Imaging 3D su scala nanometrica per la ricerca sui semiconduttori e sui materiali avanzati

Descrizione del prodotto:

Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è uno strumento altamente avanzato e versatile progettato per fornire una precisa caratterizzazione della superficie attraverso molteplici modalità operative. Questo microscopio multifunzionale integra una serie di tecniche tra cui la Microscopia a Forza Elettrostatica (EFM), la Microscopia a Forza a Sonda Kelvin (KPFM), la Microscopia a Forza Piezoelettrica (PFM), la Microscopia a Capacità di Scansione (SCM) e la Microscopia a Forza Magnetica (MFM). Inoltre, offre una modalità opzionale di Microscopia a Forza Atomica Conduttiva (C-AFM), che consente agli utenti di espandere le sue capacità per le misurazioni delle proprietà elettriche. La combinazione di queste modalità rende l'AFM uno strumento indispensabile per ricercatori e ingegneri che lavorano nel campo della scienza dei materiali, della nanotecnologia e delle industrie dei semiconduttori.

Una delle caratteristiche principali di questo AFM è la sua gamma di scansione completa, che copre 100 μm * 100 μm nelle direzioni laterali e 10 μm nella direzione verticale. Questa vasta gamma consente un'analisi dettagliata di un'ampia varietà di tipi e dimensioni di campioni, offrendo flessibilità e precisione nell'imaging e nella misurazione. Lo strumento è compatibile con campioni fino a 25 mm di diametro, accogliendo un ampio spettro di dimensioni dei campioni senza la necessità di montaggio o preparazione speciali, migliorando così la praticità e la produttività dell'utente.

Le capacità di scansione di questo AFM sono ulteriormente migliorate dal suo metodo di scansione a tre assi XYZ a campione completo. Questo approccio di scansione avanzato consente una mappatura completa e accurata delle superfici dei campioni, fornendo ricche informazioni topografiche e funzionali alla nanoscala. Il controllo a tre assi assicura che ogni parte del campione possa essere esaminata con alta precisione, rendendolo ideale per studi dettagliati della morfologia della superficie e caratterizzazioni complesse dei materiali.

In termini di velocità operativa, l'AFM supporta un intervallo di velocità di scansione da 0,1 Hz a 30 Hz. Questa ampia gamma consente agli utenti di adattare la velocità di scansione in base alle specifiche esigenze dei loro esperimenti, bilanciando risoluzione ed efficienza temporale. Che si tratti di condurre imaging lento ad alta risoluzione o scansioni più veloci per valutazioni preliminari, l'AFM si adatta perfettamente alle diverse esigenze di ricerca.

Un altro vantaggio chiave di questo Microscopio a Forza Atomica è la sua capacità di eseguire la scansione senza contatto. La modalità senza contatto è essenziale per l'analisi di campioni delicati o morbidi, dove il contatto fisico potrebbe alterare o danneggiare la superficie. Riducendo al minimo il disturbo del campione mantenendo al contempo l'imaging ad alta risoluzione, l'AFM garantisce risultati affidabili e riproducibili. Questa caratteristica lo rende adatto per applicazioni in biologia, polimeri e altri materiali sensibili.

Come Microscopio a Sonda a Scansione (SPM), questo AFM eccelle nell'offrire molteplici modalità di analisi della superficie e delle proprietà all'interno di un'unica piattaforma. L'integrazione di varie tecniche di microscopia a forza consente agli utenti di indagare le proprietà elettriche, meccaniche, magnetiche e piezoelettriche senza cambiare strumento. Questa multifunzionalità riduce la complessità sperimentale e consente di risparmiare spazio e risorse di laboratorio.

In sintesi, il Microscopio a Forza Atomica offre una potente combinazione di modalità multiple, un'ampia gamma di scansione, compatibilità flessibile dei campioni e alte velocità di scansione, il tutto incorporato in un sistema di scansione a tre assi XYZ all'avanguardia. La sua capacità di imaging senza contatto e la tecnologia SPM lo rendono uno strumento essenziale per la ricerca all'avanguardia e le applicazioni industriali in cui la precisione nanoscopica e le misurazioni multifunzionali sono fondamentali. Che si tratti di ricerca accademica o di controllo qualità industriale, questo AFM si distingue come una soluzione affidabile e adattabile per la caratterizzazione completa della superficie.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio a Forza Atomica
• Metodo di scansione: Scansione a tre assi XYZ a campione completo
• Dimensione del campione: Compatibile con campioni con un diametro di 25 mm
• Velocità di scansione: 0,1 Hz - 30 Hz
• Livello di rumore sull'asse Z: 0,04 Nm
• Misurazioni multifunzionali: Microscopio a Forza Elettrostatica (EFM), Microscopio a Sonda Kelvin (KPFM), Microscopio a Forza Piezoelettrica (PFM), Microscopio a Capacità di Scansione (SCM), Microscopio a Forza Magnetica (MFM); Opzionale: Microscopio a Forza Atomica Conduttiva (C-AFM)
• Supporta la misurazione multi-modalità per applicazioni versatili
• Consente l'analisi nanoscopica ad alta risoluzione
• Fornisce immagini topografiche dettagliate per la caratterizzazione della superficie

