Imagen 3D a nanoescala para investigación de semiconductores y materiales avanzados

Descripción del Producto:

El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un instrumento altamente avanzado y versátil diseñado para proporcionar una caracterización precisa de la superficie a través de múltiples modos de operación. Este microscopio multifuncional integra una gama de técnicas que incluyen Microscopía de Fuerza Electroestática (EFM), Microscopía de Fuerza de Sonda Kelvin (KPFM), Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica (PFM), Microscopía Capacitiva de Barrido (SCM) y Microscopía de Fuerza Magnética (MFM). Además, ofrece un modo opcional de Microscopía de Fuerza Atómica Conductiva (C-AFM), lo que permite a los usuarios ampliar sus capacidades para mediciones de propiedades eléctricas. La combinación de estos modos convierte al AFM en una herramienta indispensable para investigadores e ingenieros que trabajan en ciencia de materiales, nanotecnología e industrias de semiconductores.

Una de las características destacadas de este AFM es su amplio rango de escaneo, que cubre 100 μm * 100 μm en las direcciones laterales y 10 μm en la dirección vertical. Este amplio rango permite el análisis detallado de una amplia variedad de tipos y tamaños de muestras, proporcionando flexibilidad y precisión en la obtención de imágenes y la medición. El instrumento es compatible con muestras de hasta 25 mm de diámetro, lo que permite acomodar un amplio espectro de dimensiones de especímenes sin necesidad de montaje o preparación especial, lo que mejora la comodidad del usuario y el rendimiento.

Las capacidades de escaneo de este AFM se mejoran aún más con su método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ. Este enfoque de escaneo avanzado permite un mapeo completo y preciso de las superficies de las muestras, proporcionando información topográfica y funcional rica a nanoescala. El control de tres ejes asegura que cada parte de la muestra se pueda examinar con alta precisión, lo que lo hace ideal para estudios detallados de morfología de superficie y caracterizaciones complejas de materiales.

En términos de velocidad de operación, el AFM admite un rango de velocidad de escaneo de 0.1 Hz a 30 Hz. Este amplio rango permite a los usuarios adaptar la velocidad de escaneo de acuerdo con los requisitos específicos de sus experimentos, equilibrando la resolución y la eficiencia del tiempo. Ya sea que se realicen imágenes lentas de alta resolución o escaneos más rápidos para evaluaciones preliminares, el AFM se adapta sin problemas a las diferentes necesidades de investigación.

Otra ventaja clave de este Microscopio de Fuerza Atómica es su capacidad para realizar escaneo sin contacto. El modo sin contacto es esencial para analizar muestras delicadas o blandas, donde el contacto físico podría alterar o dañar la superficie. Al minimizar la alteración de la muestra mientras se mantiene una imagen de alta resolución, el AFM asegura resultados confiables y reproducibles. Esta característica lo hace adecuado para aplicaciones en biología, polímeros y otros materiales sensibles.

Como Microscopio de Sonda de Barrido (SPM), este AFM sobresale en la entrega de múltiples modos de análisis de superficie y propiedades dentro de una sola plataforma. La integración de varias técnicas de microscopía de fuerza permite a los usuarios investigar propiedades eléctricas, mecánicas, magnéticas y piezoeléctricas sin cambiar de instrumento. Esta multifuncionalidad reduce la complejidad experimental y ahorra valioso espacio y recursos de laboratorio.

En resumen, el Microscopio de Fuerza Atómica ofrece una poderosa combinación de múltiples modos, un amplio rango de escaneo, compatibilidad flexible de muestras y altas velocidades de escaneo, todo incorporado dentro de un sistema de escaneo de tres ejes XYZ de última generación. Su capacidad de imagen sin contacto y la tecnología SPM lo convierten en una herramienta esencial para la investigación de vanguardia y las aplicaciones industriales donde la precisión a nanoescala y las mediciones multifuncionales son críticas. Ya sea para investigación académica o control de calidad industrial, este AFM se destaca como una solución confiable y adaptable para la caracterización integral de superficies.

