Medição Multifuncional (MFM/EFM) para Estudos Científicos Direcionados

Descrição do produto:

O Microscópio de Força Atómica (AFM) é um instrumento altamente avançado concebido para medições multifuncionais, oferecendo uma versatilidade e precisão incomparáveis em imagens e análises em nanoescala.Este AFM de última geração integra uma variedade de modos de medição, incluindo o Microscópio de Força Electrostática (EFM), o Microscópio de Força da Sonda Kelvin de Análise (KPFM), o Microscópio de Força Piezoelétrica (PFM), o Microscópio de Força Magnética (MFM) e a análise da Curva de Força,tornando-se uma ferramenta indispensável para investigadores e engenheiros que trabalham na vanguarda da nanotecnologia e da ciência dos materiais.

Uma das características destacadas deste AFM é a sua gama de digitalização excepcional de 100 μm * 100 μm * 10 μm,que permite aos utilizadores explorar topografias e propriedades da superfície numa ampla área com elevada precisãoEsta capacidade de varredura extensa garante que tanto as características em grande escala como as em nanoescala fina possam ser caracterizadas com precisão sem comprometer a resolução ou o detalhe.

O instrumento possui um nível de ruído impressionantemente baixo na direcção Z, medido em apenas 0,04 Nm.permitindo aos investigadores detectar variações sutis na morfologia da superfície e propriedades dos materiais com resolução nanométricaEsta sensibilidade é essencial para aplicações que exijam medições precisas de forças e interações de superfície à escala atómica ou molecular.

O AFM suporta vários modos de trabalho para acomodar uma ampla gama de tipos de amostras e condições experimentais.onde a sonda mantém contato contínuo com a superfície da amostraModo Tap, que minimiza os danos às amostras delicadas através do contato intermitente com a superfície; Modo de Imagem de Fase, que fornece contraste detalhado com base nas propriedades do material; Modo Lift,para a separação de sinais topográficos e magnéticos ou eletrostáticos; e Modo de varredura multidirecional, que melhora a precisão da imagem através da varredura de amostras a partir de vários ângulos.Esta flexibilidade garante que os utilizadores possam adaptar a sua abordagem às necessidades específicas da sua investigação..

Para além das suas capacidades técnicas, o AFM pode acomodar amostras de até 25 mm de tamanho, proporcionando espaço suficiente para diversos tipos de amostras,de wafers de semicondutores e tecidos biológicos a polímeros e materiais nanoestruturadosEsta generosa compatibilidade de tamanho da amostra amplia o âmbito dos estudos potenciais e facilita a integração perfeita nos fluxos de trabalho de laboratório existentes.

Projetado com resolução nanométrica no seu núcleo, este AFM fornece imagens detalhadas da superfície e análises quantitativas que são críticas para o avanço da nanociência e nanotecnologia.Combinando modos de medição multifuncionais com uma ampla gama de digitalização e desempenho de ruído ultra baixo, permite que os usuários conduzam investigações abrangentes de propriedades elétricas, magnéticas, piezoelétricas e mecânicas na nanoescala.

Quer seja usado para pesquisa acadêmica, controle de qualidade industrial ou desenvolvimento de materiais avançados, este AFM se destaca como um instrumento poderoso e confiável.Sua integração de várias técnicas de microscopia dentro de uma plataforma não só simplifica os processos experimentais, mas também aumenta a profundidade e amplitude dos dados que podem ser obtidosIsto torna-o um ativo inestimável para quem procura ampliar os limites da caracterização e inovação em nanoescala.

Características:

• Nome do produto: Microscópio de Força Atómica
• Não linearidade: 0,15% na direcção XY e 1% na direcção Z
• Tamanho da amostra: até 25 mm
• Capacidades de medição multifuncionais:
  • Microscópio de força eletrostática (EFM)
  • Microscópio de varredura de Kelvin (KPFM) para microscopia de sonda de varredura de Kelvin
  • Microscópio de força piezoelétrica (PFM)
  • Microscópio de Força Magnética (MFM)
  • Análise da curva de força para ensaios nanomecânicos
• Ponto de amostragem da imagem: Resolução máxima da imagem da sonda de varredura é de 4096*4096 pixels
• Modos de funcionamento:
  • Modo de contacto
  • Modo Toque
  • Modo de Imagem de Fase
  • Modo elevador
  • Modo de varredura multi-direcional
• Capacidades avançadas de ensaio nanomecânico para caracterização precisa de materiais

Parâmetros técnicos:

Este microscópio de força atômica serve como uma plataforma de caracterização em nanoescala de ponta, permitindo a análise em nanoescala com resolução atômica para diversas aplicações científicas e industriais.

