Modes MFM/KPFM pour la caractérisation de matériaux nanométriques de haute précision

Description du produit :

Le microscope à force atomique (AFM) est un microscope à force à balayage de pointe, à la pointe de la technologie, conçu pour offrir des capacités d'imagerie et de mesure inégalées à l'échelle nanométrique. Grâce à sa méthode de balayage complète de l'échantillon sur trois axes XYZ, ce AFM permet un examen précis et complet des surfaces des échantillons, garantissant une grande précision et une grande reproductibilité dans la recherche à l'échelle nanométrique et les applications industrielles. La capacité de balayage complet de l'échantillon permet au microscope de balayer toute la zone de l'échantillon, fournissant un profil de surface détaillé et complet.

L'une des caractéristiques exceptionnelles de ce microscope à force atomique est sa compatibilité avec des échantillons allant jusqu'à 25 mm de diamètre. Cette accommodation généreuse de la taille des échantillons le rend polyvalent pour un large éventail d'enquêtes scientifiques et d'analyses de matériaux, des plaquettes de semi-conducteurs aux spécimens biologiques. Les chercheurs et les ingénieurs peuvent étudier en toute confiance des échantillons plus grands ou de forme irrégulière sans compromettre la résolution ou la précision du balayage.

La précision et l'exactitude sont essentielles dans les mesures à l'échelle nanométrique, et ce AFM excelle à cet égard. Il affiche une non-linéarité exceptionnellement faible, avec seulement 0,02 % dans la direction XY et 0,08 % dans la direction Z. Une non-linéarité aussi minime garantit que les données de position collectées pendant le balayage sont très fiables, réduisant la distorsion et améliorant la fidélité des images de la topologie de surface. Cette précision contribue de manière significative à l'obtention d'une résolution nanométrique, permettant aux utilisateurs d'explorer les caractéristiques de surface à l'échelle atomique ou moléculaire.

La plage d'angle de balayage de 0 à 360 degrés améliore encore la flexibilité de ce microscope à force à balayage. Cette capacité de balayage rotatif complet permet aux utilisateurs d'inspecter et d'analyser les caractéristiques de surface à partir de n'importe quelle orientation, ce qui conduit à une collecte de données plus complète et à une meilleure compréhension des propriétés et des comportements de surface. Cette capacité est particulièrement bénéfique lors de l'examen de matériaux anisotropes ou de géométries de surface complexes.

Ce qui distingue vraiment ce microscope à force atomique, ce sont ses capacités de mesure multifonctionnelles. Il prend en charge plusieurs modes de fonctionnement, notamment la microscopie à force électrostatique (EFM), la microscopie à force à sonde Kelvin (KPFM), la microscopie à force piézoélectrique (PFM), la microscopie capacitive à balayage (SCM) et la microscopie à force magnétique (MFM). Chacun de ces modes fournit des informations uniques sur les différentes propriétés physiques de l'échantillon, telles que les caractéristiques électriques, magnétiques et piézoélectriques, ce qui permet une caractérisation complète de la surface dans un seul instrument.

De plus, l'AFM offre un mode de microscopie à force atomique conductrice (C-AFM) en option, qui étend ses fonctionnalités pour inclure des mesures de conductivité électrique à l'échelle nanométrique. Ce mode optionnel est inestimable pour les chercheurs travaillant sur la nanoélectronique, la science des matériaux et le développement de dispositifs à semi-conducteurs, où la compréhension des voies de conduction électrique est essentielle.

Dans l'ensemble, ce microscope à force atomique intègre plusieurs modes et une technologie de balayage avancée pour fournir une imagerie à résolution nanométrique et une analyse de surface multifonctionnelle. Sa méthode de balayage complète de l'échantillon sur trois axes XYZ assure une couverture approfondie et précise des échantillons jusqu'à 25 mm de diamètre, tandis que sa faible non-linéarité et son angle de balayage complet à 360 degrés garantissent une collecte de données de haute fidélité. Qu'il soit utilisé dans la recherche universitaire, la science des matériaux ou le contrôle qualité industriel, ce microscope à force à balayage est un outil puissant et polyvalent qui répond aux besoins exigeants de la caractérisation de surface à l'échelle nanométrique.

