Τρισδιάστατη απεικόνιση νανοκλίμακας για έρευνα ημιαγωγών & προηγμένων υλικών

Περιγραφή Προϊόντος:

Το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων (AFM) είναι ένα εξαιρετικά προηγμένο και ευέλικτο όργανο σχεδιασμένο για να παρέχει ακριβή χαρακτηρισμό επιφανειών μέσω πολλαπλών τρόπων λειτουργίας. Αυτό το πολυλειτουργικό μικροσκόπιο ενσωματώνει μια σειρά τεχνικών, συμπεριλαμβανομένης της Μικροσκοπίας Ηλεκτροστατικής Δύναμης (EFM), της Μικροσκοπίας Δυνάμεων Σάρωσης Kelvin Probe (KPFM), της Μικροσκοπίας Πιεζοηλεκτρικής Δύναμης (PFM), της Μικροσκοπίας Σάρωσης Χωρητικότητας (SCM) και της Μικροσκοπίας Μαγνητικής Δύναμης (MFM). Επιπλέον, προσφέρει έναν προαιρετικό τρόπο Ατομικής Μικροσκοπίας Αγωγιμότητας (C-AFM), επιτρέποντας στους χρήστες να επεκτείνουν τις δυνατότητές του για μετρήσεις ηλεκτρικών ιδιοτήτων. Ο συνδυασμός αυτών των τρόπων καθιστά το AFM ένα απαραίτητο εργαλείο για ερευνητές και μηχανικούς που εργάζονται στην επιστήμη των υλικών, τη νανοτεχνολογία και τις βιομηχανίες ημιαγωγών.

Ένα από τα ξεχωριστά χαρακτηριστικά αυτού του AFM είναι το ολοκληρωμένο εύρος σάρωσης, το οποίο καλύπτει 100 μm * 100 μm στις πλευρικές κατευθύνσεις και 10 μm στην κάθετη κατεύθυνση. Αυτό το εκτεταμένο εύρος επιτρέπει τη λεπτομερή ανάλυση μιας ευρείας ποικιλίας τύπων και μεγεθών δειγμάτων, παρέχοντας ευελιξία και ακρίβεια στην απεικόνιση και τη μέτρηση. Το όργανο είναι συμβατό με δείγματα έως και 25 mm σε διάμετρο, φιλοξενώντας ένα ευρύ φάσμα διαστάσεων δειγμάτων χωρίς την ανάγκη ειδικής τοποθέτησης ή προετοιμασίας, ενισχύοντας έτσι την ευκολία χρήσης και την απόδοση.

Οι δυνατότητες σάρωσης αυτού του AFM ενισχύονται περαιτέρω από τη μέθοδο σάρωσης τριών αξόνων XYZ πλήρους δείγματος. Αυτή η προηγμένη προσέγγιση σάρωσης επιτρέπει την πλήρη και ακριβή χαρτογράφηση των επιφανειών των δειγμάτων, παρέχοντας πλούσιες τοπογραφικές και λειτουργικές πληροφορίες στην κλίμακα των νανο. Ο έλεγχος τριών αξόνων διασφαλίζει ότι κάθε μέρος του δείγματος μπορεί να εξεταστεί με μεγάλη ακρίβεια, καθιστώντας το ιδανικό για λεπτομερείς μελέτες μορφολογίας επιφανειών και χαρακτηρισμούς σύνθετων υλικών.

Όσον αφορά την ταχύτητα λειτουργίας, το AFM υποστηρίζει ένα εύρος ρυθμού σάρωσης από 0,1 Hz έως 30 Hz. Αυτό το ευρύ φάσμα επιτρέπει στους χρήστες να προσαρμόσουν την ταχύτητα σάρωσης σύμφωνα με τις συγκεκριμένες απαιτήσεις των πειραμάτων τους, εξισορροπώντας την ανάλυση και την αποδοτικότητα του χρόνου. Είτε διεξάγουν αργή απεικόνιση υψηλής ανάλυσης είτε ταχύτερες σαρώσεις για προκαταρκτικές αξιολογήσεις, το AFM προσαρμόζεται απρόσκοπτα σε διαφορετικές ερευνητικές ανάγκες.

Ένα άλλο βασικό πλεονέκτημα αυτού του Ατομικού Μικροσκοπίου Δυνάμεων είναι η ικανότητά του να εκτελεί σάρωση χωρίς επαφή. Ο τρόπος χωρίς επαφή είναι απαραίτητος για την ανάλυση ευαίσθητων ή μαλακών δειγμάτων, όπου η φυσική επαφή θα μπορούσε να αλλοιώσει ή να καταστρέψει την επιφάνεια. Ελαχιστοποιώντας την διαταραχή του δείγματος διατηρώντας παράλληλα την απεικόνιση υψηλής ανάλυσης, το AFM εξασφαλίζει αξιόπιστα και αναπαραγώγιμα αποτελέσματα. Αυτό το χαρακτηριστικό το καθιστά κατάλληλο για εφαρμογές στη βιολογία, τα πολυμερή και άλλα ευαίσθητα υλικά.

