Multi-Functional Measurement (MFM/EFM) For Targeted Scientific Studies

Beschreibung des Produkts:

Das Atomkraftmikroskop (AFM) ist ein hochentwickeltes Instrument, das für multifunktionale Messungen entwickelt wurde und eine beispiellose Vielseitigkeit und Präzision bei Nanobildgebung und -analyse bietet.Dieses hochmoderne AFM integriert eine Vielzahl von Messmodi, einschließlich Elektrostatisches Kraftmikroskop (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscope (KPFM), Piezoelektrisches Kraftmikroskop (PFM), Magnetkraftmikroskop (MFM) und Kraftkurvenanalyse,Es ist ein unentbehrliches Instrument für Forscher und Ingenieure, die an der Spitze der Nanotechnologie und der Materialwissenschaften arbeiten..

Eine der herausragenden Eigenschaften dieses AFM ist sein außergewöhnlicher Scannbereich von 100 μm * 100 μm * 10 μm,die es Benutzern ermöglicht, Oberflächentopographien und -eigenschaften über einen weiten Bereich mit hoher Präzision zu erforschenDiese umfangreiche Scanning-Fähigkeit sorgt dafür, dass sowohl großräumige als auch feine nanoskalige Merkmale genau charakterisiert werden können, ohne auf Auflösung oder Detail zu verzichten.

Das Gerät verfügt über einen beeindruckend niedrigen Geräuschpegel in der Z-Richtung, gemessen bei nur 0,04 Nm. Dieser minimale Geräuschdruck ist entscheidend für die Erreichung hochgenauer Messungen und zuverlässiger Daten.die es Forschern ermöglicht, subtile Unterschiede in der Oberflächenmorphologie und den Materialeigenschaften mit einer Auflösung von nanometern zu erkennenEine solche Empfindlichkeit ist für Anwendungen, die präzise Kraftmessungen und Oberflächeninteraktionen auf atomarer oder molekularer Ebene erfordern, unerlässlich.

Das AFM unterstützt mehrere Arbeitsmodi, um eine Vielzahl von Probentypen und Versuchsbedingungen zu berücksichtigen.wenn die Sonde kontinuierlich mit der Probenoberfläche in Berührung kommtDer "Tap-Modus" minimiert Schäden an empfindlichen Proben durch intermittierende Berührung der Oberfläche; der "Phase Imaging Mode", der einen detaillierten Kontrast basierend auf den Materialeigenschaften bietet; der "Lift-Modus"mit einer Breite von mehr als 10 mm,; und Multi-Directional Scanning Mode, der die Bildgenauigkeit durch das Scannen von Proben aus verschiedenen Winkeln erhöht.Diese Flexibilität sorgt dafür, daß die Nutzer ihren Ansatz an die spezifischen Anforderungen ihrer Forschung anpassen können..

Zusätzlich zu seinen technischen Fähigkeiten kann das AFM Proben mit einer Größe von bis zu 25 mm aufnehmen und bietet damit ausreichend Platz für verschiedene Probentypen.von Halbleiterwafern und biologischen Geweben bis hin zu Polymeren und nanostrukturierten MaterialienDiese großzügige Kompatibilität der Stichprobengröße erweitert den Umfang potenzieller Studien und erleichtert eine nahtlose Integration in bestehende Laborarbeiten.

Dieses AFM ist mit einer Nanometer-Auflösung konzipiert und liefert detaillierte Oberflächenbilder und quantitative Analysen, die für die Weiterentwicklung der Nanowissenschaft und Nanotechnologie von entscheidender Bedeutung sind.Durch die Kombination multifunktionaler Messmodi mit einem breiten Scanning-Bereich und einer sehr geringen Geräuschleistung, ermöglicht es Benutzern, umfassende Untersuchungen elektrischer, magnetischer, piezoelektrischer und mechanischer Eigenschaften im Nanoskala durchzuführen.

