Wielofunkcyjne pomiary (MFM/EFM) dla ukierunkowanych badań naukowych

Opis produktu:

Mikroskop Sił Atomowych (AFM) to zaawansowane urządzenie przeznaczone do wielofunkcyjnych pomiarów, oferujące niezrównaną wszechstronność i precyzję w obrazowaniu i analizie w nanoskali. Ten najnowocześniejszy AFM integruje szereg trybów pomiaru, w tym Mikroskop Sił Elektrostatycznych (EFM), Skaningowy Mikroskop Sił z Sondą Kelvina (KPFM), Mikroskop Sił Piezolelektrycznych (PFM), Mikroskop Sił Magnetycznych (MFM) oraz analizę krzywych sił, co czyni go niezbędnym narzędziem dla naukowców i inżynierów pracujących na czele nanotechnologii i nauki o materiałach.

Jedną z wyróżniających cech tego AFM jest jego wyjątkowy zakres skanowania 100 μm * 100 μm * 10 μm, który pozwala użytkownikom na eksplorację topografii powierzchni i właściwości na szerokim obszarze z dużą precyzją. Ta rozległa zdolność skanowania zapewnia, że zarówno cechy w dużej skali, jak i drobne cechy w nanoskali mogą być dokładnie scharakteryzowane bez kompromisów w zakresie rozdzielczości lub szczegółowości.

Urządzenie charakteryzuje się imponująco niskim poziomem szumów w kierunku Z, mierzonym na zaledwie 0,04 Nm. Ten minimalny ślad szumu jest kluczowy dla uzyskania pomiarów o wysokiej wierności i wiarygodnych danych, umożliwiając naukowcom wykrywanie subtelnych zmian w morfologii powierzchni i właściwościach materiałów z rozdzielczością nanometrową. Taka czułość jest niezbędna w zastosowaniach wymagających precyzyjnych pomiarów sił i interakcji powierzchniowych w skali atomowej lub molekularnej.

AFM obsługuje wiele trybów pracy, aby pomieścić szeroki zakres typów próbek i warunków eksperymentalnych. Obejmują one tryb kontaktowy, w którym sonda utrzymuje ciągły kontakt z powierzchnią próbki; tryb dotykowy, który minimalizuje uszkodzenia delikatnych próbek poprzez przerywany kontakt z powierzchnią; tryb obrazowania fazowego, który zapewnia szczegółowy kontrast w oparciu o właściwości materiału; tryb podnoszenia, używany do oddzielania sygnałów topograficznych i magnetycznych lub elektrostatycznych; oraz tryb skanowania wielokierunkowego, który zwiększa dokładność obrazu poprzez skanowanie próbek z różnych kątów. Ta elastyczność zapewnia, że użytkownicy mogą dostosować swoje podejście do specyficznych wymagań swoich badań.

Oprócz swoich możliwości technicznych, AFM może pomieścić próbki o wielkości do 25 mm, zapewniając wystarczającą przestrzeń dla różnorodnych typów próbek, od płytek półprzewodnikowych i tkanek biologicznych po polimery i materiały nanostrukturalne. Ta duża kompatybilność z rozmiarem próbek poszerza zakres potencjalnych badań i ułatwia bezproblemową integrację z istniejącymi przepływami pracy w laboratorium.

Zaprojektowany z rozdzielczością nanometrową w swoim rdzeniu, ten AFM zapewnia szczegółowe obrazowanie powierzchni i analizę ilościową, które są krytyczne dla rozwoju nanonauki i nanotechnologii. Łącząc wielofunkcyjne tryby pomiaru z szerokim zakresem skanowania i ultra-niską wydajnością szumów, umożliwia użytkownikom przeprowadzanie kompleksowych badań właściwości elektrycznych, magnetycznych, piezoelektrycznych i mechanicznych w nanoskali.