Aplicações:

O Microscópio de Força Atómica Pro AtomEdge da Truth Instruments, orgulhosamente fabricado na China, é uma ferramenta de ponta concebida para uma ampla gama de aplicações científicas avançadas.As suas capacidades de medição multifuncionais incluem a Microscopia de Força Electrostática (EFM), Microscopia de Força de Sondagem Kelvin (KPFM), Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM), Microscopia de Força Magnética (MFM) e análise da Curva de Força,tornando-se um instrumento excepcionalmente versátil para investigadores e engenheiros que trabalham na nanoescala.

No domínio dos testes nanomecânicos, o AtomEdge Pro se destaca por fornecer medições precisas de propriedades mecânicas em nanoescala.Investigação em semicondutores, e desenvolvimento de biomateriais, onde a compreensão da mecânica da superfície e das interações em escalas extremamente pequenas pode conduzir a inovações no design e no desempenho dos produtos.A não-linearidade do sistema é de apenas 00,15% na direcção XY e 1% na direcção Z garantem dados altamente precisos e fiáveis, essenciais para a análise quantitativa nestes campos exigentes.

A Microscopia de Força de Piezoresponsão (PFM) é outra área de aplicação chave para o AtomEdge Pro.Esta técnica permite que os pesquisadores estudem materiais piezoelétricos e ferroelétricos mapeando seu comportamento eletromecânico com resolução em nanoescalaTais conhecimentos são vitais para o desenvolvimento de sensores, atuadores e dispositivos de recolha de energia.A gama de digitalização elevada de 100 μm * 100 μm * 10 μm combinada com uma taxa de digitalização ajustável entre 0.1 a 30 Hz proporciona flexibilidade para capturar características de superfície detalhadas de forma eficiente.A resolução máxima do ponto de amostragem da imagem de 4096 * 4096 garante que até os mais pequenos detalhes da imagem da sonda sejam capturados com uma clareza excepcional.

Além do PFM, the AtomEdge Pro’s capabilities in Magnetic Force Microscopy (MFM) and Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) open up further possibilities for exploring magnetic properties and surface potential variations at the nanometer scaleEstas aplicações são inestimáveis em campos como a espintrónica, a investigação da corrosão e a caracterização de dispositivos semicondutores.

No geral, o microscópio de força atômica AtomEdge Pro da Truth Instruments é ideal para laboratórios envolvidos em pesquisas de nanociência e nanotecnologia de ponta.As suas capacidades de medição multifuncionais, combinado com alta precisão e resolução, permitem a investigação pormenorizada das propriedades dos materiais em várias condições, tornando-o um instrumento vital na investigação académica, na I&D industrial,e cenários de controlo da qualidade.

Apoio e Serviços:

Nosso produto de microscópio de força atômica (AFM) é apoiado por um suporte técnico e serviços abrangentes para garantir o melhor desempenho e satisfação do cliente.A nossa equipa de peritos presta assistência na instalação, calibração e manutenção de rotina para manter o seu AFM operando com a máxima eficiência.

Oferecemos manuais detalhados e recursos online para ajudá-lo a compreender as capacidades completas do seu AFM e solucionar problemas comuns.Atualizações e melhorias regulares de software estão disponíveis para melhorar as funcionalidades e incorporar os mais recentes avanços tecnológicos.

Para problemas técnicos complexos, os nossos especialistas de apoio estão prontos para fornecer diagnóstico remoto e, se necessário, serviço no local para minimizar o tempo de inatividade.Oferecemos sessões de formação e workshops para ajudar os utilizadores a maximizar o potencial dos seus sistemas AFM.

Estamos empenhados em fornecer apoio rápido e eficaz durante todo o ciclo de vida do seu microscópio de força atómica,assegurar que os seus projectos de investigação e análise prosseguem sem problemas e com êxito.

Perguntas frequentes:

P1: Qual é a marca e o modelo do microscópio de força atômica?

R1: O Microscópio de Força Atômica é da marca Truth Instruments, e o número de modelo é AtomEdge Pro.

P2: Onde é fabricado o AtomEdge Pro Atomic Force Microscope?

A2: O AtomEdge Pro é fabricado na China.

Q3: Quais são as principais características do Truth Instruments AtomEdge Pro?

A3: O AtomEdge Pro oferece imagens de superfície de alta resolução, medições precisas de força e modos de varredura versáteis adequados para vários materiais e aplicações.

P4: Que tipos de amostras podem ser analisadas usando o AtomEdge Pro?

A4: O AtomEdge Pro pode analisar uma ampla gama de amostras, incluindo amostras biológicas, polímeros, semicondutores e nanomateriais.

P5: O AtomEdge Pro é adequado tanto para aplicações de investigação como industriais?

R5: Sim, o AtomEdge Pro foi concebido para satisfazer as necessidades da investigação académica e do controlo de qualidade industrial com as suas características avançadas e fiabilidade.