Πολυλειτουργική μέτρηση (MFM/EFM) για στοχευμένες επιστημονικές μελέτες

Περιγραφή του προϊόντος:

Το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης (AFM) είναι ένα εξαιρετικά προηγμένο όργανο που έχει σχεδιαστεί για πολυλειτουργική μέτρηση, προσφέροντας απαράμιλλη ευελιξία και ακρίβεια στην απεικόνιση και την ανάλυση σε νανοκλίμακα.Αυτό το state-of-the-art AFM ενσωματώνει διάφορες μεθόδους μέτρησης, συμπεριλαμβανομένου του μικροσκόπου ηλεκτροστατικής δύναμης (EFM), του μικροσκόπου σάρωσης Kelvin (KPFM), του μικροσκόπου πιεζοηλεκτρικής δύναμης (PFM), του μικροσκόπου μαγνητικής δύναμης (MFM) και της ανάλυσης καμπύλης δύναμης,καθιστώντας το απαραίτητο εργαλείο για ερευνητές και μηχανικούς που εργάζονται στην πρώτη γραμμή της νανοτεχνολογίας και της επιστήμης των υλικών.

Ένα από τα πιο χαρακτηριστικά χαρακτηριστικά αυτού του AFM είναι το εξαιρετικό εύρος σάρωσης των 100 μm * 100 μm * 10 μm,που επιτρέπει στους χρήστες να διερευνήσουν με υψηλή ακρίβεια τοπογραφίες και ιδιότητες επιφάνειας σε ευρεία περιοχήΑυτή η εκτεταμένη ικανότητα σάρωσης εξασφαλίζει ότι τόσο τα ευρύτατα όσο και τα λεπτά χαρακτηριστικά νανοκλίμακας μπορούν να χαρακτηριστούν με ακρίβεια χωρίς να συμβιβάζονται με την ανάλυση ή τις λεπτομέρειες.

Το όργανο διαθέτει ένα εντυπωσιακά χαμηλό επίπεδο θορύβου προς την κατεύθυνση Z, μετρούμενο σε μόλις 0,04 Nm.επιτρέποντας στους ερευνητές να ανιχνεύουν λεπτές διακυμάνσεις στη μορφολογία της επιφάνειας και στις ιδιότητες του υλικού με ανάλυση νανομέτρουΗ ευαισθησία αυτή είναι απαραίτητη για εφαρμογές που απαιτούν ακριβείς μετρήσεις δύναμης και επιφανειακές αλληλεπιδράσεις σε ατομική ή μοριακή κλίμακα.

Το AFM υποστηρίζει πολλαπλές λειτουργίες για να προσαρμοστεί σε ένα ευρύ φάσμα τύπων δειγμάτων και πειραματικών συνθηκών.όπου ο ανιχνευτής διατηρεί συνεχή επαφή με την επιφάνεια του δείγματοςΗ λειτουργία "Tap Mode", η οποία ελαχιστοποιεί τη ζημιά στα ευαίσθητα δείγματα με διαλείπουσα επαφή με την επιφάνεια, η λειτουργία "Phase Imaging", η οποία παρέχει λεπτομερή αντίθεση με βάση τις ιδιότητες του υλικού, η λειτουργία "Lift Mode",που χρησιμοποιείται για τη διάκριση τοπογραφικών και μαγνητικών ή ηλεκτροστατικών σημάτων; και Πολυκατευθυντική λειτουργία σάρωσης, η οποία βελτιώνει την ακρίβεια της εικόνας με τη σάρωση δειγμάτων από διάφορες γωνίες.Η ευελιξία αυτή εξασφαλίζει ότι οι χρήστες μπορούν να προσαρμόσουν την προσέγγισή τους στις ειδικές απαιτήσεις της έρευνας τους..