Parametri tecnici:

Questo Microscopio a Forza Atomica è ideale per l'analisi della superficie e i test nanomeccanici, offrendo capacità avanzate tra cui la Microscopia a Forza Magnetica per la caratterizzazione completa dei materiali.

Applicazioni:

Il Microscopio a Forza Atomica AtomEdge Pro di Truth Instruments, originario della Cina, è uno strumento all'avanguardia progettato per un'ampia gamma di applicazioni scientifiche e industriali. Le sue capacità di misurazione multifunzionali, tra cui Microscopio a Forza Elettrostatica (EFM), Microscopio a Sonda Kelvin (KPFM), Microscopio a Forza Piezoelettrica (PFM), Microscopio a Capacità di Scansione (SCM) e Microscopio a Forza Magnetica (MFM), lo rendono uno strumento indispensabile per la caratterizzazione dettagliata della superficie. Inoltre, il Microscopio a Forza Atomica Conduttiva (C-AFM) opzionale espande la sua utilità alle indagini sulle proprietà elettriche, fornendo una piattaforma completa per l'analisi alla nanoscala.

L'AtomEdge Pro supporta varie modalità operative come la Modalità di contatto, la Modalità Tap, la Modalità di imaging di fase, la Modalità Lift e la Modalità di scansione multidirezionale, consentendo agli utenti di adattare le misurazioni in base alle specifiche esigenze del campione. Questa versatilità è particolarmente vantaggiosa negli ambienti di ricerca in cui i campioni delicati richiedono tecniche di imaging non distruttive o dove sono necessari diversi meccanismi di contrasto per estrarre dati preziosi. Con punti di campionamento dell'immagine che vanno da 32*32 a un impressionante 4096*4096, il sistema offre immagini ad alta risoluzione che consentono l'imaging a risoluzione atomica, fondamentale per l'identificazione delle caratteristiche della superficie alla scala atomica.

Una delle applicazioni principali dell'AtomEdge Pro è nella Microscopia a Forza a Risposta Piezoelettrica (PFM), dove eccelle nella mappatura delle proprietà piezoelettriche e ferroelettriche dei materiali. Questa capacità è fondamentale nella scienza dei materiali e nella ricerca sulla nanotecnologia per lo sviluppo di sensori, attuatori e dispositivi di raccolta di energia avanzati. Il basso livello di rumore sull'asse Z di 0,04 nm garantisce un'eccezionale sensibilità e precisione nel rilevare minute deformazioni della superficie correlate alla risposta piezoelettrica, migliorando così l'affidabilità dei risultati sperimentali.

L'intervallo di angolo di scansione da 0 a 360° offre una copertura spaziale completa, rendendo l'AtomEdge Pro adatto per topografie di superficie complesse e materiali anisotropi. La sua precisione e multifunzionalità lo rendono ideale per applicazioni nella ricerca sui semiconduttori, biomateriali, polimeri e materiali magnetici. Che si tratti di indagare le variazioni del potenziale di superficie con KPFM o di caratterizzare i domini magnetici con MFM, l'AtomEdge Pro fornisce approfondimenti dettagliati che sono essenziali sia per la ricerca fondamentale che per il controllo qualità industriale.

In sintesi, il Microscopio a Forza Atomica AtomEdge Pro di Truth Instruments è uno strumento versatile e altamente preciso progettato per l'analisi avanzata della superficie alla nanoscala. Le sue modalità di misurazione multifunzionali, l'eccezionale risoluzione dell'immagine e le prestazioni a basso rumore lo rendono uno strumento essenziale per ricercatori e ingegneri che mirano a esplorare le proprietà dei materiali con risoluzione atomica e a condurre sofisticati studi di Microscopia a Forza a Risposta Piezoelettrica in vari scenari applicativi.