Nanoschaal potentiële atoomkracht microscopie verstelbare industriële microscopen hoge resolutie

Productbeschrijving:

Een van de belangrijkste kenmerken van de AFM is het indrukwekkende scanningbereik van 100 μm X 100 μm X 10 μm.van kleine nanodeeltjes naar grotere structuren.

Met een scansnelheid van 0,1 Hz tot 30 Hz biedt de AFM veelzijdigheid bij het vastleggen van dynamische processen en het verkrijgen van snelle resultaten.Onderzoekers kunnen de scansnelheid aanpassen op basis van de aard van hun monsters en het niveau van detail dat nodig is bij hun analyse.

De AFM is geschikt voor een monstergrootte van maximaal 25 mm en biedt onderzoekers voldoende ruimte om een breed scala aan materialen en structuren te bestuderen.Deze flexibiliteit maakt de AFM een waardevol instrument voor verschillende toepassingen, waaronder materiaalwetenschappen, biologie en chemie.

De AFM is uitgerust met een piezo-aangedreven XYZ-stadium en biedt een nauwkeurige controle en stabiliteit tijdens de beeldvorming.,en Z-richtingen, waardoor onderzoekers foto's van hoge kwaliteit met uitzonderlijke resolutie kunnen maken.

Over resolutie gesproken, de AFM heeft een indrukwekkende resolutie van 0,04 nm, waardoor onderzoekers oppervlaktefuncties met ongelooflijke details kunnen visualiseren.Deze hoge resolutie is essentieel voor het bestuderen van nanoschaalstructuren en het analyseren van oppervlakte-eigenschappen op atoomniveau.

De Atomic Force Microscope biedt geavanceerde mogelijkheden voor oppervlaktanalyse.ruimtelijke steekproefcapaciteit, nauwkeurige steekproeffase en uitstekende resolutie,de AFM is een waardevol instrument voor onderzoekers die de nanowereld willen verkennen en diepgaande studies willen uitvoeren in verschillende wetenschappelijke disciplines.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope
• Scansnelheid: 0,1 Hz-30 Hz
• Proeffase: piezo-aangedreven XYZ-fase
• Grootte van het monster: tot 25 mm
• Scanningbereik: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Resolutie: 0,04 nm

Technische parameters:

Toepassingen:

Truth Instruments Atomic Force Microscope, model AtomEdge Pro, is een geavanceerd wetenschappelijk instrument uit China met een opvallende resolutie van 0,04nm.Dit AFM is ontworpen voor een breed scala aan onderzoeks- en industriële toepassingen..

Een van de opvallende kenmerken van de AtomEdge Pro is de veelzijdigheid in beeldmodussen, waaronder topografie, fase, wrijving, laterale kracht, magnetische kracht en elektrostatische kracht.Met deze multimoodemeteringsmogelijkheid kunnen onderzoekers en ingenieurs uitgebreide gegevens verzamelen over de oppervlakte-eigenschappen van verschillende materialen op nanoschaalniveau..

Dankzij zijn indrukwekkende scansnelheid van 0,1 Hz tot 30 Hz, maakt de AFM van Truth Instruments een snelle en efficiënte scanning van monsters mogelijk.kwaliteitscontrole in de productie, of materiaalanalyse, biedt deze scansonde microscoop snelle afbeeldingen zonder afbreuk te doen aan de nauwkeurigheid van de gegevens.

Het monsterstadium van de AtomEdge Pro is uitgerust met een piezo aangedreven XYZ-stadium, dat een precieze controle biedt over de positionering en beweging van het monster.Deze functie is bijzonder nuttig voor het uitvoeren van experimenten waarbij nauwkeurige manipulatie en scanning van monsters tot 25 mm in grootte vereist is.

Onderzoekers op verschillende gebieden, waaronder materiaalwetenschappen, nanotechnologie, biologie en oppervlaktefysica, kunnen profiteren van de mogelijkheden van de Truth Instruments Atomic Force Microscope.Of het bestuderen van biologische monstersDe AtomEdge Pro biedt een betrouwbare en veelzijdige oplossing voor geavanceerde beeldvorming en karakterisering..