Ob für wissenschaftliche Forschung, industrielle Qualitätskontrolle oder die Entwicklung fortschrittlicher Materialien, dieses AFM zeichnet sich als ein leistungsfähiges und zuverlässiges Instrument aus.Die Integration mehrerer Mikroskopieverfahren in eine Plattform vereinfacht nicht nur die experimentellen Prozesse, sondern erhöht auch die Tiefe und Breite der Daten, die erhalten werden könnenDies macht es zu einem unschätzbaren Vorteil für alle, die die Grenzen der Charakterisierung und Innovation im Nanobereich überschreiten möchten.

Eigenschaften:

• Produktbezeichnung: Atomkraftmikroskop
• Nichtlinearität: 0,15% in XY-Richtung und 1% in Z-Richtung
• Probegröße: bis zu 25 mm
• Multifunktionale Messmöglichkeiten:
  • Elektrostatisches Kraftmikroskop (EFM)
  • Scanning-Kelvin-Mikroskop (KPFM) für die Scanning-Kelvin-Sondenmikroskopie
  • Piezoelektrische Kraftmikroskop (PFM)
  • Magnetkraftmikroskop (MFM)
  • Analyse der Kräftekurve für nanomechanische Prüfungen
• Bildprobenpunkt: Die maximale Auflösung des Bildes der Scansonde beträgt 4096*4096 Pixel
• Arbeitsweise:
  • Kontaktmodus
  • Tippmodus
  • Phasenbildmodus
  • Aufzugsmodus
  • Mehrrichtungsscannenmodus
• Erweiterte nanomechanische Testmöglichkeiten für eine präzise Materialcharakterisierung

Technische Parameter:

Dieses Atomkraftmikroskop dient als hochmoderne Nanoskala-Charakterisierungsplattform und ermöglicht die Nanoskala-Analyse mit atomarer Auflösung für verschiedene wissenschaftliche und industrielle Anwendungen.

Anwendungen:

Das AtomEdge Pro Atomic Force Microscope von Truth Instruments, stolz in China hergestellt, ist ein hochmodernes Werkzeug, das für eine Vielzahl fortschrittlicher wissenschaftlicher Anwendungen entwickelt wurde.Zu seinen multifunktionalen Messfunktionen gehört die Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezoelektrische Kraft Mikroskopie (PFM), Magnetische Kraft Mikroskopie (MFM) und Kraftkurvenanalyse,Dies macht es zu einem außergewöhnlich vielseitigen Instrument für Forscher und Ingenieure, die auf der Nanoskala arbeiten..

Im Bereich der nanomechanischen Prüfung zeichnet sich der AtomEdge Pro durch präzise Messungen mechanischer Eigenschaften im Nanobereich aus.Halbleiterforschung, und der Entwicklung von Biomaterialien, bei denen das Verständnis der Oberflächenmechanik und der Wechselwirkungen in extrem kleinen Maßstäben zu Innovationen in der Produktgestaltung und -leistung führen kann.Die Nichtlinearität des Systems beträgt nur 0.15% in der XY-Richtung und 1% in der Z-Richtung sorgen für hochgenaue und zuverlässige Daten, die für die quantitative Analyse in diesen anspruchsvollen Bereichen unerlässlich sind.

Piezoresponse Force Microscopy (PFM) ist ein weiterer wichtiger Anwendungsbereich für den AtomEdge Pro.Diese Technik ermöglicht es Forschern, piezoelektrische und ferroelektrische Materialien zu untersuchen, indem sie ihr elektromechanisches Verhalten mit Nanorezolution abbildenSolche Erkenntnisse sind für die Entwicklung von Sensoren, Aktoren und Energiespeichergeräten von entscheidender Bedeutung.Der hohe Scanningbereich von 100 μm * 100 μm * 10 μm kombiniert mit einer zwischen 0 und 10 μm einstellbaren Scanning-Rate.1 bis 30 Hz bietet Flexibilität, um detaillierte Oberflächenmerkmale effizient zu erfassen.Die maximale Auflösung des Bildprobenpunktes von 4096 * 4096 sorgt dafür, dass selbst die kleinsten Details des Sondenbildes mit außergewöhnlicher Klarheit erfasst werden.

