3D-Bildgebung auf Nanoskala für Halbleiter- und fortgeschrittene Materialforschung

Produktbeschreibung:

Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes und vielseitiges Instrument, das eine präzise Oberflächencharakterisierung durch mehrere Betriebsarten ermöglicht. Dieses multifunktionale Mikroskop integriert eine Reihe von Techniken, darunter Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM), Raster-Kelvin-Sonden-Kraftmikroskopie (KPFM), Piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM), Rasterkapazitätsmikroskopie (SCM) und Magnetkraftmikroskopie (MFM). Zusätzlich bietet es einen optionalen Modus für leitfähige Rasterkraftmikroskopie (C-AFM), der es Benutzern ermöglicht, seine Fähigkeiten für elektrische Eigenschaftsmessungen zu erweitern. Die Kombination dieser Modi macht das AFM zu einem unverzichtbaren Werkzeug für Forscher und Ingenieure, die in den Bereichen Materialwissenschaft, Nanotechnologie und Halbleiterindustrie arbeiten.

Eines der herausragenden Merkmale dieses AFM ist sein umfassender Scanbereich, der 100 μm * 100 μm in den lateralen Richtungen und 10 μm in der vertikalen Richtung abdeckt. Dieser ausgedehnte Bereich ermöglicht eine detaillierte Analyse einer Vielzahl von Probentypen und -größen und bietet Flexibilität und Präzision bei der Bildgebung und Messung. Das Instrument ist mit Proben bis zu 25 mm Durchmesser kompatibel, wodurch ein breites Spektrum an Probendimensionen ohne spezielle Montage oder Vorbereitung ermöglicht wird, was die Benutzerfreundlichkeit und den Durchsatz erhöht.

Die Scanfähigkeiten dieses AFM werden durch seine XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Scanmethode weiter verbessert. Dieser fortschrittliche Scanansatz ermöglicht eine vollständige und genaue Kartierung von Probenoberflächen und liefert reichhaltige topografische und funktionelle Informationen im Nanobereich. Die Drei-Achsen-Steuerung stellt sicher, dass jeder Teil der Probe mit hoher Präzision untersucht werden kann, was es ideal für detaillierte Oberflächenmorphologie-Studien und komplexe Materialcharakterisierungen macht.

In Bezug auf die Betriebsgeschwindigkeit unterstützt das AFM einen Scanratenbereich von 0,1 Hz bis 30 Hz. Dieser breite Bereich ermöglicht es Benutzern, die Scangeschwindigkeit an die spezifischen Anforderungen ihrer Experimente anzupassen und Auflösung und Zeiteffizienz in Einklang zu bringen. Ob langsame, hochauflösende Bildgebung oder schnellere Scans für vorläufige Bewertungen durchgeführt werden, das AFM passt sich nahtlos an unterschiedliche Forschungsbedürfnisse an.

Ein weiterer wesentlicher Vorteil dieses Rasterkraftmikroskops ist seine Fähigkeit, berührungslose Scans durchzuführen. Der berührungslose Modus ist unerlässlich für die Analyse empfindlicher oder weicher Proben, bei denen der physische Kontakt die Oberfläche verändern oder beschädigen könnte. Durch die Minimierung der Probenstörung bei gleichzeitiger Aufrechterhaltung der hochauflösenden Bildgebung gewährleistet das AFM zuverlässige und reproduzierbare Ergebnisse. Diese Funktion macht es gut geeignet für Anwendungen in der Biologie, bei Polymeren und anderen empfindlichen Materialien.

Als Raster-Sonden-Mikroskop (SPM) zeichnet sich dieses AFM durch die Bereitstellung mehrerer Modi der Oberflächen- und Eigenschaftsanalyse innerhalb einer einzigen Plattform aus. Die Integration verschiedener Kraftmikroskopietechniken ermöglicht es Benutzern, elektrische, mechanische, magnetische und piezoelektrische Eigenschaften zu untersuchen, ohne die Instrumente wechseln zu müssen. Diese Multifunktionalität reduziert die experimentelle Komplexität und spart wertvollen Laborraum und Ressourcen.

Zusammenfassend bietet das Rasterkraftmikroskop eine leistungsstarke Kombination aus mehreren Modi, einem ausgedehnten Scanbereich, flexibler Probenkompatibilität und hohen Scanraten, die alle in einem hochmodernen XYZ-Drei-Achsen-Scansystem integriert sind. Seine berührungslose Bildgebungsfähigkeit und die SPM-Technologie machen es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für modernste Forschung und industrielle Anwendungen, bei denen Präzision im Nanobereich und multifunktionale Messungen entscheidend sind. Ob für die akademische Forschung oder die industrielle Qualitätskontrolle, dieses AFM zeichnet sich als zuverlässige und anpassungsfähige Lösung für eine umfassende Oberflächencharakterisierung aus.

