Nanoscale 3D Imaging For Semiconductor & Advanced Materials Research

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope (AFM) is een zeer geavanceerd en veelzijdig instrument dat is ontworpen om een nauwkeurige oppervlaktekarakterisering te bieden door middel van meerdere werkwijzen.Deze multifunctionele microscoop integreert een reeks technieken, waaronder elektrostatische krachtmicroscopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezo-elektrische krachtmicroscopie (PFM), Scanning Capacitive Microscopy (SCM) en Magnetic Force Microscopy (MFM).het biedt een optionele Conductive Atomic Force Microscopy (C-AFM) -modus, waardoor gebruikers de mogelijkheden voor elektrische eigenschappen kunnen uitbreiden.De combinatie van deze modus maakt de AFM een onmisbaar instrument voor onderzoekers en ingenieurs die werkzaam zijn in de materialenwetenschappen, nanotechnologie en halfgeleiderindustrie.

Een van de opvallende kenmerken van deze AFM is het uitgebreide scanningbereik, dat 100 μm * 100 μm in de laterale richting en 10 μm in de verticale richting beslaat.Dit brede assortiment maakt een gedetailleerde analyse mogelijk van een breed scala aan steekproeftypen en -groottesHet instrument is compatibel met monsters tot 25 mm in diameter.met een breed spectrum aan afmetingen zonder speciale montage of voorbereiding, waardoor het gebruiksgemak en de doorvoer worden verbeterd.

De scanscapaciteit van deze AFM wordt verder verbeterd door de XYZ-drieassige scanscansmethode voor volledige monsters.Deze geavanceerde scanning benadering maakt een volledige en nauwkeurige mapping van de steekproef oppervlakkenDe drieassige besturing zorgt ervoor dat elk deel van het monster met hoge precisie kan worden onderzocht.waardoor het ideaal is voor gedetailleerde oppervlaktemorfologische studies en complexe materiaalkenmerken.

Wat de bedrijfssnelheid betreft, ondersteunt de AFM een scansnelheidsbereik van 0,1 Hz tot 30 Hz.Dit brede bereik stelt gebruikers in staat de scansnelheid af te stemmen op de specifieke vereisten van hun experimenten.Of het nu gaat om het uitvoeren van langzame, hoge-resolutie beeldvorming of snellere scans voor voorlopige beoordelingen, de AFM is naadloos aan te passen aan verschillende onderzoeksbehoeften.

Een ander belangrijk voordeel van deze atoomkrachtmicroscoop is de mogelijkheid om zonder contact te scannen.waar fysiek contact het oppervlak kan veranderen of beschadigenDoor de verwarring van de monsters tot een minimum te beperken en tegelijkertijd beeldvorming met hoge resolutie te behouden, zorgt de AFM voor betrouwbare en reproduceerbare resultaten.polymeren, en andere gevoelige materialen.

Als scanning probe microscope (SPM) is deze AFM uitstekend in het leveren van meerdere modi van oppervlakte- en eigendomsanalyse binnen één platform.De integratie van verschillende krachtmicroscopie technieken stelt gebruikers in staat om elektrischeDeze multifunctionaliteit vermindert de complexiteit van experimenten en bespaart waardevolle laboratoriumruimte en -middelen.

Samengevat biedt de Atomic Force Microscope een krachtige combinatie van meerdere modi, een uitgebreid scanning bereik, flexibele monster compatibiliteit, en hoge scanning snelheden,alle geïntegreerd in een state-of-the-art XYZ-drie-assig scansysteem. Its non-contact imaging capability and SPM technology make it an essential tool for cutting-edge research and industrial applications where nanoscale precision and multifunctional measurements are criticalOf het nu gaat om academisch onderzoek of om industriële kwaliteitscontrole, deze AFM onderscheidt zich als een betrouwbare en aanpasbare oplossing voor een uitgebreide oppervlaktekarakterisering.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope
• Scanmethode: XYZ-drieassige volledige-sample-scan
• Grootte van het monster: compatibel met monsters met een diameter van 25 mm
• Scansnelheid: 0,1 Hz - 30 Hz
• Ruisniveau van de Z-as: 0,04 Nm
• Multifunctionele metingen: elektrostatische krachtimicroscoop (EFM), scanning Kelvin probe krachtimicroscoop (KPFM), piezo-elektrische krachtimicroscoop (PFM),Scanscapaciteitsmicroscoop (SCM)Magnetische krachtmicroscoop (MFM); optioneel: geleidende atoomkrachtmicroscoop (C-AFM)
• Ondersteunt multi-mode meting voor veelzijdige toepassingen
• Mogelijkheden voor nano-analyse met hoge resolutie
• Voorziet in gedetailleerde topografische afbeeldingen voor oppervlakkenkarakterisering

