Microscopía de la fuerza atómica potencial a nanoescala Microscopios industriales ajustables de alta resolución

Descripción del producto:

Una de las características clave del AFM es su impresionante rango de escaneo, que mide 100 μm X 100 μm X 10 μm. Este amplio rango permite obtener imágenes y análisis detallados de una variedad de muestras,de pequeñas nanopartículas a estructuras más grandes.

Con una velocidad de escaneo que oscila entre 0,1 Hz y 30 Hz, el AFM ofrece versatilidad para capturar procesos dinámicos y obtener resultados rápidos.Los investigadores pueden ajustar la velocidad de escaneo en función de la naturaleza de sus muestras y el nivel de detalle requerido en su análisis.

El AFM es capaz de acomodar muestras de hasta 25 mm, lo que proporciona un amplio espacio para que los investigadores estudien una amplia gama de materiales y estructuras.Esta flexibilidad hace del AFM una herramienta valiosa para diversas aplicaciones, incluidas las ciencias de los materiales, la biología y la química.

Equipado con una etapa XYZ guiada por piezo, la etapa de muestra del AFM ofrece un control preciso y estabilidad durante la toma de imágenes.,y direcciones Z, lo que permite a los investigadores capturar imágenes de alta calidad con una resolución excepcional.

Hablando de resolución, el AFM cuenta con una resolución impresionante de 0.04nm, lo que permite a los investigadores visualizar las características de la superficie con un detalle increíble.Esta alta resolución es esencial para estudiar estructuras a nanoescala y analizar las propiedades superficiales a nivel atómico.

En conclusión, el microscopio de la fuerza atómica es una herramienta de última generación que ofrece capacidades avanzadas para el análisis de la superficie.capacidad de tamaño de muestra espacioso, la etapa de muestra precisa, y una resolución excepcional,El AFM es un instrumento valioso para los investigadores que buscan explorar el mundo nano y realizar estudios en profundidad en diversas disciplinas científicas.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de fuerza atómica
• Velocidad de escaneo: 0.1Hz-30Hz
• Fase de muestreo: Fase XYZ accionada por piezo
• Tamaño de la muestra: Hasta 25 mm
• Rango de exploración: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Resolución: 0,04 nm

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

El microscopio de fuerza atómica de Truth Instruments, modelo AtomEdge Pro, es un instrumento científico de vanguardia originario de China.Este AFM está diseñado para una amplia gama de aplicaciones de investigación e industriales..

Una de las características destacadas del AtomEdge Pro es su versatilidad en modos de imagen, incluyendo topografía, fase, fricción, fuerza lateral, fuerza magnética y imagen de fuerza electrostática.Esta capacidad de medición multimodo permite a investigadores e ingenieros recopilar datos completos sobre las propiedades superficiales de varios materiales a nivel nanométrico.

Gracias a su impresionante rango de velocidad de escaneo de 0.1Hz a 30Hz, el AFM de Truth Instruments permite un escaneo rápido y eficiente de muestras.Control de calidad en la fabricación, o análisis de materiales, este microscopio de sonda de exploración ofrece imágenes de alta velocidad sin comprometer la precisión de los datos.

La etapa de muestreo del AtomEdge Pro está equipada con una etapa XYZ accionada por piezo, lo que proporciona un control preciso sobre el posicionamiento y el movimiento de la muestra.Esta característica es particularmente útil para la realización de experimentos que requieren una manipulación precisa y el escaneo de muestras de hasta 25 mm de tamaño.

Los investigadores de varios campos, incluidas la ciencia de materiales, la nanotecnología, la biología y la física de superficie, pueden beneficiarse de las capacidades del microscopio de fuerza atómica de Truth Instruments.Si estudiar muestras biológicas, analizando películas delgadas, investigando las propiedades de la superficie o realizando experimentos nanomecánicos, el AtomEdge Pro ofrece una solución fiable y versátil para imágenes y caracterización avanzadas.