Εκτός από τις τεχνικές του δυνατότητες, το AFM μπορεί να χωρέσει δείγματα μεγέθους έως 25 mm, παρέχοντας άφθονο χώρο για διάφορους τύπους δειγμάτων,από ημιαγωγικές πλάκες και βιολογικούς ιστούς σε πολυμερή και νανοδομικά υλικάΗ γενναιόδωρη αυτή συμβατότητα με το μέγεθος του δείγματος διευρύνει το πεδίο των πιθανών μελετών και διευκολύνει την απρόσκοπτη ενσωμάτωση σε υφιστάμενες εργαστηριακές ροές.

Σχεδιασμένο με ανάλυση νανομέτρου στον πυρήνα του, αυτό το AFM παρέχει λεπτομερή απεικόνιση επιφάνειας και ποσοτική ανάλυση που είναι κρίσιμες για την πρόοδο της νανοεπιστήμης και της νανοτεχνολογίας.Με τον συνδυασμό πολυλειτουργικών τρόπων μέτρησης με ευρύ φάσμα σαρώσεων και εξαιρετικά χαμηλή απόδοση θορύβου, δίνει τη δυνατότητα στους χρήστες να διεξάγουν ολοκληρωμένες έρευνες για τις ηλεκτρικές, μαγνητικές, πιεζοηλεκτρικές και μηχανικές ιδιότητες σε νανοκλίμακα.

Είτε χρησιμοποιείται για ακαδημαϊκή έρευνα, βιομηχανικό έλεγχο ποιότητας, είτε για την ανάπτυξη προηγμένων υλικών, αυτό το AFM ξεχωρίζει ως ένα ισχυρό και αξιόπιστο εργαλείο.Η ενσωμάτωση πολλών τεχνικών μικροσκόπησης σε μία πλατφόρμα όχι μόνο εξορθολογίζει τις πειραματικές διαδικασίες αλλά επίσης βελτιώνει το βάθος και το εύρος των δεδομένων που μπορούν να ληφθούνΑυτό το καθιστά ένα ανεκτίμητο περιουσιακό στοιχείο για όποιον επιδιώκει να ωθήσει τα όρια της χαρακτηριστικής και της καινοτομίας στη νανοκλίμακα.

Χαρακτηριστικά:

• Όνομα προϊόντος: Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης
• Μη γραμμικότητα: 0,15% στην κατεύθυνση XY και 1% στην κατεύθυνση Z
• Μέγεθος δείγματος: έως 25 mm
• Πολυλειτουργικές δυνατότητες μέτρησης:
  • Ηλεκτροστατικό μικροσκόπιο δύναμης (EFM)
  • Μικροσκόπιο σάρωσης Κέλβιν (KPFM) για μικροσκόπιο σάρωσης Κέλβιν
  • Μικροσκόπιο πιεζοηλεκτρικής δύναμης (PFM)
  • Μικροσκόπιο μαγνητικής δύναμης (MFM)
  • Ανάλυση καμπύλης δύναμης για νανομηχανικές δοκιμές
• Σημείο δειγματοληψίας εικόνας: Η μέγιστη ανάλυση της εικόνας του ανιχνευτή σαρώσεως είναι 4096*4096 pixels
• Τρόποι λειτουργίας:
  • Τρόπος επαφής
  • Τρόπος πατήματος
  • Τρόπος απεικόνισης φάσης
  • Τρόπος ανύψωσης
  • Πολυκατευθυντική λειτουργία σάρωσης
• Προηγμένες δυνατότητες νανομηχανικής δοκιμής για ακριβή χαρακτηρισμό υλικών

Τεχνικές παραμέτρους:

Αυτό το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης χρησιμεύει ως μια πρωτοποριακή πλατφόρμα χαρακτηρισμού σε νανοκλίμακα, επιτρέποντας την ανάλυση σε νανοκλίμακα με ατομική ανάλυση για διάφορες επιστημονικές και βιομηχανικές εφαρμογές.

