Mode MFM/KPFM untuk Karakterisasi Bahan Nanoskala Presisi Tinggi

Deskripsi produk:

Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah mikroskop kekuatan pemindaian mutakhir yang dirancang untuk memberikan kemampuan pencitraan dan pengukuran yang tak tertandingi pada skala nano.Dengan metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ yang canggih, AFM ini memungkinkan pemeriksaan yang tepat dan komprehensif dari permukaan sampel, memastikan akurasi tinggi dan repeatability dalam penelitian nanoscale dan aplikasi industri.Kemampuan pemindaian sampel penuh memungkinkan mikroskop untuk memindai seluruh area sampel, memberikan profil permukaan yang rinci dan lengkap.

Salah satu fitur yang menonjol dari Mikroskop Kekuatan Atom ini adalah kompatibilitasnya dengan sampel hingga diameter 25 mm.Ukuran sampel yang murah hati ini membuatnya serbaguna untuk berbagai penyelidikan ilmiah dan analisis bahanPeneliti dan insinyur dapat dengan percaya diri mempelajari sampel yang lebih besar atau berbentuk tidak teratur tanpa mengorbankan resolusi atau presisi pemindaian.

Keakuratan dan akurasi sangat penting dalam pengukuran skala nano, dan AFM ini unggul dalam hal ini.08% ke arah ZNonlinearitas minimal ini memastikan bahwa data posisi yang dikumpulkan selama pemindaian sangat dapat diandalkan, mengurangi distorsi dan meningkatkan keaslian gambar topologi permukaan.Keakuratan ini berkontribusi secara signifikan untuk mencapai resolusi nanometer, memungkinkan pengguna untuk mengeksplorasi fitur permukaan pada skala atom atau molekul.

Kisaran sudut pemindaian dari 0 sampai 360 derajat semakin meningkatkan fleksibilitas mikroskop kekuatan pemindaian ini.Kemampuan pemindaian putaran penuh ini memungkinkan pengguna untuk memeriksa dan menganalisis fitur permukaan dari orientasi apa pun, yang mengarah pada pengumpulan data yang lebih komprehensif dan pemahaman yang lebih baik tentang sifat dan perilaku permukaan.Kemampuan ini sangat bermanfaat saat memeriksa bahan anisotropik atau geometri permukaan yang kompleks.

Apa yang benar-benar membedakan Mikroskop Kekuatan Atom ini adalah kemampuan pengukuran multifungsi.Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Mikroskopi Kekuatan Piezoelektrik (PFM), Mikroskopi Kapasitif Pemindaian (SCM), dan Mikroskopi Kekuatan Magnetik (MFM).Masing-masing mode ini memberikan wawasan unik tentang sifat fisik sampel yang berbeda, seperti karakteristik listrik, magnet, dan piezoelektrik, memungkinkan karakteristik permukaan yang komprehensif dalam satu instrumen.

Selain itu, AFM menawarkan mode Mikroskopi Kekuatan Atom Konduktif (C-AFM) opsional, yang memperluas fungsinya untuk mencakup pengukuran konduktivitas listrik pada skala nano.Mode opsional ini sangat berharga bagi peneliti yang bekerja pada nanoelektronika, ilmu material, dan pengembangan perangkat semikonduktor, di mana pemahaman jalur konduksi listrik sangat penting.

Secara keseluruhan, Mikroskop Kekuatan Atom ini mengintegrasikan beberapa mode dan teknologi pemindaian canggih untuk memberikan pencitraan resolusi nanometer dan analisis permukaan multifungsi.Metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ memastikan cakupan sampel yang menyeluruh dan tepat hingga diameter 25 mm, sementara nonlinearitas rendah dan sudut pemindaian penuh 360 derajat menjamin pengumpulan data yang sangat akurat.mikroskop kekuatan pemindaian ini adalah alat yang kuat dan serbaguna yang memenuhi kebutuhan menuntut karakteristik permukaan nanoscale.

