dat voldoet aan de veeleisende behoeften van nanoschaal oppervlakken karakterisering.

Door het combineren van robuust mechanisch ontwerp, veelzijdige meetmodi en uitzonderlijke resolutie,Deze AFM is een essentieel instrument voor iedereen die de complexiteit van oppervlakken op nanometer schaal wil onderzoeken en begrijpen.De multifunctionaliteit maakt het ideaal voor een breed scala aan toepassingen.het verstrekken van onderzoekers en ingenieurs met de gedetailleerde inzichten die nodig zijn om de grenzen van nanotechnologie en materiaalwetenschappen te verleggen.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope (AFM)
• Scanningbereik: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Beeldmonsteringspunten: 32*32 tot en met 4096*4096
• Scanmethode: XYZ-drieassige volledige-sample-scan
• Scanhoek: 0-360°
• Grootte van het monster: compatibel met monsters met een diameter van 25 mm
• Niet-contact-scanmodus voor nauwkeurige oppervlaktanalyse
• Oppervlakte eigenschappen mapping mogelijkheden voor gedetailleerde materiaal karakterisering

Technische parameters:

Toepassingen:

De Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, afkomstig uit China, is een geavanceerd instrument dat is ontworpen voor een breed scala aan wetenschappelijke en industriële toepassingen.De veelzijdige werkwijzen, met inbegrip van de contactmodus, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode en Multi-Directional Scanning Mode – stelt onderzoekers in staat om onder verschillende omstandigheden nauwkeurige oppervlaktanalyses uit te voeren.Deze flexibiliteit maakt de AtomEdge Pro ideaal voor gedetailleerde oppervlakte eigenschappen mapping en hoge resolutie beeldvorming.

Een van de belangrijkste toepassingsgebieden voor de AtomEdge Pro is in laboratoriummateriaalwetenschappen, waar gedetailleerde topografische en mechanische onderzoeken van cruciaal belang zijn.Het apparaat heeft een uitzonderlijk schermhoekbereik van 0 tot 360° en een lage niet-lineariteit in de XY-richting (0.02%) en Z-richting (0,08%) zorgen voor een zeer nauwkeurige en reproduceerbare gegevensverzameling.Deze nauwkeurigheid is van vitaal belang bij het onderzoeken van oppervlakken op nanoschaal en bij het begrijpen van de fundamentele eigenschappen van nieuwe materialen.

In het onderzoek en de ontwikkeling van halfgeleiders speelt de AtomEdge Pro een belangrijke rol door Scanning Kelvin Probe Microscopy (SKPM),die essentieel is voor het niet-invasief in kaart brengen van elektrische oppervlaktepotentialenDe niet-contactmogelijkheid van deze techniek maakt het mogelijk gevoelige functieverschillen en ladingsverdelingen op halfgeleideroppervlakken te detecteren zonder delicate monsters te beschadigen.Dit maakt de AtomEdge Pro een onmisbaar hulpmiddel voor kwaliteitscontrole en apparaat optimalisatie in de elektronica-industrie.

De compatibiliteit met monsters tot 25 mm in diameter maakt de AtomEdge Pro geschikt voor verschillende monsters, van dunne films en coatings tot biologische monsters.In de biotechnologie en de levenswetenschappenDe instrumenten met hoge beeldmonsternamingspunten van 32*32 tot 4096*4096 bieden een gedetailleerde visualisatie van celstructuur en biomoleculaire interacties.bevordering van doorbraken in medisch onderzoek en farmaceutische ontwikkeling.

Daarnaast wordt de AtomEdge Pro veel gebruikt in oppervlaktechemie en nanotechnologieonderzoek vanwege zijn vermogen om uitgebreide oppervlakte eigenschappen in kaart te brengen.wrijving, en magnetische eigenschappen op nanoschaal, waardoor kritieke inzichten in oppervlakteverschijnselen worden gegenereerd.De meerrichtingsscanmodus vergroot het vermogen van de microscoop om complexe oppervlaktegeometrieën nauwkeurig vast te leggen.

Over het algemeen is de Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope een krachtig en veelzijdig instrument dat geschikt is voor diverse gelegenheden en scenario's die een precieze oppervlaktekarakterisering vereisen.niet-contact beeldvormingHet robuuste ontwerp en de uitgebreide functionaliteit maken het een waardevolle hulpmiddel voor wetenschappelijk onderzoek.industriële kwaliteitsborging, en innovatieve technologische ontwikkeling.