Εφαρμογές:

Το Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, κατασκευασμένο στην Κίνα, είναι ένα εργαλείο αιχμής σχεδιασμένο για ένα ευρύ φάσμα προηγμένων επιστημονικών εφαρμογών.Οι δυνατότητες πολλαπλών μετρήσεων του περιλαμβάνουν την ηλεκτροστατική μικροσκόπηση δυνάμεων (EFM), Μικροσκόπηση δύναμης με ανίχνευση Κέλβιν (KPFM), Μικροσκόπηση πιεζοηλεκτρικής δύναμης (PFM), Μικροσκόπηση μαγνητικής δύναμης (MFM) και ανάλυση καμπύλης δύναμης,Το οποίο το καθιστά ένα εξαιρετικά ευπροσάρμοστο όργανο για ερευνητές και μηχανικούς που εργάζονται σε νανοκλίμακα..

Στον τομέα των νανομηχανικών δοκιμών, το AtomEdge Pro ξεχωρίζει παρέχοντας ακριβείς μετρήσεις των μηχανικών ιδιοτήτων σε νανοκλίμακα.Έρευνα ημιαγωγών, και την ανάπτυξη βιοϋλικών, όπου η κατανόηση της μηχανικής της επιφάνειας και των αλληλεπιδράσεων σε εξαιρετικά μικρές κλίμακες μπορεί να οδηγήσει σε καινοτομίες στον σχεδιασμό και την απόδοση των προϊόντων.Η μη γραμμικότητα του συστήματος είναι μόνο 0.0,15% προς την κατεύθυνση XY και 1% προς την κατεύθυνση Z εξασφαλίζουν υψηλής ακρίβειας και αξιοπιστίας δεδομένα, απαραίτητα για ποσοτική ανάλυση σε αυτούς τους απαιτητικούς τομείς.

Η μικροσκόπηση δύναμης πίεσης (PFM) είναι ένας άλλος βασικός τομέας εφαρμογής για το AtomEdge Pro.Αυτή η τεχνική επιτρέπει στους ερευνητές να μελετήσουν πιεζοηλεκτρικά και σιδηροηλεκτρικά υλικά χαρτογραφώντας την ηλεκτρομηχανική συμπεριφορά τους με ανάλυση νανοκλίμακαςΤέτοιες γνώσεις είναι ζωτικής σημασίας για την ανάπτυξη αισθητήρων, ενεργοποιητών και συσκευών συλλογής ενέργειας.Το υψηλό εύρος σάρωσης των 100 μm * 100 μm * 10 μm σε συνδυασμό με ρυθμιστικό ρυθμό σάρωσης μεταξύ 0.1 έως 30 Hz παρέχει ευελιξία για την αποτελεσματική λήψη λεπτομερών χαρακτηριστικών της επιφάνειας.Η μέγιστη ανάλυση σημείου δειγματοληψίας εικόνας 4096 * 4096 εξασφαλίζει ότι ακόμη και οι πιο λεπτές λεπτομέρειες της εικόνας ανίχνευσης καταγράφονται με εξαιρετική σαφήνεια.

Εκτός από το PFM, the AtomEdge Pro’s capabilities in Magnetic Force Microscopy (MFM) and Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) open up further possibilities for exploring magnetic properties and surface potential variations at the nanometer scaleΟι εφαρμογές αυτές είναι ανεκτίμητες σε τομείς όπως η σπιντρονική, η έρευνα για τη διάβρωση και ο χαρακτηρισμός συσκευών ημιαγωγών.

Συνολικά, το μικροσκόπιο πυρηνικής δύναμης AtomEdge Pro από την Truth Instruments είναι ιδανικό για εργαστήρια που ασχολούνται με την έρευνα της νανοεπιστήμης και της νανοτεχνολογίας.Πολυλειτουργικές δυνατότητες μέτρησης, σε συνδυασμό με υψηλή ακρίβεια και ανάλυση, επιτρέπουν λεπτομερή έρευνα των ιδιοτήτων των υλικών υπό διάφορες συνθήκες, καθιστώντας το ένα ζωτικό εργαλείο στην ακαδημαϊκή έρευνα, τη βιομηχανική Ε&Α,και σενάρια ελέγχου ποιότητας.

