Imagem 3D em nanoescala para pesquisa de semicondutores e materiais avançados

Descrição do produto:

O microscópio de força atómica (AFM) é um instrumento altamente avançado e versátil concebido para proporcionar uma caracterização da superfície precisa através de múltiplos modos de operação.Este microscópio multifuncional integra uma série de técnicas incluindo a Microscopia de Força Electrostática (EFM), Microscopia de Força de Sondagem de Kelvin (KPFM), Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM), Microscopia de Capacidade de Escaneamento (SCM) e Microscopia de Força Magnética (MFM).oferece um modo opcional de Microscopia de Força Atómica Condutora (C-AFM), permitindo aos utilizadores expandir as suas capacidades de medição de propriedades eléctricas.A combinação destes modos torna o AFM uma ferramenta indispensável para investigadores e engenheiros que trabalham na ciência dos materiais, nanotecnologia e indústrias de semicondutores.

Uma das características desta AFM é a sua gama de varredura abrangente, que abrange 100 μm * 100 μm nas direções laterais e 10 μm na direção vertical.Esta ampla gama permite uma análise pormenorizada de uma grande variedade de tipos e tamanhos de amostrasO instrumento é compatível com amostras de até 25 mm de diâmetro,de peso não superior a 20 g/m2, mas não superior a 150 g/m2,, aumentando assim a conveniência e a produtividade do utilizador.

As capacidades de varredura deste AFM são ainda melhoradas pelo seu método de varredura de amostra completa de três eixos XYZ.Esta abordagem avançada de varredura permite um mapeamento completo e preciso das superfícies das amostrasO controlo de três eixos garante que cada parte da amostra possa ser examinada com elevada precisão,tornando-o ideal para estudos detalhados de morfologia da superfície e caracterizações de materiais complexos.

Em termos de velocidade operacional, o AFM suporta uma faixa de taxa de digitalização de 0,1 Hz a 30 Hz.Esta ampla gama permite aos utilizadores adaptar a velocidade de digitalização de acordo com os requisitos específicos das suas experiênciasO AFM adapta-se perfeitamente às diferentes necessidades de investigação, quer seja para a realização de imagens lentas e de alta resolução, quer para a realização de exames mais rápidos para avaliações preliminares.

Outra vantagem importante deste microscópio de força atômica é a sua capacidade de realizar a varredura sem contacto.onde o contacto físico possa alterar ou danificar a superfícieAo minimizar a perturbação da amostra, mantendo a imagem de alta resolução, o AFM garante resultados confiáveis e reprodutíveis.Polímeros, e outros materiais sensíveis.

Como um microscópio de sonda de varredura (SPM), este AFM se destaca em fornecer vários modos de análise de superfície e propriedades dentro de uma única plataforma.A integração de várias técnicas de microscopia de força permite aos utilizadores investigarEsta multifuncionalidade reduz a complexidade experimental e economiza espaço e recursos valiosos de laboratório.

Em resumo, o Microscópio de Força Atómica oferece uma poderosa combinação de modos múltiplos, um amplo alcance de varredura, compatibilidade flexível de amostras e altas taxas de varredura.todos incorporados num sistema de digitalização de três eixos XYZ de última geração. Its non-contact imaging capability and SPM technology make it an essential tool for cutting-edge research and industrial applications where nanoscale precision and multifunctional measurements are criticalSeja para investigação académica ou controlo de qualidade industrial, este AFM destaca-se como uma solução fiável e adaptável para a caracterização abrangente de superfícies.

Características:

• Nome do produto: Microscópio de Força Atómica
• Método de varredura: varredura de amostra completa em três eixos XYZ
• Tamanho da amostra: compatível com amostras com um diâmetro de 25 mm
• Taxa de digitalização: 0,1 Hz - 30 Hz
• Nível de ruído do eixo Z: 0,04 Nm
• Medidas multifuncionais: Microscópio de força eletrostática (EFM), Microscópio de força de sonda de Kelvin de varredura (KPFM), Microscópio de força piezoelétrica (PFM),Microscópio de Força Atómica Capacitiva de Análise (SCM), Microscópio de Força Magnética (MFM); Opcional: Microscópio de Força Atómica Condutora (C-AFM)
• Suporta medição multimodo para aplicações versáteis
• Permite análise em nanoescala de alta resolução
• Fornece imagens topográficas detalhadas para caracterização da superfície

Parâmetros técnicos:

Este microscópio de força atómica é ideal para análise de superfície e testes nano mecânicos, oferecendo capacidades avançadas, incluindo a microscopia de força magnética para caracterização abrangente de materiais.

Aplicações:

O Microscópio de Força Atómica AtomEdge Pro da Truth Instruments, originário da China, é uma ferramenta de ponta concebida para uma ampla gama de aplicações científicas e industriais.As suas capacidades de medição multifuncionais, incluindo o Microscópio de Força Electrostática (EFM), a Microscopia de Força da Sonda Kelvin de Análise (KPFM), a Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM), a Microscopia de Análise Capacitiva (SCM),e Microscopia de Força Magnética (MFM), torná-lo num instrumento indispensável para a caracterização pormenorizada das superfícies.O microscópio de força atômica condutiva opcional (C-AFM) expande sua utilidade para investigações de propriedades elétricas, fornecendo uma plataforma abrangente para análise em nanoescala.

O AtomEdge Pro suporta vários modos operacionais, como Modo de Contato, Modo Toque, Modo de Imagem de Fase, Modo de Elevação e Modo de Análise Multi-Direcional,Permitindo aos utilizadores adaptar as medições de acordo com os requisitos de amostragem específicos. This versatility is particularly beneficial in research environments where delicate samples demand non-destructive imaging techniques or where different contrast mechanisms are needed to extract valuable dataCom pontos de amostragem de imagem que variam de 32*32 a um impressionante 4096*4096, o sistema fornece imagens de alta resolução que permitem a obtenção de imagens de resolução atómica.crucial para identificar características de superfície na escala atômica.

Uma das aplicações destacadas do AtomEdge Pro é na Piezoresponse Force Microscopy (PFM), onde se destaca no mapeamento das propriedades piezoelétricas e ferroelétricas dos materiais.Esta capacidade é vital na ciência dos materiais e nanotecnologia pesquisa para desenvolver sensores avançadosO baixo nível de ruído do eixo Z de 0,04 nm garante uma sensibilidade e precisão excepcionais na detecção de pequenas deformações de superfície relacionadas com a piezorespons.Melhorando assim a fiabilidade dos resultados experimentais.

A faixa de ângulos de varredura de 0 a 360 ° oferece uma cobertura espacial abrangente, tornando o AtomEdge Pro adequado para topografias de superfície complexas e materiais anisotrópicos.A sua precisão e multifuncionalidade tornam-na ideal para aplicações na investigação de semicondutores, biomateriais, polímeros e materiais magnéticos, quer se trate de investigar variações de potencial de superfície com o KPFM ou de caracterizar domínios magnéticos com o MFM,O AtomEdge Pro fornece insights detalhados que são essenciais tanto para pesquisa fundamental quanto para controle de qualidade industrial.

Em resumo, o Microscópio de Força Atômica AtomEdge Pro da Truth Instruments é um instrumento versátil e altamente preciso projetado para análise avançada da superfície em nanoescala.Os seus modos de medição multifuncionais, resolução de imagem excepcional, and low noise performance make it an essential tool for researchers and engineers aiming to explore material properties with atomic resolution and to conduct sophisticated Piezoresponse Force Microscopy studies under various application scenarios.