Ως Μικροσκόπιο Σάρωσης Ανιχνευτή (SPM), αυτό το AFM υπερέχει στην παροχή πολλαπλών τρόπων ανάλυσης επιφανειών και ιδιοτήτων σε μια ενιαία πλατφόρμα. Η ενσωμάτωση διαφόρων τεχνικών μικροσκοπίας δυνάμεων επιτρέπει στους χρήστες να διερευνήσουν ηλεκτρικές, μηχανικές, μαγνητικές και πιεζοηλεκτρικές ιδιότητες χωρίς εναλλαγή οργάνων. Αυτή η πολυλειτουργικότητα μειώνει την πειραματική πολυπλοκότητα και εξοικονομεί πολύτιμο εργαστηριακό χώρο και πόρους.

Συνοψίζοντας, το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων προσφέρει έναν ισχυρό συνδυασμό πολλαπλών τρόπων, εκτεταμένου εύρους σάρωσης, ευέλικτης συμβατότητας δειγμάτων και υψηλών ρυθμών σάρωσης, όλα ενσωματωμένα σε ένα υπερσύγχρονο σύστημα σάρωσης τριών αξόνων XYZ. Η δυνατότητα απεικόνισης χωρίς επαφή και η τεχνολογία SPM το καθιστούν ένα απαραίτητο εργαλείο για έρευνα αιχμής και βιομηχανικές εφαρμογές όπου η ακρίβεια νανοκλίμακας και οι πολυλειτουργικές μετρήσεις είναι κρίσιμες. Είτε για ακαδημαϊκή έρευνα είτε για βιομηχανικό ποιοτικό έλεγχο, αυτό το AFM ξεχωρίζει ως μια αξιόπιστη και προσαρμόσιμη λύση για ολοκληρωμένο χαρακτηρισμό επιφανειών.

Χαρακτηριστικά:

• Όνομα Προϊόντος: Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων
• Μέθοδος Σάρωσης: Σάρωση Τριών Αξόνων XYZ Πλήρους Δείγματος
• Μέγεθος Δείγματος: Συμβατό με Δείγματα με Διάμετρο 25 mm
• Ρυθμός Σάρωσης: 0,1 Hz - 30 Hz
• Επίπεδο Θορύβου Z-Axis: 0,04 Nm
• Πολυλειτουργικές Μετρήσεις: Μικροσκόπιο Ηλεκτροστατικής Δύναμης (EFM), Μικροσκόπιο Δυνάμεων Σάρωσης Kelvin Probe (KPFM), Μικροσκόπιο Πιεζοηλεκτρικής Δύναμης (PFM), Μικροσκόπιο Σάρωσης Χωρητικότητας (SCM), Μικροσκόπιο Μαγνητικής Δύναμης (MFM). Προαιρετικό: Ατομικό Μικροσκόπιο Αγωγιμότητας (C-AFM)
• Υποστηρίζει τη μέτρηση πολλαπλών τρόπων για ευέλικτες εφαρμογές
• Επιτρέπει την ανάλυση νανοκλίμακας υψηλής ανάλυσης
• Παρέχει λεπτομερή απεικόνιση τοπογραφίας για χαρακτηρισμό επιφανειών

Τεχνικές Παράμετροι:

Αυτό το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων είναι ιδανικό για Ανάλυση Επιφανειών και δοκιμές Νανομηχανικής, προσφέροντας προηγμένες δυνατότητες, συμπεριλαμβανομένης της Μικροσκοπίας Μαγνητικής Δύναμης για ολοκληρωμένο χαρακτηρισμό υλικών.

Εφαρμογές:

Το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων AtomEdge Pro της Truth Instruments, που προέρχεται από την Κίνα, είναι ένα εργαλείο αιχμής σχεδιασμένο για ένα ευρύ φάσμα επιστημονικών και βιομηχανικών εφαρμογών. Οι πολυλειτουργικές του δυνατότητες μέτρησης, συμπεριλαμβανομένου του Μικροσκοπίου Ηλεκτροστατικής Δύναμης (EFM), της Μικροσκοπίας Δυνάμεων Σάρωσης Kelvin Probe (KPFM), της Μικροσκοπίας Πιεζοηλεκτρικής Δύναμης (PFM), της Μικροσκοπίας Σάρωσης Χωρητικότητας (SCM) και της Μικροσκοπίας Μαγνητικής Δύναμης (MFM), το καθιστούν ένα απαραίτητο όργανο για λεπτομερή χαρακτηρισμό επιφανειών. Επιπλέον, το προαιρετικό Ατομικό Μικροσκόπιο Αγωγιμότητας (C-AFM) επεκτείνει τη χρησιμότητά του σε έρευνες ηλεκτρικών ιδιοτήτων, παρέχοντας μια ολοκληρωμένη πλατφόρμα για ανάλυση νανοκλίμακας.

