Microscópio de força atômica potencial em nanoescala Microscópios industriais ajustáveis Alta resolução

Descrição do Produto:

Uma das principais características do AFM é sua impressionante faixa de varredura, medindo 100 μm X 100 μm X 10 μm. Essa ampla faixa permite a imagem e análise detalhadas de uma variedade de amostras, desde pequenas nanopartículas até estruturas maiores.

Com uma velocidade de varredura que varia de 0,1 Hz a 30 Hz, o AFM oferece versatilidade na captura de processos dinâmicos e na obtenção de resultados rápidos. Os pesquisadores podem ajustar a velocidade de varredura com base na natureza de suas amostras e no nível de detalhe exigido em sua análise.

O AFM é capaz de acomodar tamanhos de amostra de até 25 mm, fornecendo espaço amplo para os pesquisadores estudarem uma ampla gama de materiais e estruturas. Essa flexibilidade torna o AFM uma ferramenta valiosa para várias aplicações, incluindo ciência dos materiais, biologia e química.

Equipado com um estágio XYZ acionado por piezo, o estágio de amostra do AFM oferece controle e estabilidade precisos durante a imagem. A tecnologia piezo permite o posicionamento preciso da amostra nas direções X, Y e Z, permitindo que os pesquisadores capturem imagens de alta qualidade com resolução excepcional.

Falando em resolução, o AFM possui uma resolução impressionante de 0,04 nm, permitindo que os pesquisadores visualizem características da superfície com detalhes incríveis. Essa alta resolução é essencial para estudar estruturas em nanoescala e analisar propriedades da superfície em nível atômico.

Em conclusão, o Microscópio de Força Atômica é uma ferramenta de última geração que oferece recursos avançados para análise de superfície. Com sua ampla faixa de varredura, velocidade de varredura ajustável, capacidade de tamanho de amostra espaçosa, estágio de amostra preciso e resolução excepcional, o AFM é um instrumento valioso para pesquisadores que buscam explorar o nanoverso e conduzir estudos aprofundados em várias disciplinas científicas.

Características:

• Nome do Produto: Microscópio de Força Atômica
• Velocidade de Varredura: 0,1 Hz-30 Hz
• Estágio da Amostra: Estágio XYZ acionado por piezo
• Tamanho da Amostra: Até 25 mm
• Faixa de Varredura: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Resolução: 0,04 nm

Parâmetros Técnicos:

Aplicações:

O Microscópio de Força Atômica da Truth Instruments, modelo AtomEdge Pro, é um instrumento científico de ponta originário da China. Com uma resolução notável de 0,04 nm, este AFM foi projetado para atender a uma ampla gama de aplicações de pesquisa e industriais.

Uma das características de destaque do AtomEdge Pro é sua versatilidade em modos de imagem, incluindo topografia, fase, atrito, força lateral, força magnética e imagem de força eletrostática. Essa capacidade de medição multimodo permite que pesquisadores e engenheiros coletem dados abrangentes sobre as propriedades da superfície de vários materiais em nível de nanoescala.

Graças à sua impressionante faixa de velocidade de varredura de 0,1 Hz a 30 Hz, o AFM da Truth Instruments permite a varredura rápida e eficiente de amostras. Seja para pesquisa acadêmica, controle de qualidade na fabricação ou análise de materiais, este microscópio de sonda de varredura oferece imagem de alta velocidade sem comprometer a precisão dos dados.

O estágio de amostra do AtomEdge Pro é equipado com um estágio XYZ acionado por piezo, fornecendo controle preciso sobre o posicionamento e movimento da amostra. Esse recurso é particularmente útil para conduzir experimentos que exigem manipulação e varredura precisas de amostras de até 25 mm de tamanho.

Pesquisadores de várias áreas, incluindo ciência dos materiais, nanotecnologia, biologia e física de superfície, podem se beneficiar das capacidades do Microscópio de Força Atômica da Truth Instruments. Seja estudando amostras biológicas, analisando filmes finos, investigando propriedades da superfície ou conduzindo experimentos nanomecânicos, o AtomEdge Pro oferece uma solução confiável e versátil para imagem e caracterização avançadas.