Características:

• Nombre del Producto: Microscopio de Fuerza Atómica
• Método de Escaneo: Escaneo de Muestra Completa de Tres Ejes XYZ
• Tamaño de la Muestra: Compatible con Muestras con un Diámetro de 25 mm
• Velocidad de Escaneo: 0.1 Hz - 30 Hz
• Nivel de Ruido del Eje Z: 0.04 Nm
• Mediciones Multifuncionales: Microscopio de Fuerza Electroestática (EFM), Microscopio de Fuerza de Sonda Kelvin (KPFM), Microscopio de Fuerza Piezoeléctrica (PFM), Microscopio Capacitivo de Fuerza Atómica de Barrido (SCM), Microscopio de Fuerza Magnética (MFM); Opcional: Microscopio de Fuerza Atómica Conductiva (C-AFM)
• Admite mediciones multimodo para aplicaciones versátiles
• Permite el análisis a nanoescala de alta resolución
• Proporciona imágenes topográficas detalladas para la caracterización de la superficie

Parámetros Técnicos:

Este Microscopio de Fuerza Atómica es ideal para el Análisis de Superficies y las pruebas Nanomecánicas, ofreciendo capacidades avanzadas que incluyen la Microscopía de Fuerza Magnética para la caracterización integral de materiales.

Aplicaciones:

El Microscopio de Fuerza Atómica AtomEdge Pro de Truth Instruments, originario de China, es una herramienta de vanguardia diseñada para una amplia gama de aplicaciones científicas e industriales. Sus capacidades de medición multifuncionales, que incluyen Microscopio de Fuerza Electroestática (EFM), Microscopía de Fuerza de Sonda Kelvin (KPFM), Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica (PFM), Microscopía Capacitiva de Barrido (SCM) y Microscopía de Fuerza Magnética (MFM), lo convierten en un instrumento indispensable para la caracterización detallada de la superficie. Además, el Microscopio de Fuerza Atómica Conductiva (C-AFM) opcional amplía su utilidad a las investigaciones de propiedades eléctricas, proporcionando una plataforma integral para el análisis a nanoescala.

El AtomEdge Pro admite varios modos de operación, como el Modo de Contacto, el Modo Tap, el Modo de Imagen de Fase, el Modo Lift y el Modo de Escaneo Multidireccional, lo que permite a los usuarios adaptar las mediciones de acuerdo con los requisitos específicos de la muestra. Esta versatilidad es particularmente beneficiosa en entornos de investigación donde las muestras delicadas exigen técnicas de imagen no destructivas o donde se necesitan diferentes mecanismos de contraste para extraer datos valiosos. Con puntos de muestreo de imagen que van desde 32*32 hasta unos impresionantes 4096*4096, el sistema ofrece imágenes de alta resolución que permiten la obtención de imágenes con resolución atómica, crucial para identificar características de la superficie a escala atómica.

Una de las aplicaciones destacadas del AtomEdge Pro es en la Microscopía de Fuerza de Piezorespuesta (PFM), donde sobresale en la cartografía de las propiedades piezoeléctricas y ferroeléctricas de los materiales. Esta capacidad es vital en la investigación de la ciencia de materiales y la nanotecnología para el desarrollo de sensores, actuadores y dispositivos de recolección de energía avanzados. El bajo nivel de ruido del eje Z de 0.04 nm asegura una sensibilidad y precisión excepcionales en la detección de mínimas deformaciones de la superficie relacionadas con la piezorespuesta, mejorando así la fiabilidad de los resultados experimentales.

El rango de ángulo de escaneo de 0 a 360° ofrece una cobertura espacial completa, lo que hace que el AtomEdge Pro sea adecuado para topografías de superficie complejas y materiales anisotrópicos. Su precisión y multifuncionalidad lo hacen ideal para aplicaciones en investigación de semiconductores, biomateriales, polímeros y materiales magnéticos. Ya sea investigando variaciones de potencial de superficie con KPFM o caracterizando dominios magnéticos con MFM, el AtomEdge Pro proporciona información detallada que es esencial tanto para la investigación fundamental como para el control de calidad industrial.

En resumen, el Microscopio de Fuerza Atómica AtomEdge Pro de Truth Instruments es un instrumento versátil y de alta precisión diseñado para el análisis avanzado de superficies a nanoescala. Sus modos de medición multifuncionales, su excepcional resolución de imagen y su bajo rendimiento de ruido lo convierten en una herramienta esencial para investigadores e ingenieros que buscan explorar las propiedades de los materiales con resolución atómica y realizar estudios sofisticados de Microscopía de Fuerza de Piezorespuesta en varios escenarios de aplicación.