Niezależnie od tego, czy jest używany do badań akademickich, kontroli jakości przemysłowej czy zaawansowanego rozwoju materiałów, ten AFM wyróżnia się jako potężne i niezawodne narzędzie. Jego integracja wielu technik mikroskopii w jednej platformie nie tylko usprawnia procesy eksperymentalne, ale także zwiększa głębię i zakres danych, które można uzyskać. To sprawia, że jest to nieoceniony atut dla każdego, kto chce przekraczać granice charakteryzacji i innowacji w nanoskali.

Cechy:

• Nazwa produktu: Mikroskop Sił Atomowych
• Nieliniowość: 0,15% w kierunku XY i 1% w kierunku Z
• Rozmiar próbki: Do 25 mm
• Możliwości pomiaru wielofunkcyjnego:
  • Mikroskop Sił Elektrostatycznych (EFM)
  • Skaningowy Mikroskop Kelvina (KPFM) do Skaningowej Mikroskopii Sondą Kelvina
  • Mikroskop Sił Piezolelektrycznych (PFM)
  • Mikroskop Sił Magnetycznych (MFM)
  • Analiza krzywych sił do testowania nanomechanicznego
• Punkt próbkowania obrazu: Maksymalna rozdzielczość obrazu sondy skanującej wynosi 4096*4096 pikseli
• Tryby pracy:
  • Tryb kontaktowy
  • Tryb dotykowy
  • Tryb obrazowania fazowego
  • Tryb podnoszenia
  • Tryb skanowania wielokierunkowego
• Zaawansowane możliwości testowania nanomechanicznego dla precyzyjnej charakterystyki materiału

Parametry techniczne:

Ten Mikroskop Sił Atomowych służy jako najnowocześniejsza platforma do charakteryzacji w nanoskali, umożliwiając analizę w nanoskali z rozdzielczością atomową dla różnorodnych zastosowań naukowych i przemysłowych.

Zastosowania:

Mikroskop Sił Atomowych Truth Instruments AtomEdge Pro, dumnie wyprodukowany w Chinach, jest najnowocześniejszym narzędziem przeznaczonym do szerokiego zakresu zaawansowanych zastosowań naukowych. Jego wielofunkcyjne możliwości pomiarowe obejmują Mikroskopię Sił Elektrostatycznych (EFM), Skaningową Mikroskopię Sondą Kelvina (KPFM), Mikroskopię Sił Piezolelektrycznych (PFM), Mikroskopię Sił Magnetycznych (MFM) oraz analizę krzywych sił, co czyni go wyjątkowo wszechstronnym instrumentem dla naukowców i inżynierów pracujących w nanoskali.

W dziedzinie testowania nanomechanicznego, AtomEdge Pro wyróżnia się, zapewniając precyzyjne pomiary właściwości mechanicznych w nanoskali. Jest to kluczowe dla nauki o materiałach, badań nad półprzewodnikami i rozwoju biomateriałów, gdzie zrozumienie mechaniki powierzchni i interakcji w ekstremalnie małych skalach może prowadzić do innowacji w projektowaniu i wydajności produktów. Nieliniowość systemu wynosząca zaledwie 0,15% w kierunku XY i 1% w kierunku Z zapewnia wysoce dokładne i wiarygodne dane, niezbędne do analizy ilościowej w tych wymagających dziedzinach.

Mikroskopia Sił Piezoelektrycznych (PFM) to kolejna kluczowa dziedzina zastosowań dla AtomEdge Pro. Technika ta pozwala naukowcom na badanie materiałów piezoelektrycznych i ferroelektrycznych poprzez mapowanie ich zachowania elektromechanicznego z rozdzielczością w nanoskali. Takie wglądy są niezbędne dla rozwoju czujników, siłowników i urządzeń do zbierania energii. Wysoki zakres skanowania 100 μm * 100 μm * 10 μm w połączeniu z szybkością skanowania regulowaną w zakresie od 0,1 do 30 Hz zapewnia elastyczność w efektywnym przechwytywaniu szczegółowych cech powierzchni. Dodatkowo, maksymalna rozdzielczość punktu próbkowania obrazu wynosząca 4096 * 4096 zapewnia, że nawet najdrobniejsze szczegóły obrazu sondy są rejestrowane z wyjątkową przejrzystością.

