Modos MFM/KPFM para caracterização de materiais em nanoescala de alta precisão

Descrição do produto:

O microscópio de força atômica (AFM) é um microscópio de força de varredura de última geração projetado para fornecer capacidades de imagem e medição incomparáveis na nanoescala.Com o seu avançado método de varredura de amostra completa XYZ de três eixos, este AFM permite um exame preciso e abrangente das superfícies das amostras, garantindo uma elevada precisão e repetibilidade na investigação em nanoescala e aplicações industriais.A capacidade de varredura de amostra completa permite ao microscópio varrer toda a área da amostra, proporcionando um perfil de superfície detalhado e completo.

Uma das características destacadas deste microscópio de força atômica é a sua compatibilidade com amostras de até 25 mm de diâmetro.Esta generosa adaptação do tamanho da amostra torna-o versátil para uma ampla gama de investigações científicas e análises de materiaisOs investigadores e os engenheiros podem estudar com confiança amostras maiores ou de forma irregular sem comprometer a resolução ou a precisão da digitalização.

A precisão e a precisão são críticas nas medições em nanoescala, e este AFM se destaca neste sentido.08% na direcção ZTal não-linearidade mínima garante que os dados posicionais recolhidos durante a varredura sejam altamente fiáveis, reduzindo a distorção e aumentando a fidelidade das imagens topológicas de superfície.Esta precisão contribui significativamente para alcançar a resolução nanométrica, permitindo que os utilizadores explorem as características da superfície em escala atómica ou molecular.

O ângulo de varredura de 0 a 360 graus aumenta ainda mais a flexibilidade deste microscópio de força de varredura.Esta capacidade de varredura rotacional completa permite aos usuários inspecionar e analisar as características da superfície de qualquer orientação, levando a uma coleta de dados mais abrangente e uma melhor compreensão das propriedades e comportamentos da superfície.Esta capacidade é particularmente benéfica quando se examinam materiais anisotrópicos ou geometrias de superfície complexas.

O que realmente distingue este microscópio de força atômica são as suas capacidades de medição multifuncionais.Microscopia de força de sonda de escaneamento Kelvin (KPFM), Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM), Microscopia Capacitiva de Análise (SCM) e Microscopia de Força Magnética (MFM).Cada um destes modos fornece informações únicas sobre diferentes propriedades físicas da amostra, tais como características elétricas, magnéticas e piezoelétricas, permitindo uma caracterização abrangente da superfície num único instrumento.

Além disso, o AFM oferece um modo opcional de Microscopia de Força Atômica Condutora (C-AFM), que expande sua funcionalidade para incluir medições de condutividade elétrica na nanoescala.Este modo opcional é inestimável para os investigadores que trabalham em nanoelectrónica, ciência dos materiais e desenvolvimento de dispositivos semicondutores, onde a compreensão das vias de condução elétrica é essencial.

No geral, este microscópio de força atômica integra vários modos e tecnologia avançada de digitalização para fornecer imagens de resolução nanométrica e análise de superfície multifuncional.O seu método de varredura de amostras completas XYZ de três eixos garante uma cobertura completa e precisa de amostras de até 25 mm de diâmetro, enquanto a sua baixa não-linearidade e o ângulo de digitalização de 360 graus garantem uma coleta de dados de alta fidelidade.Este microscópio de força de varredura é uma ferramenta poderosa e versátil que atende às exigentes necessidades de caracterização de superfície em nanoescala.

Combinando um design mecânico robusto, modos de medição versáteis e uma resolução excepcional,Este AFM destaca-se como um instrumento essencial para quem procura explorar e compreender a complexidade das superfícies na escala nanométricaAs suas capacidades multifuncionais tornam-no ideal para uma ampla gama de aplicações.fornecer aos investigadores e engenheiros os conhecimentos detalhados necessários para ampliar os limites da nanotecnologia e da ciência dos materiais.

Características:

• Nome do produto: Microscópio de Força Atómica (AFM)
• Faixa de digitalização: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Pontos de amostragem de imagem: 32*32 a 4096*4096
• Método de varredura: varredura de amostra completa em três eixos XYZ
• Ângulo de digitalização: 0~360°
• Tamanho da amostra: compatível com amostras com um diâmetro de 25 mm
• Modo de varredura sem contacto para análise de superfície precisa
• Capacidades de mapeamento de propriedades de superfície para caracterização detalhada de materiais

Parâmetros técnicos:

Aplicações:

O Microscópio de Força Atómica AtomEdge Pro da Truth Instruments, originário da China, é uma ferramenta avançada concebida para uma ampla gama de aplicações científicas e industriais.Os seus modos de funcionamento versáteis, incluindo o modo de contacto, Modo Tap, Modo de Imagem de Fase, Modo de Elevação e Modo de Análise Multi-Direcional permitem aos pesquisadores realizar análises de superfície precisas em várias condições.Esta flexibilidade torna o AtomEdge Pro ideal para mapeamento detalhado de propriedades da superfície e imagens de alta resolução.

Uma das ocasiões de aplicação mais proeminentes para o AtomEdge Pro é em laboratórios de ciência de materiais, onde investigações detalhadas de propriedades topográficas e mecânicas são cruciais.O dispositivo possui uma gama de ângulos de varredura excepcionais de 0 a 360° e uma baixa não linearidade na direcção XY (00,02%) e a direcção Z (0,08%) garantem uma recolha de dados altamente precisa e reprodutível.Esta precisão é vital ao examinar as características da superfície em nanoescala e compreender as propriedades fundamentais de novos materiais.

Na investigação e desenvolvimento de semicondutores, o AtomEdge Pro desempenha um papel significativo, permitindo a Microscopia de Sondagem por Escaneamento Kelvin (SKPM),que é essencial para mapear potenciais de superfície elétrica de forma não invasivaA capacidade sem contacto desta técnica permite a detecção sensível de variações da função de trabalho e distribuições de carga nas superfícies dos semicondutores sem danificar amostras delicadas.Isso faz do AtomEdge Pro uma ferramenta indispensável para controle de qualidade e otimização de dispositivos na indústria eletrônica.

A compatibilidade com amostras de até 25 mm de diâmetro torna o AtomEdge Pro adequado para vários tipos de amostras, desde filmes finos e revestimentos até amostras biológicas.Em biotecnologia e ciências da vida, os pontos de amostragem de imagem elevados do instrumento, que variam de 32*32 a 4096*4096, permitem visualizar detalhadamente as estruturas celulares e as interações biomoleculares,Facilitar avanços na investigação médica e no desenvolvimento farmacêutico.

Além disso, o AtomEdge Pro é amplamente utilizado em química de superfície e pesquisa de nanotecnologia por sua capacidade de realizar mapeamento abrangente de propriedades de superfície.fricção, e propriedades magnéticas na nanoescala, gerando insights críticos sobre fenômenos de superfície.O modo de varredura multidirecional aumenta ainda mais a capacidade do microscópio de capturar com precisão geometrias de superfícies complexas.

Em geral, o Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope é um instrumento poderoso e versátil adequado para diversas ocasiões e cenários que exigem uma caracterização precisa da superfície,Imagem sem contactoO seu design robusto e conjunto de características completas tornam-no um activo valioso em toda a investigação científica.Garantia da qualidade industrial, e desenvolvimento de tecnologias inovadoras.