Misurazione multifunzionale (MFM/EFM) per studi scientifici mirati

Descrizione del prodotto:

Il microscopio della forza atomica (AFM) è uno strumento altamente avanzato progettato per la misurazione multifunzionale, offrendo una versatilità e precisione senza pari nell'imaging e nell'analisi su scala nanometrica.Questo AFM all'avanguardia integra una varietà di modalità di misura, compreso il microscopio elettrostatico (EFM), il microscopio di scansione di Kelvin (KPFM), il microscopio piezoelettrico (PFM), il microscopio di forza magnetica (MFM) e l'analisi della curva di forza,rendendolo uno strumento indispensabile per ricercatori e ingegneri che lavorano in prima linea nella nanotecnologia e nella scienza dei materiali.

Una delle caratteristiche più importanti di questo AFM è la sua eccezionale gamma di scansione di 100 μm * 100 μm * 10 μm,che consente agli utenti di esplorare con elevata precisione le topografie e le proprietà superficiali su un'ampia areaQuesta ampia capacità di scansione garantisce che sia le caratteristiche su larga scala che quelle su nanoscala fine possano essere caratterizzate con precisione senza compromettere la risoluzione o i dettagli.

Lo strumento vanta un livello di rumore impressionantemente basso nella direzione Z, misurato a soli 0,04 Nm.consentire ai ricercatori di rilevare sottili variazioni nella morfologia superficiale e nelle proprietà dei materiali con risoluzione nanometricaTale sensibilità è essenziale per le applicazioni che richiedono precise misurazioni di forza e interazioni superficiali su scala atomica o molecolare.

L'AFM supporta modalità di lavoro multiple per una vasta gamma di tipi di campioni e condizioni sperimentali.dove la sonda mantiene un contatto continuo con la superficie del campione• modalità di scarico, che riduce al minimo i danni ai campioni delicati, contattando intermittente­mente la superficie;utilizzati per separare segnali topografici da segnali magnetici o elettrostatici; e modalità di scansione multidirezionale, che migliora la precisione dell'immagine attraverso la scansione di campioni da varie angolazioni.Questa flessibilità consente agli utenti di adattare il loro approccio alle esigenze specifiche della loro ricerca..

Oltre alle sue capacità tecniche, l'AFM può contenere campioni fino a 25 mm di dimensioni, fornendo ampio spazio per diversi tipi di campioni,da wafer semiconduttori e tessuti biologici a polimeri e materiali nanostrutturatiQuesta generosa compatibilità delle dimensioni del campione amplia la portata dei potenziali studi e facilita l'integrazione senza soluzione di continuità nei flussi di lavoro di laboratorio esistenti.

Progettato con una risoluzione nanometrica al centro, questo AFM fornisce immagini dettagliate della superficie e analisi quantitative che sono fondamentali per il progresso della nanoscienza e della nanotecnologia.Combinando modalità di misurazione multifunzionali con un ampio raggio di scansione e prestazioni a basso rumore, consente agli utenti di condurre indagini complete sulle proprietà elettriche, magnetiche, piezoelettriche e meccaniche su scala nanometrica.

Sia che sia utilizzato per la ricerca accademica, il controllo della qualità industriale o lo sviluppo di materiali avanzati, questo AFM si distingue come uno strumento potente e affidabile.L'integrazione di più tecniche di microscopia in una sola piattaforma non solo semplifica i processi sperimentali ma aumenta anche la profondità e l'ampiezza dei dati che possono essere ottenutiQuesto lo rende un bene inestimabile per chiunque cerchi di spingere i confini della caratterizzazione e dell'innovazione su scala nanometrica.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio di forza atomica
• Non linearità: 0,15% nella direzione XY e 1% nella direzione Z
• Dimensione del campione: fino a 25 mm
• Capacità di misurazione multifunzionale:
  • Microscopio di forza elettrostatica (EFM)
  • Microscopio di Kelvin di scansione (KPFM) per la microscopia di sonda di Kelvin di scansione
  • Microscopio di forza piezoelettrica (PFM)
  • Microscopio a forza magnetica (MFM)
  • Analisi della curva di forza per test nanomeccanici
• Punto di campionamento dell'immagine: risoluzione massima dell'immagine della sonda di scansione è di 4096*4096 pixel
• Moduli di funzionamento:
  • Modalità di contatto
  • Modalità tocco
  • Modalità di imaging di fase
  • Modalità di sollevamento
  • Modalità di scansione multi-direzionale
• Capacità avanzate di analisi nanomeccanica per la caratterizzazione precisa dei materiali

Parametri tecnici:

Questo microscopio di forza atomica funge da piattaforma di caratterizzazione su nanoscala all'avanguardia, consentendo l'analisi su nanoscala con risoluzione atomica per diverse applicazioni scientifiche e industriali.

