Pencitraan 3D Skala Nano Untuk Penelitian Semikonduktor & Material Lanjutan

Deskripsi Produk:

Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah instrumen yang sangat canggih dan serbaguna yang dirancang untuk memberikan karakterisasi permukaan yang presisi melalui berbagai mode operasi. Mikroskop multifungsi ini mengintegrasikan berbagai teknik termasuk Mikroskopi Gaya Elektrostatik (EFM), Mikroskopi Gaya Probe Kelvin Scanning (KPFM), Mikroskopi Gaya Piezoelektrik (PFM), Mikroskopi Kapasitif Scanning (SCM), dan Mikroskopi Gaya Magnetik (MFM). Selain itu, ia menawarkan mode Mikroskopi Gaya Atom Konduktif (C-AFM) opsional, yang memungkinkan pengguna untuk memperluas kemampuannya untuk pengukuran sifat listrik. Kombinasi mode ini menjadikan AFM sebagai alat yang sangat diperlukan bagi para peneliti dan insinyur yang bekerja di bidang ilmu material, nanoteknologi, dan industri semikonduktor.

Salah satu fitur unggulan dari AFM ini adalah rentang pemindaiannya yang komprehensif, yang mencakup 100 μm * 100 μm dalam arah lateral dan 10 μm dalam arah vertikal. Rentang yang luas ini memungkinkan analisis rinci dari berbagai jenis dan ukuran sampel, memberikan fleksibilitas dan presisi dalam pencitraan dan pengukuran. Instrumen ini kompatibel dengan sampel hingga diameter 25 mm, mengakomodasi spektrum dimensi spesimen yang luas tanpa memerlukan pemasangan atau persiapan khusus, sehingga meningkatkan kenyamanan dan throughput pengguna.

Kemampuan pemindaian AFM ini selanjutnya ditingkatkan oleh metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ-nya. Pendekatan pemindaian canggih ini memungkinkan pemetaan permukaan sampel yang lengkap dan akurat, memberikan informasi topografi dan fungsional yang kaya pada skala nano. Kontrol tiga sumbu memastikan bahwa setiap bagian dari sampel dapat diperiksa dengan presisi tinggi, menjadikannya ideal untuk studi morfologi permukaan yang rinci dan karakterisasi material yang kompleks.

Dalam hal kecepatan operasional, AFM mendukung rentang laju pemindaian dari 0,1 Hz hingga 30 Hz. Rentang yang luas ini memungkinkan pengguna untuk menyesuaikan kecepatan pemindaian sesuai dengan persyaratan khusus dari eksperimen mereka, menyeimbangkan resolusi dan efisiensi waktu. Baik melakukan pencitraan resolusi tinggi yang lambat atau pemindaian yang lebih cepat untuk penilaian awal, AFM beradaptasi dengan mulus dengan berbagai kebutuhan penelitian.

Keuntungan utama lainnya dari Mikroskop Gaya Atom ini adalah kemampuannya untuk melakukan pemindaian non-kontak. Mode non-kontak sangat penting untuk menganalisis sampel yang halus atau lunak, di mana kontak fisik dapat mengubah atau merusak permukaan. Dengan meminimalkan gangguan sampel sambil mempertahankan pencitraan resolusi tinggi, AFM memastikan hasil yang andal dan dapat direproduksi. Fitur ini membuatnya sangat cocok untuk aplikasi di bidang biologi, polimer, dan bahan sensitif lainnya.

Sebagai Mikroskop Probe Scanning (SPM), AFM ini unggul dalam memberikan berbagai mode analisis permukaan dan properti dalam satu platform. Integrasi berbagai teknik mikroskopi gaya memungkinkan pengguna untuk menyelidiki sifat listrik, mekanik, magnetik, dan piezoelektrik tanpa mengganti instrumen. Multifungsi ini mengurangi kompleksitas eksperimen dan menghemat ruang dan sumber daya laboratorium yang berharga.

Singkatnya, Mikroskop Gaya Atom menawarkan kombinasi yang kuat dari berbagai mode, rentang pemindaian yang luas, kompatibilitas sampel yang fleksibel, dan laju pemindaian yang tinggi, semuanya tergabung dalam sistem pemindaian tiga sumbu XYZ yang canggih. Kemampuan pencitraan non-kontak dan teknologi SPM-nya menjadikannya alat penting untuk penelitian mutakhir dan aplikasi industri di mana presisi skala nano dan pengukuran multifungsi sangat penting. Baik untuk penelitian akademis atau kontrol kualitas industri, AFM ini menonjol sebagai solusi yang andal dan mudah beradaptasi untuk karakterisasi permukaan yang komprehensif.

