Nanopotenzial-Rasterkraftmikroskopie Einstellbare Industriemikroskope Hohe Auflösung

Produktbeschreibung:

Eines der Hauptmerkmale des AFM ist sein beeindruckender Scanbereich von 100 μm X 100 μm X 10 μm. Dieser weite Bereich ermöglicht eine detaillierte Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben, von kleinen Nanopartikeln bis hin zu größeren Strukturen.

Mit einer Scangeschwindigkeit von 0,1 Hz bis 30 Hz bietet das AFM Vielseitigkeit bei der Erfassung dynamischer Prozesse und der Erzielung schneller Ergebnisse. Forscher können die Scangeschwindigkeit an die Art ihrer Proben und den erforderlichen Detaillierungsgrad ihrer Analyse anpassen.

Das AFM kann Probengrößen von bis zu 25 mm aufnehmen und bietet Forschern ausreichend Platz, um eine Vielzahl von Materialien und Strukturen zu untersuchen. Diese Flexibilität macht das AFM zu einem wertvollen Werkzeug für verschiedene Anwendungen, darunter Materialwissenschaft, Biologie und Chemie.

Ausgestattet mit einem piezoelektrisch angetriebenen XYZ-Tisch bietet der Probentisch des AFM präzise Steuerung und Stabilität während der Bildgebung. Die Piezo-Technologie ermöglicht eine genaue Positionierung der Probe in X-, Y- und Z-Richtung, sodass Forscher qualitativ hochwertige Bilder mit außergewöhnlicher Auflösung aufnehmen können.

Apropos Auflösung: Das AFM verfügt über eine beeindruckende Auflösung von 0,04 nm, sodass Forscher Oberflächenmerkmale mit unglaublicher Detailgenauigkeit visualisieren können. Diese hohe Auflösung ist unerlässlich für die Untersuchung von Nanostrukturen und die Analyse von Oberflächeneigenschaften auf atomarer Ebene.

Zusammenfassend lässt sich sagen, dass das Rasterkraftmikroskop ein hochmodernes Werkzeug ist, das fortschrittliche Fähigkeiten zur Oberflächenanalyse bietet. Mit seinem weiten Scanbereich, der einstellbaren Scangeschwindigkeit, der geräumigen Probengrößenkapazität, dem präzisen Probentisch und der hervorragenden Auflösung ist das AFM ein wertvolles Instrument für Forscher, die die Nanowelt erkunden und eingehende Studien in verschiedenen wissenschaftlichen Disziplinen durchführen möchten.

Merkmale:

• Produktname: Rasterkraftmikroskop
• Scangeschwindigkeit: 0,1 Hz - 30 Hz
• Probentisch: Piezoelektrisch angetriebener XYZ-Tisch
• Probengröße: Bis zu 25 mm
• Scanbereich: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Auflösung: 0,04 nm

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das Truth Instruments Rasterkraftmikroskop, Modell AtomEdge Pro, ist ein hochmodernes wissenschaftliches Instrument aus China. Mit einer bemerkenswerten Auflösung von 0,04 nm ist dieses AFM für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen konzipiert.

Eines der herausragenden Merkmale des AtomEdge Pro ist seine Vielseitigkeit in den Bildgebungsmodi, einschließlich Topographie, Phase, Reibung, laterale Kraft, magnetische Kraft und elektrostatische Kraftbildgebung. Diese Multi-Mode-Messfähigkeit ermöglicht es Forschern und Ingenieuren, umfassende Daten über die Oberflächeneigenschaften verschiedener Materialien auf Nanoebene zu sammeln.

Dank seines beeindruckenden Scangeschwindigkeitsbereichs von 0,1 Hz bis 30 Hz ermöglicht das Truth Instruments AFM ein schnelles und effizientes Scannen von Proben. Ob für die akademische Forschung, die Qualitätskontrolle in der Fertigung oder die Materialanalyse, dieses Rasterkraftmikroskop bietet eine Hochgeschwindigkeitsbildgebung ohne Kompromisse bei der Datengenauigkeit.

Der Probentisch des AtomEdge Pro ist mit einem piezoelektrisch angetriebenen XYZ-Tisch ausgestattet, der eine präzise Steuerung der Probenpositionierung und -bewegung ermöglicht. Diese Funktion ist besonders nützlich für die Durchführung von Experimenten, die eine präzise Manipulation und das Scannen von Proben bis zu einer Größe von 25 mm erfordern.

Forscher in verschiedenen Bereichen, darunter Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Biologie und Oberflächenphysik, können von den Fähigkeiten des Truth Instruments Rasterkraftmikroskops profitieren. Ob bei der Untersuchung biologischer Proben, der Analyse von Dünnschichten, der Untersuchung von Oberflächeneigenschaften oder der Durchführung nanomechanischer Experimente, der AtomEdge Pro bietet eine zuverlässige und vielseitige Lösung für fortschrittliche Bildgebung und Charakterisierung.