Microscopio multifunzionale della forza atomica Modello di prodotto: AtomEdge Pro Descrizione del prodotto: Il microscopio di forza atomica multifunzionale AtomEdge Pro può effettuare scansioni tridimensionali su materiali, dispositivi elettronici, campioni biologici, ecc.Dispone di modalità di ...

Potenziale Nanoscopico con Microscopio a Forza Atomica per Imaging ad Alta Risoluzione Descrizione del Prodotto: Una delle caratteristiche principali dell'AFM è la sua impressionante gamma di scansione, che misura 100 μm X 100 μm X 10 μm. Questa ampia gamma consente l'imaging e l'analisi dettagliati ...

Microscopio avanzato di forza atomica per immagini ad alta risoluzione Descrizione del prodotto: Il microscopio della forza atomica è uno strumento di ultima generazione progettato per l'imaging ad alta risoluzione e l'analisi su nanoscala.questo AFM offre capacità di imaging a risoluzione atomica ...

Microscopio Magneto-Ottico Kerr Multifunzionale per Spin-Test Modello del Prodotto: KMPL-S Descrizione dell'Equipaggiamento: Questo strumento consente l'imaging ad alta risoluzione dei domini magnetici di materiali magnetici e chip spintronici, con una risoluzione fino a 250 nm. È dotato di un ...

Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è uno strumento altamente avanzato e versatile progettato per fornire una precisa caratterizzazione della superficie attraverso molteplici modalità operative. Questo microscopio multifunzionale integra una serie di tecniche tra cui la ...

Descrizione del prodotto:Il microscopio della forza atomica (AFM) è uno strumento altamente avanzato progettato per la misurazione multifunzionale, offrendo una versatilità e precisione senza pari nell'imaging e nell'analisi su scala nanometrica.Questo AFM all'avanguardia integra una varietà di ...

Descrizione del prodotto:Il microscopio di forza atomica di tipo base è uno strumento all'avanguardia progettato per fornire analisi superficiali precise e ad alta risoluzione attraverso capacità di scansione avanzate.Utilizzo di un metodo di scansione a campione completo a tre assi XYZ, questo ...

Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è una piattaforma di caratterizzazione nanoscopica all'avanguardia progettata per fornire precisione e versatilità senza pari nell'analisi delle superfici. Con una capacità di dimensioni del campione fino a 25 mm, questo strumento è ...

Descrizione del prodotto: Il microscopio di forza atomica di tipo base (AFM) è uno strumento altamente versatile e affidabile progettato per fornire immagini topografiche precise su scala nanometrica con una precisione e una stabilità eccezionali.Progettato per ricercatori e professionisti che ...