تصویربرداری سه بعدی در مقیاس نانو برای تحقیقات نیمه هادی و مواد پیشرفته

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار بسیار پیشرفته و متنوع است که برای ارائه ویژگی های دقیق سطح از طریق حالت های عملیاتی متعدد طراحی شده است.این میکروسکوپ چند منظوره شامل طیف وسیعی از تکنیک ها از جمله میکروسکوپی نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپی نیروی سنجش اسکنین کلوین (KPFM) ، میکروسکوپی نیروی پیزو الکتریکی (PFM) ، میکروسکوپی ظرفیت اسکنینگ (SCM) و میکروسکوپی نیروی مغناطیسی (MFM).یک حالت اختیاری میکروسکوپی نیروی اتمی (C-AFM) را ارائه می دهد.، به کاربران اجازه می دهد تا قابلیت های خود را برای اندازه گیری خواص الکتریکی گسترش دهند.ترکیب این حالت ها باعث می شود که AFM یک ابزار ضروری برای محققان و مهندسان کار در علوم مواد باشد.صنعت نانو تکنولوژی و نیمه هادی.

یکی از ویژگی های برجسته این AFM دامنه اسکن جامع آن است که 100 μm * 100 μm در جهت های جانبی و 10 μm در جهت عمودی را پوشش می دهد.این طیف گسترده امکان تجزیه و تحلیل دقیق انواع و اندازه های نمونه های مختلف را فراهم می کند، که انعطاف پذیری و دقت در تصویربرداری و اندازه گیری را فراهم می کند. این ابزار با نمونه هایی با قطر تا 25 میلی متر سازگار است.که دارای طیف گسترده ای از ابعاد نمونه بدون نیاز به نصب یا آماده سازی ویژه است، بنابراین افزایش راحتی کاربر و خروجی.

قابلیت های اسکن این AFM با روش اسکن سه محور XYZ نمونه کامل آن افزایش یافته است.این روش اسکن پیشرفته اجازه می دهد تا نقشه برداری کامل و دقیق از سطوح نمونه، اطلاعات توپوگرافیکی و عملکردی غنی را در مقیاس نانو فراهم می کند. کنترل سه محور تضمین می کند که هر بخشی از نمونه را می توان با دقت بالا بررسی کرد.که باعث می شود آن را برای مطالعات دقیق مورفولوژی سطح و مشخصه سازی پیچیده مواد ایده آل کند.

از نظر سرعت عملیاتی، AFM از محدوده سرعت اسکن از 0.1 هرتز تا 30 هرتز پشتیبانی می کند.این طیف گسترده به کاربران اجازه می دهد تا سرعت اسکن را با توجه به نیازهای خاص آزمایشات خود تنظیم کننداز آنجایی که تصویربرداری آهسته و با وضوح بالا و یا اسکن سریع برای ارزیابی های اولیه انجام می شود، AFM به راحتی با نیازهای مختلف تحقیق سازگار می شود.

یکی دیگر از مزیت های اصلی این میکروسکوپ نیروی اتمی توانایی انجام اسکن بدون تماس است. حالت بدون تماس برای تجزیه و تحلیل نمونه های ظریف یا نرم ضروری است.جایی که تماس فیزیکی می تواند سطح را تغییر دهد یا آسیب برساند.با به حداقل رساندن اختلال نمونه در حالی که حفظ تصویربرداری با وضوح بالا، AFM نتایج قابل اعتماد و قابل تکرار را تضمین می کند. این ویژگی آن را برای برنامه های کاربردی در زیست شناسی مناسب می کند،پلیمرها، و مواد حساس دیگر.

به عنوان یک میکروسکوپ بررسی اسکن (SPM) ، این AFM در ارائه حالت های متعدد تجزیه و تحلیل سطح و خواص در یک پلت فرم واحد برجسته است.ادغام تکنیک های مختلف میکروسکوپی نیروی اجازه می دهد تا کاربران برای بررسی الکتریکیاین قابلیت چند منظوره پیچیدگی آزمایش را کاهش می دهد و فضای و منابع ارزشمند آزمایشگاه را صرفه جویی می کند.

خلاصه میکروسکوپ نیروی اتمی ترکیبی قدرتمند از حالت های متعدد، محدوده اسکن گسترده، سازگاری نمونه انعطاف پذیر و سرعت اسکن بالا را ارائه می دهد.همه آنها در یک سیستم اسکن سه محوری XYZ با پیشرفته ترین تکنولوژی قرار دارند.. Its non-contact imaging capability and SPM technology make it an essential tool for cutting-edge research and industrial applications where nanoscale precision and multifunctional measurements are criticalچه برای تحقیقات دانشگاهی و چه برای کنترل کیفیت صنعتی، این AFM به عنوان یک راه حل قابل اعتماد و سازگار برای توصیف سطح جامع برجسته می شود.

