Наноразмерное 3D изображение для полупроводников и исследования передовых материалов

Описание продукта:

Микроскоп атомной силы (AFM) - это высокоразвитый и универсальный инструмент, предназначенный для обеспечения точной характеристики поверхности с помощью нескольких режимов работы.Этот многофункциональный микроскоп включает в себя ряд методов, включая электростатическую микроскопию силы (EFM), сканирующая микроскопия силовых зондов Кельвина (KPFM), пиезоэлектрическая микроскопия сил (PFM), сканирующая емкостная микроскопия (SCM) и магнитная микроскопия сил (MFM).он предлагает опционный режим проводящей микроскопии атомной силы (C-AFM), что позволяет пользователям расширить свои возможности измерения электрических свойств.Сочетание этих режимов делает AFM незаменимым инструментом для исследователей и инженеров, работающих в области материаловедения, нанотехнологий и полупроводниковой промышленности.

Одной из отличительных особенностей этого AFM является его обширный диапазон сканирования, который охватывает 100 мкм * 100 мкм в боковых направлениях и 10 мкм в вертикальном направлении.Этот широкий диапазон позволяет детально проанализировать самые разные типы и размеры образцов.Прибор совместим с образцами диаметром до 25 мм.изделие, предназначенное для использования в изделиях, изготовленных из материала, изготовленного из материала, изготовленного из материала, изготовленного из материала, изготовленного из материала, тем самым повышая удобство пользователя и пропускную способность.

Способность сканирования этой AFM еще больше улучшается методом сканирования полного образца XYZ с тремя осьми.Этот передовой метод сканирования позволяет получить полную и точную карту поверхностей образцов, обеспечивающий богатую топографическую и функциональную информацию на наноуровне.что делает его идеальным для детальных исследований морфологии поверхности и сложных характеристик материалов.

С точки зрения операционной скорости AFM поддерживает диапазон частот сканирования от 0,1 Гц до 30 Гц.Этот широкий диапазон позволяет пользователям настраивать скорость сканирования в соответствии с конкретными требованиями их экспериментов.Независимо от того, проводится ли медленное изображение высокого разрешения или быстрее сканирование для предварительных оценок, AFM легко адаптируется к различным исследовательским потребностям.

Еще одним ключевым преимуществом этого микроскопа атомной силы является его способность выполнять бесконтактное сканирование.где физический контакт может изменить или повредить поверхностьМинимизируя нарушения в образцах при сохранении высокого разрешения, AFM обеспечивает надежные и воспроизводимые результаты.полимеры, и других чувствительных материалов.

В качестве сканирующего микроскопа (SPM) эта AFM превосходит в предоставлении нескольких режимов анализа поверхности и свойств в рамках одной платформы.Интеграция различных методов силовой микроскопии позволяет пользователям исследовать электрическиеЭта многофункциональность уменьшает сложность экспериментов и экономит ценное лабораторное пространство и ресурсы.

Подводя итог, Микроскоп атомной силы предлагает мощное сочетание нескольких режимов, широкий диапазон сканирования, гибкую совместимость образцов и высокую скорость сканирования,все встроены в современную трехосевую систему сканирования XYZ. Its non-contact imaging capability and SPM technology make it an essential tool for cutting-edge research and industrial applications where nanoscale precision and multifunctional measurements are criticalБудь то для академических исследований или промышленного контроля качества, эта AFM выделяется как надежное и адаптивное решение для комплексной характеристики поверхности.

Особенности:

• Наименование продукта: Микроскоп атомной силы
• Способ сканирования: XYZ Трехосная сканирование полного образца
• Размер образца: совместим с образцами диаметром 25 мм
• Скорость сканирования: 0,1 - 30 Гц
• Уровень шума по оси Z: 0,04 Нм
• Многофункциональные измерения: электростатический силовой микроскоп (EFM), сканирующий Кельвинский силовой микроскоп (KPFM), пиезоэлектрический силовой микроскоп (PFM),Сканирующий емкостный микроскоп атомной силы (SCM), Магнитный микроскоп силы (MFM); необязательно: Проводящий микроскоп атомной силы (C-AFM)
• Поддерживает многорежимное измерение для универсальных приложений
• Позволяет проводить анализ на наномасштабе с высоким разрешением
• Предоставляет подробные топографические изображения для характеристики поверхности

Технические параметры:

Этот микроскоп атомной силы идеально подходит для анализа поверхности и наномеханических испытаний, предлагая передовые возможности, включая микроскопию магнитной силы для комплексной характеристики материалов.

Применение:

Микроскоп атомной силы Truth Instruments AtomEdge Pro, изготовленный в Китае, является передовым инструментом, предназначенным для широкого спектра научных и промышленных применений.Многофункциональные возможности измерений, включая электростатический силовой микроскоп (ЭФМ), сканирующий Кельвинский силовой микроскоп (KPFM), пиезоэлектрический силовой микроскоп (PFM), сканирующий емкостный микроскоп (SCM),и микроскопии магнитных сил (MFM), что делает его незаменимым инструментом для детальной характеристики поверхности.дополнительный микроскоп проводящей атомной силы (C-AFM) расширяет свою полезность для исследования электрических свойств, предоставляя всеобъемлющую платформу для анализа на наномасштабе.

AtomEdge Pro поддерживает различные режимы работы, такие как режим контакта, режим нажатия, режим фазовой визуализации, режим подъема и многонаправленный режим сканирования,позволяет пользователям настраивать измерения в соответствии со специфическими требованиями к образцам. This versatility is particularly beneficial in research environments where delicate samples demand non-destructive imaging techniques or where different contrast mechanisms are needed to extract valuable dataС точки отбора образцов от 32*32 до впечатляющих 4096*4096, система обеспечивает изображения с высоким разрешением, которые позволяют получать изображения с атомным разрешением.Крайне важно для определения поверхностных особенностей в атомном масштабе.

Одно из наиболее ярких применений AtomEdge Pro - это микроскопия силовой реакции (PFM), где он превосходно справляется с картографированием пьезоэлектрических и ферроэлектрических свойств материалов.Эта способность жизненно важна в материаловедении и нанотехнологиях для разработки передовых датчиков.Низкий уровень шума оси Z 0,04 нм обеспечивает исключительную чувствительность и точность при обнаружении крошечных деформаций поверхности, связанных с пиезореакцией.тем самым повышая надежность результатов экспериментов.

Диапазон углов сканирования от 0 до 360° обеспечивает всеобъемлющее пространственное покрытие, что делает AtomEdge Pro подходящим для сложной топографии поверхности и анизотропных материалов.Его точность и многофункциональность делают его идеальным для применения в исследованиях полупроводников, биоматериалов, полимеров и магнитных материалов.AtomEdge Pro обеспечивает подробную информацию, необходимую как для фундаментальных исследований, так и для контроля качества в промышленности..

Подводя итог, Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope - это универсальный и высокоточный инструмент, предназначенный для передового анализа поверхности на наномасштабе.Его многофункциональные режимы измерений, исключительное разрешение изображения, and low noise performance make it an essential tool for researchers and engineers aiming to explore material properties with atomic resolution and to conduct sophisticated Piezoresponse Force Microscopy studies under various application scenarios.