กล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรมปรับได้สำหรับวัดศักย์ไฟฟ้าด้วยเทคนิคอะตอมมิกฟอร์ซในระดับนาโนเมตร ความละเอียดสูง

รายละเอียดสินค้า:

หนึ่งในคุณสมบัติหลักของ AFM คือช่วงการสแกนที่น่าประทับใจ โดยวัดได้ 100 μm X 100 μm X 10 μm ช่วงกว้างนี้ช่วยให้สามารถถ่ายภาพและวิเคราะห์ตัวอย่างต่างๆ ได้อย่างละเอียด ตั้งแต่ขนาดอนุภาคนาโนขนาดเล็กไปจนถึงโครงสร้างขนาดใหญ่

ด้วยความเร็วในการสแกนตั้งแต่ 0.1Hz ถึง 30Hz AFM จึงมีความหลากหลายในการจับภาพกระบวนการแบบไดนามิกและรับผลลัพธ์อย่างรวดเร็ว นักวิจัยสามารถปรับความเร็วในการสแกนตามลักษณะของตัวอย่างและระดับรายละเอียดที่ต้องการในการวิเคราะห์

AFM สามารถรองรับขนาดตัวอย่างได้ถึง 25 มม. ซึ่งมีพื้นที่กว้างขวางสำหรับนักวิจัยในการศึกษาวัสดุและโครงสร้างต่างๆ ความยืดหยุ่นนี้ทำให้ AFM เป็นเครื่องมือที่มีคุณค่าสำหรับการใช้งานต่างๆ รวมถึงวิทยาศาสตร์วัสดุ ชีววิทยา และเคมี

AFM ติดตั้งแท่น XYZ ที่ขับเคลื่อนด้วยเพียโซ ซึ่งให้การควบคุมและความเสถียรที่แม่นยำในระหว่างการถ่ายภาพ เทคโนโลยีเพียโซช่วยให้สามารถวางตำแหน่งตัวอย่างได้อย่างแม่นยำในทิศทาง X, Y และ Z ทำให้นักวิจัยสามารถจับภาพคุณภาพสูงด้วยความละเอียดที่ยอดเยี่ยม

เมื่อพูดถึงความละเอียด AFM มีความละเอียดที่น่าประทับใจถึง 0.04nm ทำให้นักวิจัยสามารถมองเห็นคุณสมบัติพื้นผิวได้อย่างละเอียดอย่างเหลือเชื่อ ความละเอียดสูงนี้มีความจำเป็นสำหรับการศึกษาโครงสร้างระดับนาโนสเกลและการวิเคราะห์คุณสมบัติพื้นผิวในระดับอะตอม

โดยสรุป กล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณูเป็นเครื่องมือที่ทันสมัยซึ่งมีความสามารถขั้นสูงสำหรับการวิเคราะห์พื้นผิว ด้วยช่วงการสแกนที่กว้าง ความเร็วในการสแกนที่ปรับได้ ความจุขนาดตัวอย่างที่กว้างขวาง แท่นตัวอย่างที่แม่นยำ และความละเอียดที่โดดเด่น AFM เป็นเครื่องมือที่มีคุณค่าสำหรับนักวิจัยที่ต้องการสำรวจโลกนาโนและทำการศึกษาเชิงลึกในสาขาวิทยาศาสตร์ต่างๆ

คุณสมบัติ:

• ชื่อผลิตภัณฑ์: กล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณู
• ความเร็วในการสแกน: 0.1Hz-30Hz
• แท่นตัวอย่าง: แท่น XYZ ที่ขับเคลื่อนด้วยเพียโซ
• ขนาดตัวอย่าง: สูงสุด 25 มม.
• ช่วงการสแกน: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• ความละเอียด: 0.04nm

พารามิเตอร์ทางเทคนิค:

การใช้งาน:

กล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณู Truth Instruments รุ่น AtomEdge Pro เป็นเครื่องมือทางวิทยาศาสตร์ล้ำสมัยที่มีต้นกำเนิดจากประเทศจีน ด้วยความละเอียดที่น่าทึ่ง 0.04nm AFM นี้ได้รับการออกแบบมาเพื่อตอบสนองการวิจัยและการใช้งานทางอุตสาหกรรมที่หลากหลาย

หนึ่งในคุณสมบัติที่โดดเด่นของ AtomEdge Pro คือความสามารถรอบด้านในโหมดการถ่ายภาพ รวมถึงการถ่ายภาพภูมิประเทศ เฟส แรงเสียดทาน แรงด้านข้าง แรงแม่เหล็ก และแรงไฟฟ้าสถิต ความสามารถในการวัดแบบหลายโหมดนี้ช่วยให้นักวิจัยและวิศวกรสามารถรวบรวมข้อมูลที่ครอบคลุมเกี่ยวกับคุณสมบัติพื้นผิวของวัสดุต่างๆ ในระดับนาโนสเกล

ด้วยช่วงความเร็วในการสแกนที่น่าประทับใจตั้งแต่ 0.1Hz ถึง 30Hz AFM ของ Truth Instruments ช่วยให้สามารถสแกนตัวอย่างได้อย่างรวดเร็วและมีประสิทธิภาพ ไม่ว่าจะสำหรับการวิจัยทางวิชาการ การควบคุมคุณภาพในการผลิต หรือการวิเคราะห์วัสดุ กล้องจุลทรรศน์โพรบสแกนนี้ให้การถ่ายภาพความเร็วสูงโดยไม่กระทบต่อความถูกต้องของข้อมูล

แท่นตัวอย่างของ AtomEdge Pro ติดตั้งแท่น XYZ ที่ขับเคลื่อนด้วยเพียโซ ซึ่งให้การควบคุมที่แม่นยำเหนือตำแหน่งและการเคลื่อนที่ของตัวอย่าง คุณสมบัตินี้มีประโยชน์อย่างยิ่งสำหรับการทดลองที่ต้องมีการจัดการและการสแกนตัวอย่างอย่างแม่นยำขนาดสูงสุด 25 มม.

นักวิจัยในสาขาต่างๆ รวมถึงวิทยาศาสตร์วัสดุ เทคโนโลยีนาโน ชีววิทยา และฟิสิกส์พื้นผิว สามารถได้รับประโยชน์จากความสามารถของกล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณู Truth Instruments ไม่ว่าจะศึกษาตัวอย่างทางชีวภาพ วิเคราะห์ฟิล์มบาง ตรวจสอบคุณสมบัติพื้นผิว หรือทำการทดลองทางกลระดับนาโน AtomEdge Pro นำเสนอโซลูชันที่เชื่อถือได้และหลากหลายสำหรับการถ่ายภาพและการจำแนกคุณลักษณะขั้นสูง