Merkmale:

• Produktname: Rasterkraftmikroskop
• Scanmethode: XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Scannen
• Probengröße: Kompatibel mit Proben mit einem Durchmesser von 25 mm
• Scanrate: 0,1 Hz - 30 Hz
• Z-Achsen-Rauschpegel: 0,04 Nm
• Multifunktionale Messungen: Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM), Raster-Kelvin-Sonden-Kraftmikroskopie (KPFM), Piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM), Rasterkapazitätsmikroskopie (SCM), Magnetkraftmikroskopie (MFM); Optional: Leitfähige Rasterkraftmikroskopie (C-AFM)
• Unterstützt Multi-Mode-Messung für vielseitige Anwendungen
• Ermöglicht hochauflösende Nanoanalyse
• Bietet detaillierte Topographie-Bildgebung zur Oberflächencharakterisierung

Technische Parameter:

Dieses Rasterkraftmikroskop ist ideal für Oberflächenanalysen und nanomechanische Tests und bietet erweiterte Funktionen, einschließlich Magnetkraftmikroskopie für eine umfassende Materialcharakterisierung.

Anwendungen:

Das Truth Instruments AtomEdge Pro Rasterkraftmikroskop, das aus China stammt, ist ein hochmodernes Werkzeug, das für eine Vielzahl von wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen entwickelt wurde. Seine multifunktionalen Messmöglichkeiten, einschließlich Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM), Raster-Kelvin-Sonden-Kraftmikroskopie (KPFM), Piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM), Rasterkapazitätsmikroskopie (SCM) und Magnetkraftmikroskopie (MFM), machen es zu einem unverzichtbaren Instrument für die detaillierte Oberflächencharakterisierung. Darüber hinaus erweitert die optionale leitfähige Rasterkraftmikroskopie (C-AFM) seine Nützlichkeit auf Untersuchungen elektrischer Eigenschaften und bietet eine umfassende Plattform für die Nanoanalyse.

Das AtomEdge Pro unterstützt verschiedene Betriebsarten wie Kontaktmodus, Tap-Modus, Phasenbildgebungsmodus, Lift-Modus und Mehrrichtungs-Scanmodus, sodass Benutzer Messungen an die spezifischen Probenanforderungen anpassen können. Diese Vielseitigkeit ist besonders in Forschungsumgebungen von Vorteil, in denen empfindliche Proben zerstörungsfreie Bildgebungstechniken erfordern oder unterschiedliche Kontrastmechanismen benötigt werden, um wertvolle Daten zu extrahieren. Mit Bildabtastpunkten von 32*32 bis zu beeindruckenden 4096*4096 liefert das System hochauflösende Bilder, die eine Bildgebung mit atomarer Auflösung ermöglichen, was für die Identifizierung von Oberflächenmerkmalen im atomaren Maßstab entscheidend ist.

Eine der herausragenden Anwendungen des AtomEdge Pro ist die Piezoresponse-Kraftmikroskopie (PFM), bei der es sich durch die Kartierung der piezoelektrischen und ferroelektrischen Eigenschaften von Materialien auszeichnet. Diese Fähigkeit ist in der Materialwissenschaft und Nanotechnologieforschung für die Entwicklung fortschrittlicher Sensoren, Aktuatoren und Energiegewinnungsgeräte von entscheidender Bedeutung. Der niedrige Z-Achsen-Rauschpegel von 0,04 nm gewährleistet eine außergewöhnliche Empfindlichkeit und Genauigkeit bei der Erkennung kleinster Oberflächenverformungen im Zusammenhang mit der Piezoresponse, wodurch die Zuverlässigkeit der experimentellen Ergebnisse erhöht wird.

Der Scanwinkelbereich von 0 bis 360° bietet eine umfassende räumliche Abdeckung, wodurch sich das AtomEdge Pro für komplexe Oberflächen topografien und anisotrope Materialien eignet. Seine Präzision und Multifunktionalität machen es ideal für Anwendungen in der Halbleiterforschung, bei Biomaterialien, Polymeren und magnetischen Materialien. Ob es darum geht, Oberflächenpotentialvariationen mit KPFM zu untersuchen oder magnetische Domänen mit MFM zu charakterisieren, das AtomEdge Pro liefert detaillierte Einblicke, die sowohl für die Grundlagenforschung als auch für die industrielle Qualitätskontrolle unerlässlich sind.

Zusammenfassend ist das Truth Instruments AtomEdge Pro Rasterkraftmikroskop ein vielseitiges und hochpräzises Instrument, das für die fortschrittliche Nanooberflächenanalyse entwickelt wurde. Seine multifunktionalen Messmodi, die außergewöhnliche Bildauflösung und die geringe Rauschleistung machen es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für Forscher und Ingenieure, die Materialeigenschaften mit atomarer Auflösung untersuchen und anspruchsvolle Piezoresponse-Kraftmikroskopie-Studien unter verschiedenen Anwendungsszenarien durchführen möchten.