Mikroskop Industri Digital yang Dapat Disesuaikan Mikroskop Gaya Atom Potensial Skala Nano Resolusi Tinggi

Deskripsi produk:

Salah satu fitur utama AFM adalah rentang pemindaian yang mengesankan, mengukur pada 100 μm X 100 μm X 10 μm. rentang luas ini memungkinkan pencitraan dan analisis rinci dari berbagai sampel,dari nanopartikel kecil ke struktur yang lebih besar.

Dengan kecepatan pemindaian mulai dari 0,1 Hz hingga 30 Hz, AFM menawarkan fleksibilitas dalam menangkap proses dinamis dan mendapatkan hasil yang cepat.Peneliti dapat menyesuaikan kecepatan pemindaian berdasarkan sifat sampel mereka dan tingkat detail yang diperlukan dalam analisis mereka.

AFM mampu mengakomodasi ukuran sampel hingga 25 mm, menyediakan ruang yang cukup bagi para peneliti untuk mempelajari berbagai bahan dan struktur.Fleksibilitas ini membuat AFM menjadi alat yang berharga untuk berbagai aplikasi, termasuk ilmu material, biologi, dan kimia.

Dilengkapi dengan tahap XYZ yang didorong piezo, tahap sampel AFM menawarkan kontrol dan stabilitas yang tepat selama pencitraan.,dan arah Z, memungkinkan peneliti untuk menangkap gambar berkualitas tinggi dengan resolusi yang luar biasa.

Berbicara tentang resolusi, AFM menawarkan resolusi 0,04nm yang mengesankan, memungkinkan peneliti untuk memvisualisasikan fitur permukaan dengan detail yang luar biasa.Resolusi tinggi ini sangat penting untuk mempelajari struktur nanoscale dan menganalisis sifat permukaan pada tingkat atom.

Kesimpulannya, Atomic Force Microscope adalah alat canggih yang menawarkan kemampuan canggih untuk analisis permukaan.kapasitas ukuran sampel yang luas, tahap sampel yang tepat, dan resolusi yang luar biasa,AFM adalah alat yang berharga bagi para peneliti yang ingin menjelajahi dunia nano dan melakukan studi mendalam di berbagai disiplin ilmu.

Fitur:

• Nama produk: Mikroskop Kekuatan Atom
• Kecepatan pemindaian: 0.1Hz-30Hz
• Tahap Sampling: Tahap XYZ Piezo-driven
• Ukuran sampel: Hingga 25 mm
• Jangkauan pemindaian: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Resolusi: 0.04nm

Parameter teknis:

Aplikasi:

Truth Instruments Atomic Force Microscope, model AtomEdge Pro adalah instrumen ilmiah mutakhir yang berasal dari Cina.AFM ini dirancang untuk memenuhi berbagai aplikasi penelitian dan industri.

Salah satu fitur yang menonjol dari AtomEdge Pro adalah fleksibilitasnya dalam mode pencitraan, termasuk topografi, fase, gesekan, gaya lateral, gaya magnetik, dan pencitraan gaya elektrostatik.Kemampuan pengukuran multi-mode ini memungkinkan peneliti dan insinyur untuk mengumpulkan data komprehensif tentang sifat permukaan berbagai bahan pada tingkat nanoscale.

Berkat rentang kecepatan pemindaian yang mengesankan dari 0,1Hz hingga 30Hz, Truth Instruments AFM memungkinkan pemindaian sampel yang cepat dan efisien.kontrol kualitas dalam manufaktur, atau analisis bahan, mikroskop probe pemindaian ini menawarkan pencitraan kecepatan tinggi tanpa mengorbankan akurasi data.

Tahap sampel AtomEdge Pro dilengkapi dengan tahap XYZ yang didorong piezo, yang memberikan kontrol yang tepat atas posisi dan gerakan sampel.Fitur ini sangat berguna untuk melakukan percobaan yang membutuhkan manipulasi yang tepat dan pemindaian sampel hingga ukuran 25mm.

Peneliti di berbagai bidang, termasuk ilmu material, nanoteknologi, biologi, dan fisika permukaan, dapat memperoleh manfaat dari kemampuan Truth Instruments Atomic Force Microscope.Apakah mempelajari sampel biologis, menganalisis film tipis, menyelidiki sifat permukaan, atau melakukan eksperimen nanomekanik, AtomEdge Pro menawarkan solusi yang handal dan serbaguna untuk pencitraan dan karakterisasi canggih.