Imagerie 3D à l'échelle nanométrique pour la recherche sur les semi-conducteurs et les matériaux avancés

Description du produit :

Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument très avancé et polyvalent conçu pour fournir une caractérisation précise des surfaces grâce à de multiples modes de fonctionnement. Ce microscope multifonctionnel intègre une gamme de techniques, notamment la microscopie à force électrostatique (EFM), la microscopie à force à sonde Kelvin (KPFM), la microscopie à force piézoélectrique (PFM), la microscopie capacitive à balayage (SCM) et la microscopie à force magnétique (MFM). De plus, il offre un mode optionnel de microscopie à force atomique conductrice (C-AFM), permettant aux utilisateurs d'étendre ses capacités pour les mesures des propriétés électriques. La combinaison de ces modes fait de l'AFM un outil indispensable pour les chercheurs et les ingénieurs travaillant dans les domaines de la science des matériaux, des nanotechnologies et des industries des semi-conducteurs.

L'une des caractéristiques exceptionnelles de cet AFM est sa plage de balayage complète, qui couvre 100 μm * 100 μm dans les directions latérales et 10 μm dans la direction verticale. Cette plage étendue permet une analyse détaillée d'une grande variété de types et de tailles d'échantillons, offrant flexibilité et précision en imagerie et en mesure. L'instrument est compatible avec des échantillons allant jusqu'à 25 mm de diamètre, ce qui permet d'accueillir un large éventail de dimensions d'échantillons sans nécessiter de montage ou de préparation spéciaux, améliorant ainsi la commodité et le débit pour l'utilisateur.

Les capacités de balayage de cet AFM sont en outre améliorées par sa méthode de balayage complet de l'échantillon à trois axes XYZ. Cette approche de balayage avancée permet une cartographie complète et précise des surfaces des échantillons, fournissant des informations topographiques et fonctionnelles riches à l'échelle nanométrique. Le contrôle à trois axes garantit que chaque partie de l'échantillon peut être examinée avec une grande précision, ce qui le rend idéal pour les études détaillées de la morphologie de surface et les caractérisations complexes des matériaux.

En termes de vitesse de fonctionnement, l'AFM prend en charge une plage de vitesse de balayage de 0,1 Hz à 30 Hz. Cette large plage permet aux utilisateurs d'adapter la vitesse de balayage en fonction des exigences spécifiques de leurs expériences, en équilibrant la résolution et l'efficacité temporelle. Qu'il s'agisse d'une imagerie lente et à haute résolution ou de balayages plus rapides pour des évaluations préliminaires, l'AFM s'adapte de manière transparente aux différents besoins de la recherche.

Un autre avantage clé de ce microscope à force atomique est sa capacité à effectuer un balayage sans contact. Le mode sans contact est essentiel pour l'analyse d'échantillons délicats ou mous, où le contact physique pourrait altérer ou endommager la surface. En minimisant la perturbation de l'échantillon tout en maintenant une imagerie à haute résolution, l'AFM garantit des résultats fiables et reproductibles. Cette fonctionnalité le rend bien adapté aux applications en biologie, en polymères et dans d'autres matériaux sensibles.

En tant que microscope à sonde à balayage (SPM), cet AFM excelle dans la fourniture de multiples modes d'analyse de surface et de propriétés au sein d'une seule plateforme. L'intégration de diverses techniques de microscopie à force permet aux utilisateurs d'étudier les propriétés électriques, mécaniques, magnétiques et piézoélectriques sans changer d'instrument. Cette multifonctionnalité réduit la complexité expérimentale et permet d'économiser un espace et des ressources de laboratoire précieux.

En résumé, le microscope à force atomique offre une combinaison puissante de multiples modes, d'une plage de balayage étendue, d'une compatibilité d'échantillons flexible et de vitesses de balayage élevées, le tout intégré dans un système de balayage à trois axes XYZ à la pointe de la technologie. Sa capacité d'imagerie sans contact et sa technologie SPM en font un outil essentiel pour la recherche de pointe et les applications industrielles où la précision nanométrique et les mesures multifonctionnelles sont essentielles. Que ce soit pour la recherche universitaire ou le contrôle qualité industriel, cet AFM se distingue comme une solution fiable et adaptable pour une caractérisation complète des surfaces.