En combinant une conception mécanique robuste, des modes de mesure polyvalents et une résolution exceptionnelle, cet AFM se distingue comme un instrument essentiel pour tous ceux qui cherchent à explorer et à comprendre les complexités des surfaces à l'échelle nanométrique. Ses capacités multifonctionnelles en font l'instrument idéal pour un large éventail d'applications, offrant aux chercheurs et aux ingénieurs les informations détaillées nécessaires pour repousser les limites de la nanotechnologie et de la science des matériaux.

Caractéristiques :

• Nom du produit : Microscope à force atomique (AFM)
• Plage de balayage : 100 µm * 100 µm * 10 µm
• Points d'échantillonnage d'image : 32*32 à 4096*4096
• Méthode de balayage : Balayage complet de l'échantillon sur trois axes XYZ
• Angle de balayage : 0~360°
• Taille de l'échantillon : Compatible avec les échantillons d'un diamètre de 25 mm
• Mode de balayage sans contact pour une analyse précise de la surface
• Capacités de cartographie des propriétés de surface pour une caractérisation détaillée des matériaux

Paramètres techniques :

Applications :

Le microscope à force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments, originaire de Chine, est un outil avancé conçu pour un large éventail d'applications scientifiques et industrielles. Ses modes de fonctionnement polyvalents, notamment le mode contact, le mode tapotement, le mode d'imagerie de phase, le mode levage et le mode de balayage multidirectionnel, permettent aux chercheurs d'effectuer une analyse précise de la surface dans diverses conditions. Cette flexibilité rend l'AtomEdge Pro idéal pour la cartographie détaillée des propriétés de surface et l'imagerie haute résolution.

L'une des principales occasions d'application de l'AtomEdge Pro est dans les laboratoires de science des matériaux où les enquêtes détaillées sur les propriétés topographiques et mécaniques sont cruciales. La plage d'angle de balayage exceptionnelle de l'appareil de 0~360° et la faible non-linéarité dans la direction XY (0,02 %) et la direction Z (0,08 %) garantissent une collecte de données très précise et reproductible. Cette précision est essentielle lors de l'examen des caractéristiques de surface à l'échelle nanométrique et de la compréhension des propriétés fondamentales des nouveaux matériaux.

Dans la recherche et le développement de semi-conducteurs, l'AtomEdge Pro joue un rôle important en permettant la microscopie à sonde Kelvin à balayage (SKPM), qui est essentielle pour cartographier les potentiels de surface électriques de manière non invasive. La capacité sans contact de cette technique permet une détection sensible des variations de la fonction de travail et des distributions de charge sur les surfaces des semi-conducteurs sans endommager les échantillons délicats. Cela fait de l'AtomEdge Pro un outil indispensable pour le contrôle qualité et l'optimisation des appareils dans l'industrie électronique.

La compatibilité avec des échantillons allant jusqu'à 25 mm de diamètre rend l'AtomEdge Pro adapté à divers types d'échantillons, des films minces et des revêtements aux spécimens biologiques. En biotechnologie et en sciences de la vie, les points d'échantillonnage d'image élevés de l'instrument, allant de 32*32 à 4096*4096, offrent une visualisation détaillée des structures cellulaires et des interactions biomoléculaires, facilitant les percées dans la recherche médicale et le développement pharmaceutique.

De plus, l'AtomEdge Pro est largement utilisé dans la recherche en chimie de surface et en nanotechnologie pour sa capacité à effectuer une cartographie complète des propriétés de surface. Les chercheurs peuvent analyser l'adhérence, le frottement et les propriétés magnétiques à l'échelle nanométrique, générant des informations critiques sur les phénomènes de surface. Le mode de balayage multidirectionnel améliore encore la capacité du microscope à capturer avec précision des géométries de surface complexes.

Dans l'ensemble, le microscope à force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments est un instrument puissant et polyvalent adapté à diverses occasions et scénarios qui exigent une caractérisation précise de la surface, une imagerie sans contact et des techniques de balayage avancées comme la microscopie à sonde Kelvin à balayage. Sa conception robuste et son ensemble complet de fonctionnalités en font un atout précieux dans la recherche scientifique, l'assurance qualité industrielle et le développement technologique innovant.