Υποστήριξη και υπηρεσίες:

Το προϊόν μας για το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης (AFM) υποστηρίζεται από ολοκληρωμένη τεχνική υποστήριξη και υπηρεσίες για να εξασφαλιστεί βέλτιστη απόδοση και ικανοποίηση των πελατών.Η εξειδικευμένη ομάδα μας παρέχει βοήθεια με την εγκατάσταση, βαθμονόμηση και συντήρηση ρουτίνας για να διατηρήσετε το AFM σας να λειτουργεί με μέγιστη απόδοση.

Προσφέρουμε λεπτομερή εγχειρίδια χρήστη και διαδικτυακούς πόρους για να σας βοηθήσουμε να κατανοήσετε τις πλήρεις δυνατότητες του AFM σας και να επιλύσετε τα κοινά προβλήματα.Τακτικές ενημερώσεις και αναβαθμίσεις λογισμικού είναι διαθέσιμες για τη βελτίωση της λειτουργικότητας και την ενσωμάτωση των τελευταίων τεχνολογικών εξελίξεων.

Για περίπλοκα τεχνικά προβλήματα, οι ειδικοί υποστήριξής μας είναι έτοιμοι να παρέχουν εξ αποστάσεως διάγνωση και, εάν είναι απαραίτητο, επιτόπια εξυπηρέτηση για την ελαχιστοποίηση του χρόνου διακοπής λειτουργίας.Παρέχουμε εκπαιδευτικές συνεδρίες και εργαστήρια για να βοηθήσουμε τους χρήστες να μεγιστοποιήσουν το δυναμικό των συστημάτων AFM τους.

Δεσμευόμαστε να παρέχουμε άμεση και αποτελεσματική υποστήριξη καθ' όλη τη διάρκεια του κύκλου ζωής του μικροσκόπου της ατομικής σας δύναμης.διασφάλιση της ομαλής και επιτυχούς διεξαγωγής των ερευνητικών και αναλυτικών σας έργων.

Γενικά ερωτήματα:

Ε1: Ποια είναι η μάρκα και το μοντέλο του μικροσκόπου ατομικής δύναμης;

Α1: Το μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης είναι της μάρκας Truth Instruments, και ο αριθμός μοντέλου είναι AtomEdge Pro.

Ε2: Πού κατασκευάζεται το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης AtomEdge Pro;

Α2: Το AtomEdge Pro κατασκευάζεται στην Κίνα.

Ε3: Ποια είναι τα βασικά χαρακτηριστικά του Truth Instruments AtomEdge Pro;

Α3: Το AtomEdge Pro προσφέρει απεικόνιση επιφάνειας υψηλής ανάλυσης, ακριβείς μετρήσεις δύναμης και ευπροσάρμοστες λειτουργίες σάρωσης κατάλληλες για διάφορα υλικά και εφαρμογές.

Ε4: Τι είδη δειγμάτων μπορούν να αναλυθούν χρησιμοποιώντας το AtomEdge Pro;

Α4: Το AtomEdge Pro μπορεί να αναλύσει ένα ευρύ φάσμα δειγμάτων, συμπεριλαμβανομένων βιολογικών δειγμάτων, πολυμερών, ημιαγωγών και νανοϋλικών.

Ε5: Είναι το AtomEdge Pro κατάλληλο τόσο για έρευνα όσο και για βιομηχανικές εφαρμογές;

Α5: Ναι, το AtomEdge Pro έχει σχεδιαστεί για να καλύπτει τις ανάγκες τόσο της ακαδημαϊκής έρευνας όσο και του βιομηχανικού ελέγχου ποιότητας με τα προηγμένα χαρακτηριστικά και την αξιοπιστία του.