Microscopi industriali regolabili ad alta risoluzione per microscopia a forza atomica potenziale su scala nanometrica

Descrizione del Prodotto:

Una delle caratteristiche principali dell'AFM è la sua impressionante gamma di scansione, che misura 100 μm X 100 μm X 10 μm. Questa ampia gamma consente l'imaging e l'analisi dettagliati di una varietà di campioni, da piccole nanoparticelle a strutture più grandi.

Con una velocità di scansione che va da 0,1 Hz a 30 Hz, l'AFM offre versatilità nella cattura di processi dinamici e nell'ottenimento di risultati rapidi. I ricercatori possono regolare la velocità di scansione in base alla natura dei loro campioni e al livello di dettaglio richiesto nella loro analisi.

L'AFM è in grado di ospitare campioni di dimensioni fino a 25 mm, offrendo ampio spazio ai ricercatori per studiare un'ampia gamma di materiali e strutture. Questa flessibilità rende l'AFM uno strumento prezioso per varie applicazioni, tra cui la scienza dei materiali, la biologia e la chimica.

Dotato di un piano XYZ piezoelettrico, il piano campione dell'AFM offre controllo e stabilità precisi durante l'imaging. La tecnologia piezoelettrica consente un posizionamento accurato del campione nelle direzioni X, Y e Z, consentendo ai ricercatori di acquisire immagini di alta qualità con una risoluzione eccezionale.

Parlando di risoluzione, l'AFM vanta un'impressionante risoluzione di 0,04 nm, consentendo ai ricercatori di visualizzare le caratteristiche della superficie con incredibile dettaglio. Questa alta risoluzione è essenziale per studiare le strutture su scala nanometrica e analizzare le proprietà della superficie a livello atomico.

In conclusione, il Microscopio a Forza Atomica è uno strumento all'avanguardia che offre capacità avanzate per l'analisi della superficie. Con la sua ampia gamma di scansione, la velocità di scansione regolabile, l'ampia capacità di dimensioni del campione, il piano campione preciso e l'eccezionale risoluzione, l'AFM è uno strumento prezioso per i ricercatori che desiderano esplorare il nanouniverso e condurre studi approfonditi in varie discipline scientifiche.

Caratteristiche:

• Nome del Prodotto: Microscopio a Forza Atomica
• Velocità di Scansione: 0,1 Hz-30 Hz
• Piano Campione: Piano XYZ piezoelettrico
• Dimensione Campione: Fino a 25 mm
• Gamma di Scansione: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Risoluzione: 0,04 nm

Parametri Tecnici:

Applicazioni:

Il Microscopio a Forza Atomica Truth Instruments, modello AtomEdge Pro, è uno strumento scientifico all'avanguardia proveniente dalla Cina. Con una notevole risoluzione di 0,04 nm, questo AFM è progettato per soddisfare un'ampia gamma di applicazioni di ricerca e industriali.

Una delle caratteristiche distintive dell'AtomEdge Pro è la sua versatilità nelle modalità di imaging, tra cui topografia, fase, attrito, forza laterale, forza magnetica e imaging della forza elettrostatica. Questa capacità di misurazione multi-modalità consente a ricercatori e ingegneri di raccogliere dati completi sulle proprietà della superficie di vari materiali a livello nanoscopico.

Grazie alla sua impressionante gamma di velocità di scansione da 0,1 Hz a 30 Hz, l'AFM Truth Instruments consente la scansione rapida ed efficiente dei campioni. Che si tratti di ricerca accademica, controllo qualità nella produzione o analisi dei materiali, questo microscopio a sonda a scansione offre imaging ad alta velocità senza compromettere l'accuratezza dei dati.

Il piano campione dell'AtomEdge Pro è dotato di un piano XYZ piezoelettrico, che fornisce un controllo preciso sul posizionamento e sul movimento del campione. Questa funzione è particolarmente utile per condurre esperimenti che richiedono la manipolazione e la scansione precise di campioni fino a 25 mm di dimensione.

Ricercatori di vari settori, tra cui la scienza dei materiali, la nanotecnologia, la biologia e la fisica delle superfici, possono beneficiare delle capacità del Microscopio a Forza Atomica Truth Instruments. Che si tratti di studiare campioni biologici, analizzare film sottili, indagare sulle proprietà della superficie o condurre esperimenti nanomeccanici, l'AtomEdge Pro offre una soluzione affidabile e versatile per l'imaging e la caratterizzazione avanzati.