Nanowymiarowe obrazowanie 3D do badań nad półprzewodnikami i zaawansowanymi materiałami

Opis produktu:

Mikroskop Sił Atomowych (AFM) to zaawansowane i wszechstronne urządzenie zaprojektowane do precyzyjnej charakterystyki powierzchni za pomocą wielu trybów pracy. Ten wielofunkcyjny mikroskop integruje szereg technik, w tym Mikroskopię Sił Elektrostatycznych (EFM), Skaningową Mikroskopię Siłową Sondy Kelvina (KPFM), Mikroskopię Sił Piezoelektrycznych (PFM), Skaningową Mikroskopię Pojemnościową (SCM) i Mikroskopię Sił Magnetycznych (MFM). Dodatkowo oferuje opcjonalny tryb Konduktywnej Mikroskopii Sił Atomowych (C-AFM), umożliwiając użytkownikom rozszerzenie jego możliwości o pomiary właściwości elektrycznych. Połączenie tych trybów sprawia, że AFM jest niezastąpionym narzędziem dla naukowców i inżynierów pracujących w dziedzinie materiałoznawstwa, nanotechnologii i przemysłu półprzewodników.

Jedną z wyróżniających cech tego AFM jest jego wszechstronny zakres skanowania, który obejmuje 100 μm * 100 μm w kierunkach bocznych i 10 μm w kierunku pionowym. Ten rozległy zakres umożliwia szczegółową analizę szerokiej gamy typów i rozmiarów próbek, zapewniając elastyczność i precyzję w obrazowaniu i pomiarach. Urządzenie jest kompatybilne z próbkami o średnicy do 25 mm, co pozwala na szerokie spektrum wymiarów próbek bez konieczności specjalnego montażu lub przygotowania, zwiększając tym samym wygodę użytkownika i wydajność.

Możliwości skanowania tego AFM są dodatkowo wzmocnione przez metodę skanowania XYZ z pełnym skanowaniem próbki w trzech osiach. To zaawansowane podejście do skanowania pozwala na pełne i dokładne mapowanie powierzchni próbek, dostarczając bogatych informacji topograficznych i funkcjonalnych w nanoskali. Kontrola w trzech osiach zapewnia, że każda część próbki może być badana z dużą precyzją, co czyni ją idealną do szczegółowych badań morfologii powierzchni i charakterystyki złożonych materiałów.

Pod względem prędkości działania, AFM obsługuje zakres prędkości skanowania od 0,1 Hz do 30 Hz. Ten szeroki zakres pozwala użytkownikom dostosować prędkość skanowania do specyficznych wymagań ich eksperymentów, równoważąc rozdzielczość i efektywność czasową. Niezależnie od tego, czy prowadzone jest powolne obrazowanie o wysokiej rozdzielczości, czy szybsze skanowanie w celu wstępnej oceny, AFM płynnie dostosowuje się do różnych potrzeb badawczych.

Kolejną kluczową zaletą tego Mikroskopu Sił Atomowych jest jego zdolność do wykonywania skanowania bezkontaktowego. Tryb bezkontaktowy jest niezbędny do analizy delikatnych lub miękkich próbek, gdzie kontakt fizyczny mógłby zmienić lub uszkodzić powierzchnię. Minimalizując zakłócenia próbki przy jednoczesnym zachowaniu obrazowania o wysokiej rozdzielczości, AFM zapewnia wiarygodne i powtarzalne wyniki. Ta funkcja sprawia, że jest on dobrze przystosowany do zastosowań w biologii, polimerach i innych wrażliwych materiałach.

Jako Mikroskop Skaningowy Sondy (SPM), ten AFM wyróżnia się w dostarczaniu wielu trybów analizy powierzchni i właściwości w ramach jednej platformy. Integracja różnych technik mikroskopii siłowej pozwala użytkownikom na badanie właściwości elektrycznych, mechanicznych, magnetycznych i piezoelektrycznych bez konieczności zmiany instrumentów. Ta wielofunkcyjność zmniejsza złożoność eksperymentów i oszczędza cenne miejsce i zasoby laboratoryjne.

Podsumowując, Mikroskop Sił Atomowych oferuje potężne połączenie wielu trybów, rozległego zakresu skanowania, elastycznej kompatybilności próbek i wysokich prędkości skanowania, a wszystko to wbudowane w najnowocześniejszy system skanowania XYZ w trzech osiach. Jego zdolność do obrazowania bezkontaktowego i technologia SPM sprawiają, że jest to niezbędne narzędzie do badań najnowszej generacji i zastosowań przemysłowych, w których precyzja w nanoskali i wielofunkcyjne pomiary są krytyczne. Niezależnie od tego, czy chodzi o badania akademickie, czy kontrolę jakości w przemyśle, ten AFM wyróżnia się jako niezawodne i adaptacyjne rozwiązanie do kompleksowej charakterystyki powierzchni.