Technische parameters:

Deze atoomkrachtmicroscoop is ideaal voor oppervlaktanalyse en nanomechanische testen en biedt geavanceerde mogelijkheden, waaronder magnetische krachtmicroscopie voor uitgebreide materiaalkarakterisering.

Toepassingen:

De Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, afkomstig uit China, is een geavanceerd instrument dat is ontworpen voor een breed scala aan wetenschappelijke en industriële toepassingen.De multifunctionele meetmogelijkheden, met inbegrip van elektrostatische krachtmicroscoop (EFM), scanning Kelvin sonde force microscopie (KPFM), piezo-elektrische krachtmicroscopie (PFM), scanning capacitive microscopie (SCM),en magnetische krachtmicroscopie (MFM)Het is een onontbeerlijk instrument voor gedetailleerde oppervlaktekarakterisatie.de optionele geleidende atoomkrachtmicroscoop (C-AFM) breidt zijn nut uit tot onderzoek naar elektrische eigenschappen, die een uitgebreid platform voor nanoschaalanalyse biedt.

De AtomEdge Pro ondersteunt verschillende besturingsmodi, zoals contactmodus, tapmodus, fase-imagingmodus, liftmodus en multi-directionele scanningmodus.de gebruikers in staat stellen de metingen aan te passen aan de specifieke vereisten voor monsters. This versatility is particularly beneficial in research environments where delicate samples demand non-destructive imaging techniques or where different contrast mechanisms are needed to extract valuable dataMet beeldmonsteringspunten variërend van 32*32 tot een indrukwekkende 4096*4096, levert het systeem hoge resolutiebeelden die een afbeelding met atoomresolutie mogelijk maken.cruciaal voor het identificeren van oppervlakken op atoomschaal.

Een van de opvallende toepassingen van de AtomEdge Pro is in piezoresponskrachtmicroscopie (PFM), waar het uitblinkt in het in kaart brengen van de piezo- en ferro-elektrische eigenschappen van materialen.Dit vermogen is van vitaal belang in materiaalwetenschap en nanotechnologie onderzoek voor de ontwikkeling van geavanceerde sensorenHet lage geluidsniveau van de Z-as van 0,04 nm zorgt voor uitzonderlijke gevoeligheid en nauwkeurigheid bij het detecteren van kleine oppervlaktevervorming in verband met piezorespons.het verbeteren van de betrouwbaarheid van de experimentele resultaten.

Het scanningskantbereik van 0 tot 360° biedt een uitgebreide ruimtelijke dekking, waardoor de AtomEdge Pro geschikt is voor complexe oppervlakte topografieën en anisotrope materialen.De nauwkeurigheid en multifunctionaliteit maken het ideaal voor toepassingen in halfgeleideronderzoekHet onderzoek van oppervlaktepotentiële variaties met KPFM of het karakteriseren van magnetische domeinen met MFM is een belangrijke factor in de ontwikkeling van een geavanceerde methode voor het analyseren van de potentiële variaties van oppervlaktepotentialen.De AtomEdge Pro biedt gedetailleerde inzichten die essentieel zijn voor zowel fundamenteel onderzoek als industriële kwaliteitscontrole.

Samengevat is de Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope een veelzijdig en zeer nauwkeurig instrument dat is ontworpen voor geavanceerde nanoschaaloppervlaktanalyse.De multifunctionele meetmodi, uitzonderlijke beeldresolutie, and low noise performance make it an essential tool for researchers and engineers aiming to explore material properties with atomic resolution and to conduct sophisticated Piezoresponse Force Microscopy studies under various application scenarios.