Chế độ MFM/KPFM để xác định đặc tính vật liệu có kích thước nano có độ chính xác cao

Mô tả sản phẩm:

Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) là kính hiển vi lực quét tiên tiến nhất được thiết kế để cung cấp khả năng chụp ảnh và đo lường tuyệt vời ở cấp độ nano. Với phương pháp quét toàn mẫu ba trục XYZ tiên tiến, AFM này cho phép kiểm tra chính xác và toàn diện các bề mặt mẫu, đảm bảo độ chính xác và độ lặp lại cao trong nghiên cứu quy mô nano và các ứng dụng công nghiệp. Khả năng quét toàn bộ mẫu cho phép kính hiển vi quét toàn bộ khu vực mẫu, cung cấp hồ sơ bề mặt chi tiết và đầy đủ.

Một trong những tính năng nổi bật của Kính hiển vi lực nguyên tử này là khả năng tương thích với các mẫu có đường kính lên tới 25 mm. Khả năng điều chỉnh kích thước mẫu rộng rãi này giúp nó trở nên linh hoạt cho nhiều nghiên cứu khoa học và phân tích vật liệu, từ tấm bán dẫn đến mẫu vật sinh học. Các nhà nghiên cứu và kỹ sư có thể tự tin nghiên cứu các mẫu lớn hơn hoặc có hình dạng bất thường mà không ảnh hưởng đến độ phân giải hoặc độ chính xác khi quét.

Độ chính xác và độ chính xác rất quan trọng trong các phép đo ở cấp độ nano và AFM này vượt trội về mặt này. Nó có độ phi tuyến đặc biệt thấp, chỉ 0,02% theo hướng XY và 0,08% theo hướng Z. Độ phi tuyến tối thiểu như vậy đảm bảo rằng dữ liệu vị trí được thu thập trong quá trình quét có độ tin cậy cao, giảm biến dạng và nâng cao độ trung thực của hình ảnh cấu trúc liên kết bề mặt. Độ chính xác này góp phần đáng kể vào việc đạt được độ phân giải nanomet, cho phép người dùng khám phá các đặc điểm bề mặt ở quy mô nguyên tử hoặc phân tử.

Phạm vi góc quét từ 0 đến 360 độ giúp tăng cường hơn nữa tính linh hoạt của kính hiển vi lực quét này. Khả năng quét xoay hoàn toàn này cho phép người dùng kiểm tra và phân tích các đặc điểm bề mặt từ bất kỳ hướng nào, dẫn đến việc thu thập dữ liệu toàn diện hơn và hiểu rõ hơn về các đặc tính và hành vi bề mặt. Khả năng này đặc biệt có lợi khi kiểm tra vật liệu dị hướng hoặc hình học bề mặt phức tạp.

Điều thực sự làm nên sự khác biệt của Kính hiển vi lực nguyên tử này là khả năng đo đa chức năng của nó. Nó hỗ trợ nhiều chế độ hoạt động, bao gồm Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi lực thăm dò Kelvin (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM), Kính hiển vi điện dung quét (SCM) và Kính hiển vi lực từ (MFM). Mỗi chế độ này cung cấp những hiểu biết sâu sắc về các đặc tính vật lý khác nhau của mẫu, chẳng hạn như các đặc tính điện, từ và áp điện, cho phép mô tả đặc tính bề mặt toàn diện trong một thiết bị duy nhất.

Ngoài ra, AFM còn cung cấp chế độ Kính hiển vi lực nguyên tử dẫn điện (C-AFM) tùy chọn, chế độ này mở rộng chức năng của nó để bao gồm các phép đo độ dẫn điện ở cấp độ nano. Chế độ tùy chọn này rất có giá trị đối với các nhà nghiên cứu làm việc trong lĩnh vực điện tử nano, khoa học vật liệu và phát triển thiết bị bán dẫn, những lĩnh vực cần hiểu rõ các đường dẫn điện.

Nhìn chung, Kính hiển vi lực nguyên tử này tích hợp nhiều chế độ và công nghệ quét tiên tiến để cung cấp hình ảnh có độ phân giải nanomet và phân tích bề mặt đa chức năng. Phương pháp quét toàn mẫu ba trục XYZ của nó đảm bảo bao phủ toàn diện và chính xác các mẫu có đường kính lên tới 25 mm, đồng thời độ phi tuyến thấp và góc quét 360 độ đầy đủ đảm bảo thu thập dữ liệu có độ chính xác cao. Dù được sử dụng trong nghiên cứu học thuật, khoa học vật liệu hay kiểm soát chất lượng công nghiệp, kính hiển vi lực quét này là một công cụ mạnh mẽ và linh hoạt, đáp ứng nhu cầu khắt khe về đặc tính bề mặt ở cấp độ nano.