Το AtomEdge Pro υποστηρίζει διάφορους τρόπους λειτουργίας, όπως η Λειτουργία Επαφής, η Λειτουργία Tap, η Λειτουργία Απεικόνισης Φάσης, η Λειτουργία Ανύψωσης και η Λειτουργία Σάρωσης Πολλαπλών Κατευθύνσεων, επιτρέποντας στους χρήστες να προσαρμόσουν τις μετρήσεις σύμφωνα με τις συγκεκριμένες απαιτήσεις του δείγματος. Αυτή η ευελιξία είναι ιδιαίτερα επωφελής σε ερευνητικά περιβάλλοντα όπου τα ευαίσθητα δείγματα απαιτούν μη καταστρεπτικές τεχνικές απεικόνισης ή όπου απαιτούνται διαφορετικοί μηχανισμοί αντίθεσης για την εξαγωγή πολύτιμων δεδομένων. Με σημεία δειγματοληψίας εικόνας που κυμαίνονται από 32*32 έως ένα εντυπωσιακό 4096*4096, το σύστημα παρέχει εικόνες υψηλής ανάλυσης που επιτρέπουν την απεικόνιση ατομικής ανάλυσης, η οποία είναι ζωτικής σημασίας για τον εντοπισμό χαρακτηριστικών επιφανειών στην ατομική κλίμακα.

Μία από τις ξεχωριστές εφαρμογές του AtomEdge Pro είναι η Μικροσκοπία Δυνάμεων Πιεζοαπόκρισης (PFM), όπου υπερέχει στην χαρτογράφηση των πιεζοηλεκτρικών και σιδηροηλεκτρικών ιδιοτήτων των υλικών. Αυτή η δυνατότητα είναι ζωτικής σημασίας στην έρευνα της επιστήμης των υλικών και της νανοτεχνολογίας για την ανάπτυξη προηγμένων αισθητήρων, ενεργοποιητών και συσκευών συλλογής ενέργειας. Το χαμηλό επίπεδο θορύβου Z-άξονα των 0,04 nm εξασφαλίζει εξαιρετική ευαισθησία και ακρίβεια στην ανίχνευση μικροσκοπικών παραμορφώσεων επιφανειών που σχετίζονται με την πιεζοαπόκριση, ενισχύοντας έτσι την αξιοπιστία των πειραματικών αποτελεσμάτων.

Το εύρος γωνίας σάρωσης 0 έως 360° προσφέρει ολοκληρωμένη χωρική κάλυψη, καθιστώντας το AtomEdge Pro κατάλληλο για σύνθετες τοπογραφίες επιφανειών και ανισότροπα υλικά. Η ακρίβεια και η πολυλειτουργικότητά του το καθιστούν ιδανικό για εφαρμογές στην έρευνα ημιαγωγών, τα βιοϋλικά, τα πολυμερή και τα μαγνητικά υλικά. Είτε διερευνά παραλλαγές δυναμικού επιφανείας με KPFM είτε χαρακτηρίζει μαγνητικούς τομείς με MFM, το AtomEdge Pro παρέχει λεπτομερείς πληροφορίες που είναι απαραίτητες τόσο για τη θεμελιώδη έρευνα όσο και για τον βιομηχανικό ποιοτικό έλεγχο.

Συνοψίζοντας, το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων AtomEdge Pro της Truth Instruments είναι ένα ευέλικτο και εξαιρετικά ακριβές όργανο σχεδιασμένο για προηγμένη ανάλυση επιφανειών νανοκλίμακας. Οι πολυλειτουργικοί τρόποι μέτρησης, η εξαιρετική ανάλυση εικόνας και η χαμηλή απόδοση θορύβου το καθιστούν ένα απαραίτητο εργαλείο για ερευνητές και μηχανικούς που στοχεύουν να εξερευνήσουν τις ιδιότητες των υλικών με ατομική ανάλυση και να διεξάγουν εξελιγμένες μελέτες Μικροσκοπίας Δυνάμεων Πιεζοαπόκρισης σε διάφορα σενάρια εφαρμογής.