Fitur:

• Nama Produk: Mikroskop Gaya Atom
• Metode Pemindaian: Pemindaian Sampel Penuh Tiga Sumbu XYZ
• Ukuran Sampel: Kompatibel Dengan Sampel Dengan Diameter 25 Mm
• Laju Pemindaian: 0,1 Hz - 30 Hz
• Tingkat Kebisingan Sumbu-Z: 0,04 Nm
• Pengukuran Multifungsi: Mikroskop Gaya Elektrostatik (EFM), Mikroskop Probe Kelvin Scanning (KPFM), Mikroskop Gaya Piezoelektrik (PFM), Mikroskop Gaya Atom Kapasitif Scanning (SCM), Mikroskop Gaya Magnetik (MFM); Opsional: Mikroskop Gaya Atom Konduktif (C-AFM)
• Mendukung Pengukuran Multi-Mode untuk aplikasi serbaguna
• Memungkinkan Analisis Skala Nano resolusi tinggi
• Menyediakan pencitraan Topografi terperinci untuk karakterisasi permukaan

Parameter Teknis:

Mikroskop Gaya Atom ini sangat ideal untuk Analisis Permukaan dan pengujian Nanomekanik, menawarkan kemampuan canggih termasuk Mikroskopi Gaya Magnetik untuk karakterisasi material yang komprehensif.

Aplikasi:

Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, yang berasal dari China, adalah alat canggih yang dirancang untuk berbagai aplikasi ilmiah dan industri. Kemampuan pengukuran multifungsinya, termasuk Mikroskop Gaya Elektrostatik (EFM), Mikroskopi Gaya Probe Kelvin Scanning (KPFM), Mikroskopi Gaya Piezoelektrik (PFM), Mikroskopi Kapasitif Scanning (SCM), dan Mikroskopi Gaya Magnetik (MFM), menjadikannya instrumen yang sangat diperlukan untuk karakterisasi permukaan yang rinci. Selain itu, Mikroskop Gaya Atom Konduktif (C-AFM) opsional memperluas kegunaannya untuk penyelidikan sifat listrik, menyediakan platform komprehensif untuk analisis skala nano.

AtomEdge Pro mendukung berbagai mode operasi seperti Mode Kontak, Mode Ketuk, Mode Pencitraan Fase, Mode Angkat, dan Mode Pemindaian Multi-Arah, yang memungkinkan pengguna untuk menyesuaikan pengukuran sesuai dengan persyaratan sampel tertentu. Fleksibilitas ini sangat bermanfaat di lingkungan penelitian di mana sampel yang halus membutuhkan teknik pencitraan non-destruktif atau di mana mekanisme kontras yang berbeda diperlukan untuk mengekstrak data yang berharga. Dengan titik pengambilan sampel gambar mulai dari 32*32 hingga 4096*4096 yang mengesankan, sistem ini menghasilkan gambar resolusi tinggi yang memungkinkan pencitraan resolusi atom, yang sangat penting untuk mengidentifikasi fitur permukaan pada skala atom.

Salah satu aplikasi unggulan dari AtomEdge Pro adalah dalam Mikroskopi Gaya Piezorespons (PFM), di mana ia unggul dalam memetakan sifat piezoelektrik dan ferroelektrik dari material. Kemampuan ini sangat penting dalam penelitian ilmu material dan nanoteknologi untuk mengembangkan sensor, aktuator, dan perangkat panen energi canggih. Tingkat kebisingan sumbu-Z yang rendah sebesar 0,04 nm memastikan sensitivitas dan akurasi yang luar biasa dalam mendeteksi deformasi permukaan kecil yang terkait dengan piezorespons, sehingga meningkatkan keandalan hasil eksperimen.

Rentang sudut pemindaian 0 hingga 360° menawarkan cakupan spasial yang komprehensif, membuat AtomEdge Pro cocok untuk topografi permukaan yang kompleks dan material anisotropik. Presisi dan multifungsinya menjadikannya ideal untuk aplikasi dalam penelitian semikonduktor, biomaterial, polimer, dan material magnetik. Baik itu menyelidiki variasi potensial permukaan dengan KPFM atau mengkarakterisasi domain magnetik dengan MFM, AtomEdge Pro memberikan wawasan terperinci yang penting untuk penelitian dasar dan kontrol kualitas industri.

Singkatnya, Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope adalah instrumen yang serbaguna dan sangat presisi yang dirancang untuk analisis permukaan skala nano tingkat lanjut. Mode pengukuran multifungsinya, resolusi gambar yang luar biasa, dan kinerja kebisingan rendah menjadikannya alat penting bagi para peneliti dan insinyur yang bertujuan untuk mengeksplorasi sifat material dengan resolusi atom dan untuk melakukan studi Mikroskopi Gaya Piezorespons yang canggih di bawah berbagai skenario aplikasi.