Mikroskopy przemysłowe o regulowanej rozdzielczości atomowej siłowej potencjału w skali nano

Opis produktu:

Jedną z kluczowych cech AFM jest imponujący zakres skanowania, mierzący 100 μm X 100 μm X 10 μm. Ten szeroki zakres pozwala na szczegółowe obrazowanie i analizę różnych próbek, od małych nanocząstek po większe struktury.

Dzięki prędkości skanowania od 0,1 Hz do 30 Hz, AFM oferuje wszechstronność w rejestrowaniu procesów dynamicznych i uzyskiwaniu szybkich wyników. Naukowcy mogą dostosować prędkość skanowania w oparciu o charakter ich próbek i poziom szczegółowości wymagany w ich analizie.

AFM jest w stanie pomieścić próbki o wielkości do 25 mm, zapewniając naukowcom wystarczającą przestrzeń do badania szerokiej gamy materiałów i struktur. Ta elastyczność sprawia, że AFM jest cennym narzędziem do różnych zastosowań, w tym w nauce o materiałach, biologii i chemii.

Wyposażony w napędzany piezoelektrycznie stolik XYZ, stolik próbki AFM oferuje precyzyjną kontrolę i stabilność podczas obrazowania. Technologia piezoelektryczna umożliwia precyzyjne pozycjonowanie próbki w kierunkach X, Y i Z, umożliwiając naukowcom uzyskiwanie wysokiej jakości obrazów o wyjątkowej rozdzielczości.

Mówiąc o rozdzielczości, AFM może pochwalić się imponującą rozdzielczością 0,04 nm, pozwalającą naukowcom na wizualizację cech powierzchni z niesamowitym szczegółem. Ta wysoka rozdzielczość jest niezbędna do badania struktur nanometrycznych i analizy właściwości powierzchni na poziomie atomowym.

Podsumowując, Mikroskop Sił Atomowych to najnowocześniejsze narzędzie, które oferuje zaawansowane możliwości analizy powierzchni. Dzięki szerokiemu zakresowi skanowania, regulowanej prędkości skanowania, pojemności próbki, precyzyjnemu stolikowi próbki i wyjątkowej rozdzielczości, AFM jest cennym instrumentem dla naukowców, którzy chcą eksplorować nan świat i prowadzić dogłębne badania w różnych dyscyplinach naukowych.

Cechy:

• Nazwa produktu: Mikroskop Sił Atomowych
• Prędkość skanowania: 0,1 Hz-30 Hz
• Stolik próbki: Napędzany piezoelektrycznie stolik XYZ
• Rozmiar próbki: Do 25 mm
• Zakres skanowania: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Rozdzielczość: 0,04 nm

Parametry techniczne:

Zastosowania:

Mikroskop Sił Atomowych Truth Instruments, model AtomEdge Pro, to najnowocześniejsze urządzenie naukowe pochodzące z Chin. Dzięki niezwykłej rozdzielczości 0,04 nm, ten AFM został zaprojektowany tak, aby zaspokoić szeroki zakres zastosowań badawczych i przemysłowych.

Jedną z wyróżniających cech AtomEdge Pro jest jego wszechstronność w trybach obrazowania, w tym topografii, fazie, tarciu, sile bocznej, sile magnetycznej i obrazowaniu siły elektrostatycznej. Ta możliwość pomiaru w wielu trybach pozwala naukowcom i inżynierom na gromadzenie kompleksowych danych o właściwościach powierzchni różnych materiałów na poziomie nanometrycznym.

Dzięki imponującemu zakresowi prędkości skanowania od 0,1 Hz do 30 Hz, AFM Truth Instruments umożliwia szybkie i wydajne skanowanie próbek. Niezależnie od tego, czy chodzi o badania akademickie, kontrolę jakości w produkcji, czy analizę materiałów, ten mikroskop skaningowy oferuje szybkie obrazowanie bez kompromisów w zakresie dokładności danych.

Stolik próbki AtomEdge Pro jest wyposażony w napędzany piezoelektrycznie stolik XYZ, zapewniający precyzyjną kontrolę nad pozycjonowaniem i ruchem próbki. Ta funkcja jest szczególnie przydatna do przeprowadzania eksperymentów, które wymagają precyzyjnej manipulacji i skanowania próbek o wielkości do 25 mm.

Naukowcy z różnych dziedzin, w tym nauki o materiałach, nanotechnologii, biologii i fizyki powierzchni, mogą skorzystać z możliwości Mikroskopu Sił Atomowych Truth Instruments. Niezależnie od tego, czy chodzi o badanie próbek biologicznych, analizę cienkich warstw, badanie właściwości powierzchni, czy przeprowadzanie eksperymentów nanomechanicznych, AtomEdge Pro oferuje niezawodne i wszechstronne rozwiązanie do zaawansowanego obrazowania i charakteryzacji.