Applicazioni:

Il microscopio AtomEdge Pro della forza atomica di Truth Instruments, fabbricato con orgoglio in Cina, è uno strumento all'avanguardia progettato per una vasta gamma di applicazioni scientifiche avanzate.Le sue capacità di misurazione multifunzionale includono la microscopia elettrostatica della forza (EFM), Microscopia di forza di sonda di Kelvin (KPFM), Microscopia di forza piezoelettrica (PFM), Microscopia di forza magnetica (MFM) e analisi della curva di forza,rendendolo uno strumento eccezionalmente versatile per ricercatori e ingegneri che lavorano su scala nanometrica.

Nel campo dei test nanomeccanici, l'AtomEdge Pro eccelle fornendo misurazioni precise delle proprietà meccaniche a scala nanometrica.ricerca sui semiconduttori, e lo sviluppo di biomateriali, dove la comprensione della meccanica superficiale e delle interazioni su scala estremamente piccola può portare a innovazioni nella progettazione e nelle prestazioni dei prodotti.La nonlinearità del sistema è di solo 0.15% nella direzione XY e l'1% nella direzione Z garantiscono dati molto precisi e affidabili, essenziali per l'analisi quantitativa in questi campi impegnativi.

La Piezoresponse Force Microscopy (PFM) è un'altra area di applicazione chiave per l'AtomEdge Pro.Questa tecnica consente ai ricercatori di studiare materiali piezoelettrici e ferroelettrici mappando il loro comportamento elettromeccanico con risoluzione su scala nanometricaTali conoscenze sono fondamentali per lo sviluppo di sensori, attuatori e dispositivi di raccolta dell'energia.L'ampia gamma di scansione di 100 μm * 100 μm * 10 μm combinata con una velocità di scansione regolabile tra 0.1 a 30 Hz fornisce flessibilità per catturare in modo efficiente caratteristiche dettagliate della superficie.la risoluzione massima del punto di campionamento dell' immagine di 4096 * 4096 garantisce che anche i dettagli più sottili dell' immagine della sonda siano catturati con una chiarezza eccezionale.

Oltre a PFM, the AtomEdge Pro’s capabilities in Magnetic Force Microscopy (MFM) and Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) open up further possibilities for exploring magnetic properties and surface potential variations at the nanometer scaleQueste applicazioni sono inestimabili in settori quali la spintronica, la ricerca sulla corrosione e la caratterizzazione dei dispositivi semiconduttori.

Nel complesso, l'AtomEdge Pro Atomic Force Microscope di Truth Instruments è ideale per i laboratori impegnati nella ricerca di nanoscienze e nanotecnologie all'avanguardia.Capacità di misurazione multifunzionale, combinato con elevata precisione e risoluzione, consente di studiare in dettaglio le proprietà dei materiali in varie condizioni, rendendolo uno strumento vitale nella ricerca accademica, nella R & S industriale,e scenari di controllo della qualità.

Supporto e servizi:

Il nostro prodotto AFM è supportato da un supporto tecnico completo e da servizi per garantire prestazioni ottimali e soddisfazione dei clienti.Il nostro team di esperti fornisce assistenza con l'installazione, calibrazione e manutenzione di routine per mantenere il vostro AFM funzionante alla massima efficienza.

Offriamo manuali dettagliati per l'utente e risorse online per aiutarti a comprendere tutte le funzionalità del tuo AFM e risolvere i problemi comuni.Sono disponibili aggiornamenti e aggiornamenti regolari del software per migliorare le funzionalità e incorporare gli ultimi progressi tecnologici.

Per problemi tecnici complessi, i nostri specialisti di supporto sono pronti a fornire diagnosi a distanza e, se necessario, servizio in loco per ridurre al minimo i tempi di inattività.Forniamo sessioni di formazione e workshop per aiutare gli utenti a massimizzare il potenziale dei loro sistemi AFM.

Siamo impegnati a fornire un supporto rapido ed efficace per tutto il ciclo di vita del vostro microscopio di forza atomica,garantire che i progetti di ricerca e analisi procedano senza intoppi e con successo.

FAQ:

Q1: Qual è il marchio e il modello del microscopio della forza atomica?

R1: Il Microscopio della Forza Atomica è del marchio Truth Instruments, e il numero di modello è AtomEdge Pro.

D2: Dove viene prodotto il microscopio AtomEdge Pro?

R2: L'AtomEdge Pro è prodotto in Cina.

D3: Quali sono le caratteristiche chiave di Truth Instruments AtomEdge Pro?

A3: L'AtomEdge Pro offre immagini superficiali ad alta risoluzione, misurazioni precise della forza e modalità di scansione versatili adatte a vari materiali e applicazioni.

D4: Quali tipi di campioni possono essere analizzati utilizzando l'AtomEdge Pro?

A4: L'AtomEdge Pro può analizzare una vasta gamma di campioni, tra cui campioni biologici, polimeri, semiconduttori e nanomateriali.

D5: L'AtomEdge Pro è adatto sia per la ricerca che per le applicazioni industriali?

R5: Sì, l'AtomEdge Pro è stato progettato per soddisfare le esigenze sia della ricerca accademica che del controllo della qualità industriale con le sue funzionalità avanzate e affidabilità.