Dengan menggabungkan desain mekanik yang kuat, modus pengukuran serbaguna, dan resolusi yang luar biasa,AFM ini menonjol sebagai instrumen penting bagi siapa saja yang ingin mengeksplorasi dan memahami kompleksitas permukaan pada skala nanometerKemampuan multifungsi membuatnya ideal untuk berbagai aplikasi,menyediakan peneliti dan insinyur dengan wawasan rinci yang diperlukan untuk mendorong batas-batas nanoteknologi dan ilmu material.

Fitur:

• Nama produk: Atomic Force Microscope (AFM)
• Jangkauan pemindaian: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Titik Sampling Gambar: 32*32 sampai 4096*4096
• Metode pemindaian: XYZ Pemindaian Sampel Seluruh Tiga sumbu
• Sudut pemindaian: 0~360°
• Ukuran sampel: Kompatibel dengan sampel dengan diameter 25 mm
• Mode pemindaian tanpa kontak untuk analisis permukaan yang tepat
• Kemampuan pemetaan sifat permukaan untuk karakteristik material yang rinci

Parameter teknis:

Aplikasi:

Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, yang berasal dari China, adalah alat canggih yang dirancang untuk berbagai aplikasi ilmiah dan industri.Mode operasi serbaguna termasuk Mode Kontak, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode, dan Multi-Directional Scanning Mode memungkinkan peneliti untuk melakukan analisis permukaan yang tepat dalam berbagai kondisi.Fleksibilitas ini membuat AtomEdge Pro ideal untuk pemetaan properti permukaan rinci dan pencitraan resolusi tinggi.

Salah satu kesempatan aplikasi yang menonjol untuk AtomEdge Pro adalah di laboratorium ilmu material di mana penyelidikan sifat topografi dan mekanik yang rinci sangat penting.Perangkat ini memiliki kisaran sudut pemindaian yang luar biasa dari 0 ~ 360 ° dan nonlinearitas rendah dalam arah XY (0.02%) dan arah Z (0.08%) memastikan pengumpulan data yang sangat akurat dan dapat direproduksi.Keakuratan ini sangat penting ketika memeriksa fitur permukaan nanoscale dan memahami sifat dasar bahan baru.

Dalam penelitian dan pengembangan semikonduktor, AtomEdge Pro memainkan peran penting dengan memungkinkan Scanning Kelvin Probe Microscopy (SKPM),yang penting untuk memetakan potensi permukaan listrik secara non-invasifKemampuan non-kontak dari teknik ini memungkinkan deteksi sensitif dari variasi fungsi kerja dan distribusi muatan pada permukaan semikonduktor tanpa merusak sampel halus.Hal ini membuat AtomEdge Pro alat yang sangat diperlukan untuk kontrol kualitas dan optimasi perangkat di industri elektronik.

Kompatibilitas dengan sampel dengan diameter hingga 25 mm membuat AtomEdge Pro cocok untuk berbagai jenis sampel, dari film tipis dan pelapis hingga spesimen biologis.Dalam bioteknologi dan ilmu kehidupan, titik pengambilan sampel gambar yang tinggi dari 32*32 sampai 4096*4096 menawarkan visualisasi detail struktur sel dan interaksi biomolekul,Memfasilitasi terobosan dalam penelitian medis dan pengembangan farmasi.

Selain itu, AtomEdge Pro banyak digunakan dalam kimia permukaan dan penelitian nanoteknologi karena kemampuannya untuk melakukan pemetaan sifat permukaan yang komprehensif.gesekan, dan sifat magnetik pada skala nano, menghasilkan wawasan kritis tentang fenomena permukaan.Mode pemindaian multi arah lebih meningkatkan kemampuan mikroskop untuk menangkap geometri permukaan yang kompleks dengan akurat.

Secara keseluruhan, Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope adalah instrumen yang kuat dan serbaguna yang cocok untuk berbagai kesempatan dan skenario yang menuntut karakteristik permukaan yang tepat,pencitraan tanpa kontak, dan teknik pemindaian canggih seperti Scanning Kelvin Probe Microscopy.jaminan kualitas industri, dan pengembangan teknologi inovatif.