Наноразмерная потенциальная атомно-силовая микроскопия Регулируемые промышленные микроскопы Высокое разрешение

Описание продукта:

Одной из ключевых особенностей АСМ является впечатляющий диапазон сканирования, составляющий 100 мкм X 100 мкм X 10 мкм. Этот широкий диапазон позволяет детально отображать и анализировать различные образцы, от небольших наночастиц до более крупных структур.

Благодаря скорости сканирования от 0,1 Гц до 30 Гц, АСМ предлагает универсальность в захвате динамических процессов и получении быстрых результатов. Исследователи могут регулировать скорость сканирования в зависимости от характера своих образцов и требуемого уровня детализации в их анализе.

АСМ способна вмещать образцы размером до 25 мм, предоставляя исследователям достаточно места для изучения широкого спектра материалов и структур. Эта гибкость делает АСМ ценным инструментом для различных применений, включая материаловедение, биологию и химию.

Оснащенный пьезоэлектрическим XYZ-столиком, столик для образцов АСМ обеспечивает точный контроль и стабильность во время получения изображений. Пьезотехнология позволяет точно позиционировать образец в направлениях X, Y и Z, что позволяет исследователям получать изображения высокого качества с исключительным разрешением.

Говоря о разрешении, АСМ может похвастаться впечатляющим разрешением 0,04 нм, что позволяет исследователям визуализировать особенности поверхности с невероятной детализацией. Это высокое разрешение необходимо для изучения наноразмерных структур и анализа свойств поверхности на атомном уровне.

В заключение, атомно-силовой микроскоп - это современный инструмент, предлагающий расширенные возможности для анализа поверхности. Благодаря широкому диапазону сканирования, регулируемой скорости сканирования, вместимости образцов, точному столику для образцов и выдающемуся разрешению, АСМ является ценным инструментом для исследователей, желающих исследовать наномир и проводить углубленные исследования в различных научных дисциплинах.

Особенности:

• Название продукта: Атомно-силовой микроскоп
• Скорость сканирования: 0,1 Гц - 30 Гц
• Столик для образцов: Пьезоэлектрический XYZ-столик
• Размер образца: до 25 мм
• Диапазон сканирования: 100 мкм X 100 мкм X 10 мкм
• Разрешение: 0,04 нм

Технические параметры:

Применения:

Атомно-силовой микроскоп Truth Instruments, модель AtomEdge Pro, является передовым научным инструментом, произведенным в Китае. Обладая замечательным разрешением 0,04 нм, этот АСМ предназначен для широкого спектра исследовательских и промышленных применений.

Одной из выдающихся особенностей AtomEdge Pro является его универсальность в режимах получения изображений, включая топографию, фазу, трение, боковую силу, магнитную силу и электростатическое изображение. Эта многорежимная измерительная способность позволяет исследователям и инженерам собирать всесторонние данные о свойствах поверхности различных материалов на наноуровне.

Благодаря впечатляющему диапазону скорости сканирования от 0,1 Гц до 30 Гц, АСМ Truth Instruments обеспечивает быстрое и эффективное сканирование образцов. Будь то академические исследования, контроль качества в производстве или анализ материалов, этот сканирующий зондовый микроскоп предлагает высокоскоростное получение изображений без ущерба для точности данных.

Столик для образцов AtomEdge Pro оснащен пьезоэлектрическим XYZ-столиком, обеспечивающим точный контроль над позиционированием и перемещением образца. Эта функция особенно полезна для проведения экспериментов, требующих точного манипулирования и сканирования образцов размером до 25 мм.

Исследователи в различных областях, включая материаловедение, нанотехнологии, биологию и физику поверхности, могут извлечь выгоду из возможностей атомно-силового микроскопа Truth Instruments. Будь то изучение биологических образцов, анализ тонких пленок, исследование свойств поверхности или проведение наномеханических экспериментов, AtomEdge Pro предлагает надежное и универсальное решение для передовой визуализации и характеризации.