Neben PFM, the AtomEdge Pro’s capabilities in Magnetic Force Microscopy (MFM) and Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) open up further possibilities for exploring magnetic properties and surface potential variations at the nanometer scaleDiese Anwendungen sind in Bereichen wie Spintronik, Korrosionsforschung und Charakterisierung von Halbleitergeräten von unschätzbarem Wert.

Insgesamt ist das AtomEdge Pro Atomic Force Microscope von Truth Instruments ideal für Labore geeignet, die sich mit modernster Nanowissenschaft und Nanotechnologie-Forschung beschäftigen.Multifunktionale Messmöglichkeiten, in Kombination mit hoher Präzision und Auflösung, ermöglichen eine detaillierte Untersuchung der Materialeigenschaften unter verschiedenen Bedingungen und machen es zu einem wichtigen Instrument in der akademischen Forschung, der industriellen FuE,und Qualitätskontrollszenarien.

Unterstützung und Dienstleistungen:

Unser Atomic Force Microscope (AFM) Produkt wird durch umfassende technische Unterstützung und Dienstleistungen unterstützt, um eine optimale Leistung und Kundenzufriedenheit zu gewährleisten.Unser Expertenteam unterstützt Sie bei der Installation, Kalibrierung und routinemäßige Wartung, um Ihr Flugzeugsystem mit maximaler Effizienz in Betrieb zu halten.

Wir bieten detaillierte Benutzerhandbücher und Online-Ressourcen, um Ihnen zu helfen, die vollen Funktionen Ihres AFM zu verstehen und häufige Probleme zu beheben.Regelmäßige Software-Updates und -Upgrades sind verfügbar, um die Funktionalität zu verbessern und die neuesten technologischen Fortschritte einzubeziehen.

Für komplexe technische Probleme sind unsere Support-Spezialisten bereit, Ferndiagnostik und bei Bedarf Service vor Ort anzubieten, um Ausfallzeiten zu minimieren.Wir bieten Schulungen und Workshops an, um den Nutzern zu helfen, das Potenzial ihrer AFM-Systeme zu maximieren..

Wir verpflichten uns, Ihnen eine schnelle und effektive Unterstützung während des gesamten Lebenszyklus Ihres Atomkraftmikroskops zu bieten.Sicherstellen, dass Ihre Forschungs- und Analyseprojekte reibungslos und erfolgreich verlaufen.

Häufige Fragen:

F1: Was ist die Marke und das Modell des Atomkraftmikroskops?

A1: Das Atomic Force Microscope stammt von der Marke Truth Instruments und hat die Modellnummer AtomEdge Pro.

F2: Wo wird das AtomEdge Pro Atomic Force Microscope hergestellt?

A2: Das AtomEdge Pro wird in China hergestellt.

F3: Was sind die Hauptmerkmale des Truth Instruments AtomEdge Pro?

A3: Das AtomEdge Pro bietet hochauflösende Oberflächenbilder, präzise Kraftmessungen und vielseitige Scanning-Modi, die für verschiedene Materialien und Anwendungen geeignet sind.

F4: Welche Arten von Proben können mit dem AtomEdge Pro analysiert werden?

A4: Das AtomEdge Pro kann eine Vielzahl von Proben analysieren, darunter biologische Proben, Polymere, Halbleiter und Nanomaterialien.

F5: Ist der AtomEdge Pro sowohl für Forschungs- als auch für industrielle Anwendungen geeignet?

A5: Ja, der AtomEdge Pro ist mit seinen fortschrittlichen Funktionen und seiner Zuverlässigkeit sowohl für die akademische Forschung als auch für die industrielle Qualitätskontrolle konzipiert.