
میکروسکوپ نیروی اتمی پتانسیل در مقیاس نانو میکروسکوپ های صنعتی قابل تنظیم وضوح بالا
میکروسکوپی نیروی اتمی پتانسیل در مقیاس نانو,میکروسکوپی نیروی اتمی قابل تنظیم,میکروسکوپ های صنعتی با وضوح بالا
,Atomic Force Microscopy Adjustable
,Industrial Microscopes High Resolution
ویژگی های اساسی
املاک تجاری
پتانسیل نانومقیاس با میکروسکوپ نیروی اتمی برای تصویربرداری با وضوح بالا
توضیحات محصول:
یکی از ویژگیهای کلیدی AFM، محدوده اسکن چشمگیر آن است که 100 میکرومتر X 100 میکرومتر X 10 میکرومتر اندازهگیری میشود. این محدوده وسیع امکان تصویربرداری و تجزیه و تحلیل دقیق انواع نمونهها، از نانوذرات کوچک گرفته تا ساختارهای بزرگتر را فراهم میکند.
با سرعت اسکن بین 0.1 هرتز تا 30 هرتز، AFM تطبیق پذیری در ثبت فرآیندهای پویا و به دست آوردن نتایج سریع را ارائه میدهد. محققان میتوانند سرعت اسکن را بر اساس ماهیت نمونههای خود و سطح جزئیات مورد نیاز در تجزیه و تحلیل خود تنظیم کنند.
AFM قادر به جای دادن اندازههای نمونه تا 25 میلیمتر است و فضای کافی را برای محققان فراهم میکند تا طیف وسیعی از مواد و ساختارها را مطالعه کنند. این انعطافپذیری، AFM را به ابزاری ارزشمند برای کاربردهای مختلف، از جمله علم مواد، زیستشناسی و شیمی تبدیل میکند.
مجهز به یک استیج XYZ با محرک پیزو، استیج نمونه AFM کنترل و پایداری دقیقی را در حین تصویربرداری ارائه میدهد. فناوری پیزو امکان موقعیتیابی دقیق نمونه در جهتهای X، Y و Z را فراهم میکند و محققان را قادر میسازد تا تصاویر با کیفیت بالا با وضوح استثنایی ثبت کنند.
با اشاره به وضوح، AFM دارای وضوح چشمگیر 0.04 نانومتر است که به محققان اجازه میدهد ویژگیهای سطح را با جزئیات باورنکردنی تجسم کنند. این وضوح بالا برای مطالعه ساختارهای نانومقیاس و تجزیه و تحلیل خواص سطح در سطح اتمی ضروری است.
در نتیجه، میکروسکوپ نیروی اتمی یک ابزار پیشرفته است که قابلیتهای پیشرفتهای را برای تجزیه و تحلیل سطح ارائه میدهد. AFM با محدوده اسکن وسیع، سرعت اسکن قابل تنظیم، ظرفیت اندازه نمونه جادار، استیج نمونه دقیق و وضوح برجسته، ابزاری ارزشمند برای محققانی است که به دنبال کاوش در دنیای نانو و انجام مطالعات عمیق در رشتههای علمی مختلف هستند.
ویژگیها:
- نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی
- سرعت اسکن: 0.1 هرتز - 30 هرتز
- استیج نمونه: استیج XYZ با محرک پیزو
- اندازه نمونه: تا 25 میلیمتر
- محدوده اسکن: 100 میکرومتر X 100 میکرومتر X 10 میکرومتر
- وضوح: 0.04 نانومتر
پارامترهای فنی:
استیج نمونه | استیج XYZ با محرک پیزو |
حالتهای تصویربرداری | توپوگرافی، فاز، اصطکاک، نیروی جانبی، نیروی مغناطیسی، نیروی الکترواستاتیک |
سرعت اسکن | 0.1 هرتز - 30 هرتز |
محدوده اسکن | 100 میکرومتر X 100 میکرومتر X 10 میکرومتر |
اندازه نمونه | تا 25 میلیمتر |
وضوح | 0.04 نانومتر |
کاربردها:
میکروسکوپ نیروی اتمی Truth Instruments، مدل AtomEdge Pro، یک ابزار علمی پیشرفته است که منشا آن از چین است. این AFM با وضوح قابل توجه 0.04 نانومتر، برای پاسخگویی به طیف گستردهای از کاربردهای تحقیقاتی و صنعتی طراحی شده است.
یکی از ویژگیهای برجسته AtomEdge Pro، تطبیق پذیری آن در حالتهای تصویربرداری، از جمله توپوگرافی، فاز، اصطکاک، نیروی جانبی، نیروی مغناطیسی و تصویربرداری نیروی الکترواستاتیک است. این قابلیت اندازهگیری چند حالته به محققان و مهندسان اجازه میدهد تا دادههای جامعی در مورد خواص سطح مواد مختلف در سطح نانومقیاس جمعآوری کنند.
به لطف محدوده سرعت اسکن چشمگیر 0.1 هرتز تا 30 هرتز، AFM Truth Instruments امکان اسکن سریع و کارآمد نمونهها را فراهم میکند. چه برای تحقیقات دانشگاهی، کنترل کیفیت در تولید یا تجزیه و تحلیل مواد، این میکروسکوپ پروب اسکن، تصویربرداری با سرعت بالا را بدون به خطر انداختن دقت دادهها ارائه میدهد.
استیج نمونه AtomEdge Pro مجهز به یک استیج XYZ با محرک پیزو است که کنترل دقیقی بر موقعیت و حرکت نمونه ارائه میدهد. این ویژگی به ویژه برای انجام آزمایشاتی که نیاز به دستکاری و اسکن دقیق نمونهها تا اندازه 25 میلیمتر دارند، مفید است.
محققان در رشتههای مختلف، از جمله علم مواد، نانوفناوری، زیستشناسی و فیزیک سطح، میتوانند از قابلیتهای میکروسکوپ نیروی اتمی Truth Instruments بهرهمند شوند. AtomEdge Pro چه در حال مطالعه نمونههای بیولوژیکی، تجزیه و تحلیل لایههای نازک، بررسی خواص سطح یا انجام آزمایشهای نانومکانیکی باشد، یک راهحل قابل اعتماد و همهکاره برای تصویربرداری و شناسایی پیشرفته ارائه میدهد.