Hình ảnh 3D quy mô nano cho nghiên cứu bán dẫn và vật liệu tiên tiến

Mô tả sản phẩm:

Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) là một thiết bị tiên tiến và đa năng được thiết kế để cung cấp đặc tính bề mặt chính xác thông qua nhiều chế độ hoạt động. Kính hiển vi đa chức năng này tích hợp một loạt các kỹ thuật bao gồm Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi lực đầu dò Kelvin quét (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM), Kính hiển vi điện dung quét (SCM) và Kính hiển vi lực từ (MFM). Ngoài ra, nó còn cung cấp chế độ Kính hiển vi lực nguyên tử dẫn điện (C-AFM) tùy chọn, cho phép người dùng mở rộng khả năng của nó để đo các đặc tính điện. Sự kết hợp của các chế độ này làm cho AFM trở thành một công cụ không thể thiếu đối với các nhà nghiên cứu và kỹ sư làm việc trong lĩnh vực khoa học vật liệu, công nghệ nano và công nghiệp bán dẫn.

Một trong những tính năng nổi bật của AFM này là phạm vi quét toàn diện, bao gồm 100 μm * 100 μm theo hướng ngang và 10 μm theo hướng dọc. Phạm vi rộng lớn này cho phép phân tích chi tiết nhiều loại và kích thước mẫu, mang lại sự linh hoạt và chính xác trong việc chụp ảnh và đo lường. Thiết bị này tương thích với các mẫu có đường kính lên đến 25 mm, phù hợp với nhiều loại kích thước mẫu mà không cần gắn hoặc chuẩn bị đặc biệt, do đó tăng cường sự tiện lợi và thông lượng cho người dùng.

Khả năng quét của AFM này được tăng cường hơn nữa bởi phương pháp quét mẫu đầy đủ ba trục XYZ. Phương pháp quét tiên tiến này cho phép lập bản đồ hoàn chỉnh và chính xác các bề mặt mẫu, cung cấp thông tin địa hình và chức năng phong phú ở cấp độ nano. Điều khiển ba trục đảm bảo rằng mọi bộ phận của mẫu có thể được kiểm tra với độ chính xác cao, làm cho nó trở nên lý tưởng để nghiên cứu hình thái bề mặt chi tiết và đặc tính vật liệu phức tạp.

Về tốc độ hoạt động, AFM hỗ trợ phạm vi tốc độ quét từ 0,1 Hz đến 30 Hz. Phạm vi rộng này cho phép người dùng điều chỉnh tốc độ quét theo các yêu cầu cụ thể của thí nghiệm, cân bằng độ phân giải và hiệu quả thời gian. Cho dù tiến hành chụp ảnh độ phân giải cao, chậm hoặc quét nhanh hơn để đánh giá sơ bộ, AFM thích ứng liền mạch với các nhu cầu nghiên cứu khác nhau.

Một ưu điểm quan trọng khác của Kính hiển vi lực nguyên tử này là khả năng thực hiện quét không tiếp xúc. Chế độ không tiếp xúc rất cần thiết để phân tích các mẫu mỏng manh hoặc mềm, nơi tiếp xúc vật lý có thể làm thay đổi hoặc làm hỏng bề mặt. Bằng cách giảm thiểu sự xáo trộn mẫu trong khi vẫn duy trì khả năng chụp ảnh độ phân giải cao, AFM đảm bảo kết quả đáng tin cậy và có thể tái tạo. Tính năng này làm cho nó phù hợp với các ứng dụng trong sinh học, polyme và các vật liệu nhạy cảm khác.

Là một Kính hiển vi đầu dò quét (SPM), AFM này vượt trội trong việc cung cấp nhiều chế độ phân tích bề mặt và tính chất trong một nền tảng duy nhất. Việc tích hợp các kỹ thuật kính hiển vi lực khác nhau cho phép người dùng điều tra các tính chất điện, cơ học, từ tính và áp điện mà không cần chuyển đổi thiết bị. Đa chức năng này làm giảm sự phức tạp của thí nghiệm và tiết kiệm không gian và tài nguyên phòng thí nghiệm có giá trị.

Tóm lại, Kính hiển vi lực nguyên tử cung cấp sự kết hợp mạnh mẽ của nhiều chế độ, phạm vi quét rộng, khả năng tương thích mẫu linh hoạt và tốc độ quét cao, tất cả đều được tích hợp trong một hệ thống quét ba trục XYZ hiện đại. Khả năng chụp ảnh không tiếp xúc và công nghệ SPM của nó làm cho nó trở thành một công cụ thiết yếu cho nghiên cứu tiên tiến và các ứng dụng công nghiệp, nơi độ chính xác ở cấp độ nano và các phép đo đa chức năng là rất quan trọng. Cho dù là để nghiên cứu học thuật hay kiểm soát chất lượng công nghiệp, AFM này nổi bật như một giải pháp đáng tin cậy và dễ thích ứng để đặc tính bề mặt toàn diện.