Caractéristiques :

• Nom du produit : Microscope à force atomique
• Méthode de balayage : Balayage complet de l'échantillon à trois axes XYZ
• Taille de l'échantillon : Compatible avec des échantillons d'un diamètre de 25 mm
• Vitesse de balayage : 0,1 Hz - 30 Hz
• Niveau de bruit sur l'axe Z : 0,04 Nm
• Mesures multifonctionnelles : Microscope à force électrostatique (EFM), microscope à force à sonde Kelvin (KPFM), microscope à force piézoélectrique (PFM), microscope à force atomique capacitif à balayage (SCM), microscope à force magnétique (MFM) ; Optionnel : Microscope à force atomique conducteur (C-AFM)
• Prend en charge la mesure multi-mode pour des applications polyvalentes
• Permet une analyse nanométrique à haute résolution
• Fournit une imagerie topographique détaillée pour la caractérisation de surface

Paramètres techniques :

Ce microscope à force atomique est idéal pour l'analyse de surface et les tests nanomécaniques, offrant des capacités avancées, notamment la microscopie à force magnétique pour une caractérisation complète des matériaux.

Applications :

Le microscope à force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments, originaire de Chine, est un outil de pointe conçu pour un large éventail d'applications scientifiques et industrielles. Ses capacités de mesure multifonctionnelles, notamment le microscope à force électrostatique (EFM), la microscopie à force à sonde Kelvin (KPFM), la microscopie à force piézoélectrique (PFM), la microscopie capacitive à balayage (SCM) et la microscopie à force magnétique (MFM), en font un instrument indispensable pour la caractérisation détaillée des surfaces. De plus, le microscope à force atomique conducteur (C-AFM) en option étend son utilité aux études des propriétés électriques, offrant une plateforme complète pour l'analyse à l'échelle nanométrique.

L'AtomEdge Pro prend en charge divers modes de fonctionnement tels que le mode contact, le mode tapotement, le mode d'imagerie de phase, le mode levage et le mode de balayage multidirectionnel, permettant aux utilisateurs d'adapter les mesures en fonction des exigences spécifiques de l'échantillon. Cette polyvalence est particulièrement bénéfique dans les environnements de recherche où les échantillons délicats exigent des techniques d'imagerie non destructives ou où différents mécanismes de contraste sont nécessaires pour extraire des données précieuses. Avec des points d'échantillonnage d'image allant de 32*32 à un impressionnant 4096*4096, le système fournit des images à haute résolution qui permettent une imagerie à résolution atomique, cruciale pour identifier les caractéristiques de surface à l'échelle atomique.

L'une des applications exceptionnelles de l'AtomEdge Pro est la microscopie à force de réponse piézoélectrique (PFM), où il excelle dans la cartographie des propriétés piézoélectriques et ferroélectriques des matériaux. Cette capacité est essentielle dans la recherche en science des matériaux et en nanotechnologie pour le développement de capteurs, d'actionneurs et de dispositifs de récupération d'énergie avancés. Le faible niveau de bruit sur l'axe Z de 0,04 nm garantit une sensibilité et une précision exceptionnelles dans la détection des moindres déformations de surface liées à la réponse piézoélectrique, améliorant ainsi la fiabilité des résultats expérimentaux.

La plage d'angle de balayage de 0 à 360° offre une couverture spatiale complète, ce qui rend l'AtomEdge Pro adapté aux topographies de surface complexes et aux matériaux anisotropes. Sa précision et sa multifonctionnalité le rendent idéal pour les applications dans la recherche sur les semi-conducteurs, les biomatériaux, les polymères et les matériaux magnétiques. Qu'il s'agisse d'étudier les variations de potentiel de surface avec le KPFM ou de caractériser les domaines magnétiques avec le MFM, l'AtomEdge Pro fournit des informations détaillées qui sont essentielles à la fois pour la recherche fondamentale et le contrôle qualité industriel.

En résumé, le microscope à force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments est un instrument polyvalent et très précis conçu pour l'analyse de surface avancée à l'échelle nanométrique. Ses modes de mesure multifonctionnels, sa résolution d'image exceptionnelle et ses faibles performances de bruit en font un outil essentiel pour les chercheurs et les ingénieurs qui souhaitent explorer les propriétés des matériaux avec une résolution atomique et mener des études sophistiquées de microscopie à force de réponse piézoélectrique dans divers scénarios d'application.