Cechy:

• Nazwa produktu: Mikroskop Sił Atomowych
• Metoda skanowania: Skanowanie XYZ z pełnym skanowaniem próbki w trzech osiach
• Rozmiar próbki: Kompatybilny z próbkami o średnicy 25 mm
• Prędkość skanowania: 0,1 Hz - 30 Hz
• Poziom szumów w osi Z: 0,04 Nm
• Pomiary wielofunkcyjne: Mikroskop Sił Elektrostatycznych (EFM), Skaningowa Mikroskopia Sondy Kelvina (KPFM), Mikroskopia Sił Piezoelektrycznych (PFM), Skaningowa Mikroskopia Pojemnościowa (SCM), Mikroskopia Sił Magnetycznych (MFM); Opcjonalnie: Konduktywna Mikroskopia Sił Atomowych (C-AFM)
• Obsługuje pomiary wielotrybowe dla wszechstronnych zastosowań
• Umożliwia analizę w nanoskali o wysokiej rozdzielczości
• Zapewnia szczegółowe obrazowanie topograficzne do charakterystyki powierzchni

Parametry techniczne:

Ten Mikroskop Sił Atomowych jest idealny do analizy powierzchni i testowania nanomechanicznego, oferując zaawansowane możliwości, w tym Mikroskopię Sił Magnetycznych do kompleksowej charakterystyki materiałów.

Zastosowania:

Mikroskop Sił Atomowych Truth Instruments AtomEdge Pro, pochodzący z Chin, to najnowocześniejsze narzędzie przeznaczone do szerokiego zakresu zastosowań naukowych i przemysłowych. Jego wielofunkcyjne możliwości pomiarowe, w tym Mikroskop Sił Elektrostatycznych (EFM), Skaningowa Mikroskopia Sondy Kelvina (KPFM), Mikroskopia Sił Piezoelektrycznych (PFM), Skaningowa Mikroskopia Pojemnościowa (SCM) i Mikroskopia Sił Magnetycznych (MFM), czynią go niezbędnym instrumentem do szczegółowej charakterystyki powierzchni. Dodatkowo, opcjonalna Konduktywna Mikroskopia Sił Atomowych (C-AFM) rozszerza jego użyteczność o badania właściwości elektrycznych, zapewniając kompleksową platformę do analizy w nanoskali.

AtomEdge Pro obsługuje różne tryby pracy, takie jak Tryb kontaktowy, Tryb dotykowy, Tryb obrazowania fazowego, Tryb podnoszenia i Wielokierunkowy tryb skanowania, umożliwiając użytkownikom dostosowanie pomiarów do specyficznych wymagań próbki. Ta wszechstronność jest szczególnie korzystna w środowiskach badawczych, gdzie delikatne próbki wymagają nieniszczących technik obrazowania lub gdzie potrzebne są różne mechanizmy kontrastu do wydobycia cennych danych. Dzięki punktom próbkowania obrazu w zakresie od 32*32 do imponujących 4096*4096, system dostarcza obrazy o wysokiej rozdzielczości, które umożliwiają obrazowanie w rozdzielczości atomowej, co ma kluczowe znaczenie dla identyfikacji cech powierzchni w skali atomowej.

Jednym z wyróżniających zastosowań AtomEdge Pro jest Mikroskopia Sił Piezoelektrycznych (PFM), w której wyróżnia się mapowaniem właściwości piezoelektrycznych i ferroelektrycznych materiałów. Ta zdolność jest niezbędna w badaniach materiałoznawczych i nanotechnologicznych do opracowywania zaawansowanych czujników, siłowników i urządzeń do zbierania energii. Niski poziom szumów w osi Z wynoszący 0,04 nm zapewnia wyjątkową czułość i dokładność w wykrywaniu drobnych deformacji powierzchni związanych z odpowiedzią piezoelektryczną, zwiększając tym samym niezawodność wyników eksperymentalnych.

Zakres kąta skanowania od 0 do 360° oferuje kompleksowe pokrycie przestrzenne, dzięki czemu AtomEdge Pro nadaje się do złożonych topografii powierzchni i materiałów anizotropowych. Jego precyzja i wielofunkcyjność sprawiają, że jest idealny do zastosowań w badaniach półprzewodników, biomateriałach, polimerach i materiałach magnetycznych. Niezależnie od tego, czy bada się wariacje potencjału powierzchniowego za pomocą KPFM, czy charakteryzuje domeny magnetyczne za pomocą MFM, AtomEdge Pro zapewnia szczegółowe wglądy, które są niezbędne zarówno dla badań podstawowych, jak i kontroli jakości w przemyśle.

Podsumowując, Mikroskop Sił Atomowych Truth Instruments AtomEdge Pro to wszechstronne i wysoce precyzyjne urządzenie przeznaczone do zaawansowanej analizy powierzchni w nanoskali. Jego wielofunkcyjne tryby pomiarowe, wyjątkowa rozdzielczość obrazu i niska wydajność szumów sprawiają, że jest to niezbędne narzędzie dla naukowców i inżynierów, którzy chcą badać właściwości materiałów z rozdzielczością atomową i prowadzić zaawansowane badania Mikroskopii Sił Piezoelektrycznych w różnych scenariuszach zastosowań.