Tính năng:

• Tên sản phẩm: Kính hiển vi lực nguyên tử
• Phương pháp quét: Quét mẫu đầy đủ ba trục XYZ
• Kích thước mẫu: Tương thích với các mẫu có đường kính 25 mm
• Tốc độ quét: 0,1 Hz - 30 Hz
• Mức ồn trục Z: 0,04 Nm
• Đo lường đa chức năng: Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi đầu dò Kelvin quét (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM), Kính hiển vi điện dung quét (SCM), Kính hiển vi lực từ (MFM); Tùy chọn: Kính hiển vi lực nguyên tử dẫn điện (C-AFM)
• Hỗ trợ đo đa chế độ cho các ứng dụng đa năng
• Cho phép phân tích ở cấp độ nano có độ phân giải cao
• Cung cấp hình ảnh địa hình chi tiết để đặc tính bề mặt

Thông số kỹ thuật:

Kính hiển vi lực nguyên tử này lý tưởng để Phân tích bề mặt và thử nghiệm cơ học nano, cung cấp các khả năng tiên tiến bao gồm Kính hiển vi lực từ để đặc tính vật liệu toàn diện.

Ứng dụng:

Kính hiển vi lực nguyên tử Truth Instruments AtomEdge Pro, có nguồn gốc từ Trung Quốc, là một công cụ tiên tiến được thiết kế cho nhiều ứng dụng khoa học và công nghiệp. Khả năng đo lường đa chức năng của nó, bao gồm Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi lực đầu dò Kelvin quét (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM), Kính hiển vi điện dung quét (SCM) và Kính hiển vi lực từ (MFM), làm cho nó trở thành một công cụ không thể thiếu để đặc tính bề mặt chi tiết. Ngoài ra, Kính hiển vi lực nguyên tử dẫn điện (C-AFM) tùy chọn mở rộng tiện ích của nó để điều tra các tính chất điện, cung cấp một nền tảng toàn diện để phân tích ở cấp độ nano.

AtomEdge Pro hỗ trợ các chế độ hoạt động khác nhau như Chế độ tiếp xúc, Chế độ chạm, Chế độ chụp ảnh pha, Chế độ nâng và Chế độ quét đa hướng, cho phép người dùng điều chỉnh các phép đo theo các yêu cầu mẫu cụ thể. Tính linh hoạt này đặc biệt có lợi trong môi trường nghiên cứu, nơi các mẫu mỏng manh đòi hỏi các kỹ thuật chụp ảnh không phá hủy hoặc nơi cần các cơ chế tương phản khác nhau để trích xuất dữ liệu có giá trị. Với các điểm lấy mẫu hình ảnh từ 32*32 đến 4096*4096 ấn tượng, hệ thống cung cấp hình ảnh có độ phân giải cao cho phép chụp ảnh độ phân giải nguyên tử, rất quan trọng để xác định các đặc điểm bề mặt ở quy mô nguyên tử.

Một trong những ứng dụng nổi bật của AtomEdge Pro là trong Kính hiển vi lực đáp ứng áp điện (PFM), nơi nó vượt trội trong việc lập bản đồ các tính chất áp điện và sắt điện của vật liệu. Khả năng này rất quan trọng trong nghiên cứu khoa học vật liệu và công nghệ nano để phát triển các cảm biến, bộ truyền động và thiết bị thu hoạch năng lượng tiên tiến. Mức ồn trục Z thấp là 0,04 nm đảm bảo độ nhạy và độ chính xác đặc biệt trong việc phát hiện các biến dạng bề mặt nhỏ liên quan đến đáp ứng áp điện, do đó tăng cường độ tin cậy của kết quả thí nghiệm.

Phạm vi góc quét từ 0 đến 360° cung cấp phạm vi bao phủ không gian toàn diện, làm cho AtomEdge Pro phù hợp với các địa hình bề mặt phức tạp và vật liệu dị hướng. Độ chính xác và đa chức năng của nó làm cho nó trở nên lý tưởng cho các ứng dụng trong nghiên cứu chất bán dẫn, vật liệu sinh học, polyme và vật liệu từ tính. Cho dù đó là điều tra các biến thể thế năng bề mặt với KPFM hay đặc trưng hóa các miền từ tính với MFM, AtomEdge Pro cung cấp những hiểu biết chi tiết rất cần thiết cho cả nghiên cứu cơ bản và kiểm soát chất lượng công nghiệp.

Tóm lại, Kính hiển vi lực nguyên tử Truth Instruments AtomEdge Pro là một công cụ đa năng và có độ chính xác cao được thiết kế để phân tích bề mặt ở cấp độ nano tiên tiến. Các chế độ đo đa chức năng, độ phân giải hình ảnh đặc biệt và hiệu suất tiếng ồn thấp của nó làm cho nó trở thành một công cụ thiết yếu cho các nhà nghiên cứu và kỹ sư nhằm mục đích khám phá các tính chất vật liệu với độ phân giải nguyên tử và tiến hành các nghiên cứu Kính hiển vi lực đáp ứng áp điện tinh vi trong các tình huống ứng dụng khác nhau.