ویژگی ها:

• نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی
• روش اسکن: اسکن سه محور نمونه کامل XYZ
• اندازه نمونه: سازگار با نمونه هایی با قطر 25 میلی متر
• نرخ اسکن: 0.1 هرتز - 30 هرتز
• سطح سر و صدا در محور Z: 0.04 Nm
• اندازه گیری های چند منظوره: میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM) ، میکروسکوپ نیروی سنجش اسکن کلوین (KPFM) ، میکروسکوپ نیروی پیزو الکتریکی (PFM) ،میکروسکوپ قدرت اتمی اسکن (SCM)میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) ؛ اختیاری: میکروسکوپ نیروی اتمی رسانا (C-AFM)
• پشتیبانی از اندازه گیری چند حالت برای برنامه های کاربردی متنوع
• امکان تجزیه و تحلیل در مقیاس نانو با وضوح بالا را فراهم می کند
• ارائه تصویربرداری توپوگرافی دقیق برای توصیف سطح

پارامترهای فنی:

این میکروسکوپ نیروی اتمی برای تجزیه و تحلیل سطح و آزمایش نانومکانیکی ایده آل است و قابلیت های پیشرفته ای از جمله میکروسکوپ نیروی مغناطیسی را برای توصیف جامع مواد ارائه می دهد.

کاربردها:

میکروسکوپ نیروی اتمی پرو AtomEdge Pro، که از چین تولید می شود، یک ابزار پیشرفته است که برای طیف گسترده ای از کاربردهای علمی و صنعتی طراحی شده است.قابلیت های اندازه گیری چند منظوره آن، از جمله میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM) ، میکروسکوپ نیروی سنجه اسکنینگ کلوین (KPFM) ، میکروسکوپ نیروی پیزو الکتریکی (PFM) ، میکروسکوپ ظرفیت اسکنینگ (SCM) ،و میکروسکوپی نیروی مغناطیسی (MFM)، آن را به یک ابزار ضروری برای مشخصه سازی دقیق سطح تبدیل می کند.میکروسکوپ نیروی اتمی رسانا اختیاری (C-AFM) کاربرد خود را برای تحقیقات خاصیت الکتریکی گسترش می دهد، ارائه یک بستر جامع برای تجزیه و تحلیل در مقیاس نانو.

AtomEdge Pro از حالت های مختلف عملیاتی مانند حالت تماس، حالت ضربه زدن، حالت تصویربرداری فاز، حالت لیفت و حالت اسکن چند جهت پشتیبانی می کند.اجازه دادن به کاربران برای تنظیم اندازه گیری ها با توجه به الزامات نمونه گیری خاص. This versatility is particularly beneficial in research environments where delicate samples demand non-destructive imaging techniques or where different contrast mechanisms are needed to extract valuable dataبا نمونه گیری تصاویر از 32*32 تا 4096*4096، این سیستم تصاویر با وضوح بالا را ارائه می دهد که امکان تصویربرداری با وضوح اتمی را فراهم می کند.برای شناسایی ویژگی های سطحی در مقیاس اتمی ضروری است.

یکی از کاربردهای برجسته AtomEdge Pro در میکروسکوپی نیروی Piezoresponse (PFM) است ، جایی که در نقشه برداری خواص پیزو الکتریکی و فارو الکتریکی مواد برجسته است.این توانایی در تحقیقات علوم مواد و فناوری نانو برای توسعه حسگرهای پیشرفته حیاتی است، محرک ها و دستگاه های جمع آوری انرژی. سطح کم نویز محور Z 0.04 نانومتر حساسیت استثنایی و دقت را در تشخیص تغییر شکل های سطحی کوچک مربوط به پایزوراسپانس تضمین می کند.در نتیجه افزایش قابلیت اطمینان نتایج تجربی.

دامنه زاویه اسکن 0 تا 360 ° پوشش فضایی جامع را ارائه می دهد و باعث می شود AtomEdge Pro برای توپوگرافی های سطح پیچیده و مواد anisotropic مناسب باشد.دقت و چند کارکرد آن را برای کاربردهای تحقیقاتی نیمه هادی ایده آل می کند، مواد زیستی، پلیمرها و مواد مغناطیسی. چه در مورد بررسی تغییرات پتانسیل سطحی با KPFM باشد یا مشخص کردن دامنه های مغناطیسی با MFM،AtomEdge Pro بینش های مفصل را ارائه می دهد که برای تحقیقات اساسی و کنترل کیفیت صنعتی ضروری است.

به طور خلاصه، میکروسکوپ نیروی اتمی پرو AtomEdge Pro یک ابزار چند وجهی و بسیار دقیق است که برای تجزیه و تحلیل سطح پیشرفته نانو طراحی شده است.حالت های اندازه گیری چند منظوره آن، وضوح تصویر استثنایی، and low noise performance make it an essential tool for researchers and engineers aiming to explore material properties with atomic resolution and to conduct sophisticated Piezoresponse Force Microscopy studies under various application scenarios.