Oprócz PFM, możliwości AtomEdge Pro w zakresie Mikroskopii Sił Magnetycznych (MFM) i Skaningowej Mikroskopii Sondą Kelvina (KPFM) otwierają dalsze możliwości eksploracji właściwości magnetycznych i zmian potencjału powierzchniowego w skali nanometrowej. Zastosowania te są nieocenione w takich dziedzinach, jak spintronika, badania korozji i charakteryzacja urządzeń półprzewodnikowych.

Ogólnie rzecz biorąc, Mikroskop Sił Atomowych AtomEdge Pro firmy Truth Instruments jest idealny dla laboratoriów zaangażowanych w najnowocześniejsze badania nanonauki i nanotechnologii. Jego wielofunkcyjne możliwości pomiarowe, w połączeniu z wysoką precyzją i rozdzielczością, umożliwiają szczegółowe badania właściwości materiałów w różnych warunkach, co czyni go niezbędnym instrumentem w badaniach akademickich, badaniach i rozwoju przemysłowym oraz scenariuszach kontroli jakości.

Wsparcie i usługi:

Nasz produkt Mikroskop Sił Atomowych (AFM) jest wspierany przez kompleksowe wsparcie techniczne i usługi, aby zapewnić optymalną wydajność i satysfakcję klienta. Nasz zespół ekspertów zapewnia pomoc przy instalacji, kalibracji i rutynowej konserwacji, aby utrzymać AFM w szczytowej wydajności.

Oferujemy szczegółowe instrukcje obsługi i zasoby online, które pomogą Ci zrozumieć pełne możliwości Twojego AFM i rozwiązywać typowe problemy. Regularne aktualizacje i ulepszenia oprogramowania są dostępne w celu zwiększenia funkcjonalności i włączenia najnowszych osiągnięć technologicznych.

W przypadku złożonych problemów technicznych nasi specjaliści wsparcia są gotowi zapewnić zdalną diagnostykę i, w razie potrzeby, serwis na miejscu, aby zminimalizować przestoje. Dodatkowo, zapewniamy sesje szkoleniowe i warsztaty, aby pomóc użytkownikom zmaksymalizować potencjał swoich systemów AFM.

Zobowiązujemy się do zapewnienia szybkiego i skutecznego wsparcia przez cały cykl życia Twojego Mikroskopu Sił Atomowych, zapewniając, że Twoje projekty badawcze i analityczne przebiegają sprawnie i pomyślnie.

FAQ:

P1: Jaka jest marka i model Mikroskopu Sił Atomowych?

A1: Mikroskop Sił Atomowych jest marki Truth Instruments, a numer modelu to AtomEdge Pro.

P2: Gdzie produkowany jest Mikroskop Sił Atomowych AtomEdge Pro?

A2: AtomEdge Pro jest produkowany w Chinach.

P3: Jakie są kluczowe cechy Truth Instruments AtomEdge Pro?

A3: AtomEdge Pro oferuje obrazowanie powierzchni o wysokiej rozdzielczości, precyzyjne pomiary sił i wszechstronne tryby skanowania odpowiednie dla różnych materiałów i zastosowań.

P4: Jakie rodzaje próbek można analizować za pomocą AtomEdge Pro?

A4: AtomEdge Pro może analizować szeroki zakres próbek, w tym okazy biologiczne, polimery, półprzewodniki i nanomateriały.

P5: Czy AtomEdge Pro nadaje się zarówno do badań, jak i zastosowań przemysłowych?

A5: Tak, AtomEdge Pro został zaprojektowany tak, aby spełniać potrzeby zarówno badań akademickich, jak i kontroli jakości przemysłowej dzięki swoim zaawansowanym funkcjom i niezawodności.