Modos MFM/KPFM para la caracterización de materiales a nanoescala de alta precisión

Descripción del producto:

El microscopio de fuerza atómica (AFM) es un microscopio de fuerza de escaneo de última generación diseñado para proporcionar capacidades de imagen y medición sin precedentes a nanoescala.Con su avanzado método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ, este AFM permite un examen preciso y exhaustivo de las superficies de las muestras, garantizando una alta precisión y repetibilidad en la investigación a nanoescala y las aplicaciones industriales.La capacidad de escaneo de muestra completa permite al microscopio escanear toda la zona de la muestra, proporcionando un perfil de superficie detallado y completo.

Una de las características más destacadas de este microscopio de fuerza atómica es su compatibilidad con muestras de hasta 25 mm de diámetro.Este generoso tamaño de muestra lo hace versátil para una amplia gama de investigaciones científicas y análisis de materialesLos investigadores e ingenieros pueden estudiar con confianza muestras más grandes o de forma irregular sin comprometer la resolución o la precisión del escaneo.

La precisión y la exactitud son críticas en las mediciones a nanoescala, y este AFM sobresale en este sentido.08% en dirección ZDicha no linealidad mínima garantiza que los datos de posición recogidos durante el escaneo sean altamente confiables, reduciendo la distorsión y mejorando la fidelidad de las imágenes de topología de superficie.Esta precisión contribuye significativamente a lograr una resolución nanométrica, lo que permite a los usuarios explorar las características de la superficie a escala atómica o molecular.

El rango de ángulo de escaneo de 0 a 360 grados mejora aún más la flexibilidad de este microscopio de fuerza de escaneo.Esta capacidad de escaneo de rotación completa permite a los usuarios inspeccionar y analizar las características de la superficie desde cualquier orientación, lo que conduce a una recopilación de datos más completa y una mejor comprensión de las propiedades y comportamientos de la superficie.Esta capacidad es particularmente beneficiosa cuando se examinan materiales anisotrópicos o geometrías superficiales complejas.

Lo que realmente distingue a este microscopio de fuerza atómica son sus capacidades de medición multifuncionales.Microscopía de fuerza de la sonda de escaneo Kelvin (KPFM), Microscopía de fuerza piezoeléctrica (PFM), Microscopía capacitiva de escaneo (SCM) y Microscopía de fuerza magnética (MFM).Cada uno de estos modos proporciona información única sobre las diferentes propiedades físicas de la muestra, como las características eléctricas, magnéticas y piezoeléctricas, lo que permite una caracterización completa de la superficie en un solo instrumento.

Además, el AFM ofrece un modo opcional de Microscopia de Fuerza Atómica Conductiva (C-AFM), que amplía su funcionalidad para incluir mediciones de conductividad eléctrica a nanoescala.Este modo opcional es invaluable para los investigadores que trabajan en nanoelectrónica, ciencia de materiales y desarrollo de dispositivos semiconductores, donde es esencial comprender las vías de conducción eléctrica.

En general, este microscopio de fuerza atómica integra múltiples modos y tecnología de escaneo avanzada para ofrecer imágenes de resolución nanométrica y análisis de superficie multifuncional.Su método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ garantiza una cobertura completa y precisa de muestras de hasta 25 mm de diámetro, mientras que su baja no linealidad y su ángulo de escaneo de 360 grados garantizan una recopilación de datos de alta fidelidad.Este microscopio de fuerza de escaneo es una herramienta poderosa y versátil que satisface las exigentes necesidades de caracterización de superficies a nanoescala.

Al combinar un diseño mecánico robusto, modos de medición versátiles y una resolución excepcional,Este AFM se destaca como un instrumento esencial para cualquiera que busque explorar y comprender la complejidad de las superficies a escala nanométricaSus capacidades multifuncionales lo hacen ideal para una amplia gama de aplicaciones.proporcionar a investigadores e ingenieros los conocimientos detallados necesarios para ampliar los límites de la nanotecnología y la ciencia de los materiales.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de fuerza atómica (AFM)
• Rango de exploración: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Puntos de muestreo de imágenes: 32*32 a 4096*4096
• Método de escaneo: escaneo de muestra completa en tres ejes XYZ
• Ángulo de exploración: 0~360°
• Tamaño de la muestra: compatible con muestras con un diámetro de 25 mm
• Modo de escaneo sin contacto para un análisis de superficie preciso
• Capacidades de mapeo de propiedades superficiales para la caracterización detallada de materiales

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

El Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, originario de China, es una herramienta avanzada diseñada para una amplia gama de aplicaciones científicas e industriales.Sus modos de funcionamiento versátiles, incluido el modo de contacto, Modo de toque, Modo de imagen de fase, Modo de elevación y Modo de escaneo multidireccional permiten a los investigadores realizar análisis de superficie precisos en diversas condiciones.Esta flexibilidad hace que el AtomEdge Pro sea ideal para el mapeo detallado de las propiedades de la superficie y la obtención de imágenes de alta resolución.

Una de las ocasiones de aplicación más destacadas para el AtomEdge Pro es en laboratorios de ciencias de materiales donde las investigaciones detalladas de propiedades topográficas y mecánicas son cruciales.El dispositivo tiene un rango excepcional de ángulo de escaneo de 0 a 360° y una baja no linealidad en la dirección XY (0.02%) y la dirección Z (0.08%) garantizan una recopilación de datos muy precisa y reproducible.Esta precisión es vital para examinar las características de la superficie a nanoescala y comprender las propiedades fundamentales de los nuevos materiales.

En la investigación y el desarrollo de semiconductores, el AtomEdge Pro desempeña un papel importante al permitir la microscopía de sonda de escaneo Kelvin (SKPM),que es esencial para mapear potenciales de superficie eléctrica de forma no invasivaLa capacidad sin contacto de esta técnica permite la detección sensible de las variaciones de la función de trabajo y las distribuciones de carga en las superficies de los semiconductores sin dañar las muestras delicadas.Esto hace del AtomEdge Pro una herramienta indispensable para el control de calidad y la optimización de dispositivos en la industria electrónica..

La compatibilidad con muestras de hasta 25 mm de diámetro hace que el AtomEdge Pro sea adecuado para varios tipos de muestras, desde películas finas y recubrimientos hasta muestras biológicas.En biotecnología y ciencias de la vida, los puntos de muestreo de la imagen de alto alcance del instrumento, que van desde 32*32 hasta 4096*4096, ofrecen una visualización detallada de las estructuras celulares y las interacciones biomoleculares,facilitar los avances en la investigación médica y el desarrollo farmacéutico.

Además, el AtomEdge Pro se utiliza ampliamente en la química de superficies y la investigación de nanotecnología por su capacidad para realizar un mapeo completo de las propiedades de la superficie.fricción, y propiedades magnéticas a nanoescala, generando conocimientos críticos sobre los fenómenos de la superficie.El modo de escaneo multidireccional mejora aún más la capacidad del microscopio para capturar con precisión geometrías superficiales complejas.

En general, el Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope es un instrumento potente y versátil adecuado para diversas ocasiones y escenarios que requieren una caracterización precisa de la superficie.imágenes sin contactoSu robusto diseño y amplio conjunto de características lo convierten en un activo valioso en toda la investigación científica.garantía de calidad industrial, y el desarrollo de tecnologías innovadoras.