Bằng cách kết hợp thiết kế cơ học mạnh mẽ, các chế độ đo linh hoạt và độ phân giải đặc biệt, AFM này nổi bật như một công cụ thiết yếu cho bất kỳ ai muốn khám phá và tìm hiểu sự phức tạp của các bề mặt ở quy mô nanomet. Khả năng đa chức năng của nó khiến nó trở nên lý tưởng cho nhiều ứng dụng, cung cấp cho các nhà nghiên cứu và kỹ sư những hiểu biết chi tiết cần thiết để vượt qua ranh giới của công nghệ nano và khoa học vật liệu.

Đặc trưng:

• Tên sản phẩm: Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM)
• Phạm vi quét: 100 mm * 100 mm * 10 mm
• Điểm lấy mẫu hình ảnh: 32*32 đến 4096*4096
• Phương pháp quét: Quét toàn mẫu ba trục XYZ
• Góc quét: 0 ~ 360°
• Cỡ mẫu: Tương thích với các mẫu có đường kính 25 mm
• Chế độ quét không tiếp xúc để phân tích bề mặt chính xác
• Khả năng lập bản đồ thuộc tính bề mặt để mô tả đặc tính vật liệu chi tiết

Thông số kỹ thuật:

Ứng dụng:

Kính hiển vi lực nguyên tử AtomEdge Pro của Truth Instruments, có xuất xứ từ Trung Quốc, là một công cụ tiên tiến được thiết kế cho nhiều ứng dụng khoa học và công nghiệp. Các chế độ vận hành linh hoạt của nó—bao gồm Chế độ tiếp xúc, Chế độ chạm, Chế độ chụp ảnh pha, Chế độ nâng và Chế độ quét đa hướng—cho phép các nhà nghiên cứu tiến hành phân tích bề mặt chính xác trong nhiều điều kiện khác nhau. Tính linh hoạt này làm cho AtomEdge Pro trở nên lý tưởng để lập bản đồ đặc tính bề mặt chi tiết và tạo ảnh có độ phân giải cao.

Một trong những dịp ứng dụng nổi bật của AtomEdge Pro là trong các phòng thí nghiệm khoa học vật liệu, nơi việc điều tra chi tiết về địa hình và đặc tính cơ học là rất quan trọng. Phạm vi góc quét đặc biệt của thiết bị là 0~360° và độ phi tuyến thấp theo hướng XY (0,02%) và hướng Z (0,08%) đảm bảo thu thập dữ liệu có độ chính xác cao và có thể tái tạo. Độ chính xác này rất quan trọng khi kiểm tra các đặc điểm bề mặt ở cấp độ nano và hiểu được các tính chất cơ bản của vật liệu mới.

Trong nghiên cứu và phát triển chất bán dẫn, AtomEdge Pro đóng một vai trò quan trọng bằng cách kích hoạt Kính hiển vi thăm dò Kelvin quét (SKPM), thiết bị cần thiết để lập bản đồ điện thế bề mặt điện mà không xâm lấn. Khả năng không tiếp xúc của kỹ thuật này cho phép phát hiện nhạy cảm các biến thể chức năng công việc và phân bố điện tích trên bề mặt bán dẫn mà không làm hỏng các mẫu mỏng manh. Điều này làm cho AtomEdge Pro trở thành công cụ không thể thiếu để kiểm soát chất lượng và tối ưu hóa thiết bị trong ngành điện tử.

Khả năng tương thích với các mẫu có đường kính lên tới 25 mm giúp AtomEdge Pro phù hợp với nhiều loại mẫu khác nhau, từ màng mỏng và lớp phủ cho đến mẫu vật sinh học. Trong công nghệ sinh học và khoa học đời sống, các điểm lấy mẫu hình ảnh cao của thiết bị—từ 32*32 đến 4096*4096—cung cấp hình ảnh chi tiết về cấu trúc tế bào và tương tác phân tử sinh học, tạo điều kiện cho những đột phá trong nghiên cứu y học và phát triển dược phẩm.

Ngoài ra, AtomEdge Pro được sử dụng rộng rãi trong nghiên cứu hóa học bề mặt và công nghệ nano nhờ khả năng thực hiện lập bản đồ đặc tính bề mặt toàn diện. Các nhà nghiên cứu có thể phân tích các đặc tính bám dính, ma sát và từ tính ở cấp độ nano, tạo ra những hiểu biết quan trọng về hiện tượng bề mặt. Chế độ quét đa hướng nâng cao hơn nữa khả năng của kính hiển vi để thu thập hình học bề mặt phức tạp một cách chính xác.

Nhìn chung, Kính hiển vi lực nguyên tử AtomEdge Pro của Truth Instruments là một thiết bị mạnh mẽ và linh hoạt phù hợp cho các trường hợp và tình huống khác nhau đòi hỏi đặc tính bề mặt chính xác, hình ảnh không tiếp xúc và các kỹ thuật quét nâng cao như Kính hiển vi thăm dò quét Kelvin. Thiết kế mạnh mẽ và bộ tính năng toàn diện khiến nó trở thành tài sản quý giá trong nghiên cứu khoa học, đảm bảo chất lượng công nghiệp và phát triển công nghệ đổi mới.