Medición multifuncional (MFM/EFM) para estudios científicos dirigidos

Descripción del producto:

El microscopio de fuerza atómica (AFM) es un instrumento altamente avanzado diseñado para mediciones multifuncionales, que ofrece una versatilidad y precisión sin precedentes en imágenes y análisis a nanoescala.Este AFM de última generación integra una variedad de modos de medición, incluido el microscopio de fuerza electrostática (EFM), el microscopio de fuerza de sonda de escaneo Kelvin (KPFM), el microscopio de fuerza piezoeléctrica (PFM), el microscopio de fuerza magnética (MFM) y el análisis de la curva de fuerza,convirtiéndolo en una herramienta indispensable para investigadores e ingenieros que trabajan a la vanguardia de la nanotecnología y la ciencia de los materiales.

Una de las características destacadas de este AFM es su excepcional rango de escaneo de 100 μm * 100 μm * 10 μm,que permite a los usuarios explorar las topografías y propiedades de la superficie en un área amplia con alta precisiónEsta amplia capacidad de escaneo asegura que tanto las características a gran escala como las finas a nanoescala puedan caracterizarse con precisión sin comprometer la resolución o el detalle.

El instrumento cuenta con un nivel de ruido impresionantemente bajo en la dirección Z, medido en sólo 0,04 Nm. Esta huella de ruido mínima es crucial para lograr mediciones de alta fidelidad y datos fiables,que permite a los investigadores detectar variaciones sutiles en la morfología de la superficie y las propiedades del material con una resolución de nanómetrosEsta sensibilidad es esencial para aplicaciones que requieren mediciones precisas de fuerzas e interacciones superficiales a escala atómica o molecular.

El AFM admite múltiples modos de trabajo para adaptarse a una amplia gama de tipos de muestras y condiciones experimentales.donde la sonda mantiene un contacto continuo con la superficie de la muestraModo de toque, que minimiza el daño a las muestras delicadas al entrar en contacto intermitente con la superficie; Modo de imagen de fase, que proporciona un contraste detallado basado en las propiedades del material; Modo de elevación,con una capacidad de transmisión superior a 20 W,; y Modo de escaneo multidireccional, que mejora la precisión de la imagen escaneando muestras desde varios ángulos.Esta flexibilidad garantiza que los usuarios puedan adaptar su enfoque a las necesidades específicas de su investigación..

Además de sus capacidades técnicas, el AFM puede alojar muestras de hasta 25 mm de tamaño, proporcionando un amplio espacio para diversos tipos de muestras,desde obleas de semiconductores y tejidos biológicos hasta polímeros y materiales nanoestructuradosEsta generosa compatibilidad del tamaño de la muestra amplía el alcance de los estudios potenciales y facilita la integración sin problemas en los flujos de trabajo de laboratorio existentes.

Diseñado con resolución nanométrica en su núcleo, este AFM ofrece imágenes detalladas de la superficie y análisis cuantitativos que son críticos para avanzar en la nanociencia y la nanotecnología.Combinando modos de medición multifuncionales con un amplio rango de escaneo y un rendimiento de ruido ultra bajo, permite a los usuarios llevar a cabo investigaciones exhaustivas de propiedades eléctricas, magnéticas, piezoeléctricas y mecánicas a nanoescala.

Ya sea que se utilice para investigación académica, control de calidad industrial o desarrollo de materiales avanzados, este AFM se destaca como un instrumento poderoso y confiable.Su integración de múltiples técnicas de microscopía dentro de una plataforma no solo agiliza los procesos experimentales sino que también mejora la profundidad y amplitud de los datos que se pueden obtenerEsto lo convierte en un activo invaluable para cualquiera que busque ampliar los límites de la caracterización e innovación a nanoescala.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de fuerza atómica
• No linealidad: 0,15% en dirección XY y 1% en dirección Z
• Tamaño de la muestra: hasta 25 mm
• Capacidades de medición multifunción:
  • Microscopio de fuerza electrostática (EFM)
  • Microscopio de exploración de Kelvin (KPFM) para microscopía de exploración de sonda de Kelvin
  • Microscopio de fuerza piezoeléctrica (PFM)
  • Microscopio de fuerza magnética (MFM)
  • Análisis de curvas de fuerza para ensayos nanomecánicos
• Punto de muestreo de imagen: la resolución máxima de la imagen de la sonda de exploración es de 4096*4096 píxeles
• Modos de trabajo:
  • Modo de contacto
  • Modo de toque
  • Modo de imágenes de fase
  • Modo de elevación
  • Modo de exploración multidireccional
• Capacidades avanzadas de ensayo nanomecánico para la caracterización precisa de materiales

Parámetros técnicos:

Este microscopio de fuerza atómica sirve como una plataforma de caracterización a nanoescala de vanguardia, lo que permite el análisis a nanoescala con resolución atómica para diversas aplicaciones científicas e industriales.

Aplicaciones:

El Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, orgullosamente fabricado en China, es una herramienta de vanguardia diseñada para una amplia gama de aplicaciones científicas avanzadas.Sus capacidades de medición multifuncionales incluyen la Microscopia de Fuerza Electrostática (EFM), Microscopía de fuerza de sonda de escaneo Kelvin (KPFM), Microscopía de fuerza piezoeléctrica (PFM), Microscopía de fuerza magnética (MFM) y análisis de curva de fuerza,lo que lo convierte en un instrumento excepcionalmente versátil para investigadores e ingenieros que trabajan en la nanoescala.

En el ámbito de las pruebas nanomecánicas, el AtomEdge Pro sobresale al proporcionar mediciones precisas de propiedades mecánicas a nanoescala.Investigación de semiconductores, y el desarrollo de biomateriales, donde la comprensión de la mecánica de la superficie y las interacciones a escalas extremadamente pequeñas puede conducir a innovaciones en el diseño y el rendimiento del producto.La no linealidad del sistema de sólo 0.15% en la dirección XY y 1% en la dirección Z garantizan datos muy precisos y fiables, esenciales para el análisis cuantitativo en estos campos exigentes.

La microscopía de fuerza de piezorespuesta (PFM) es otro área de aplicación clave para el AtomEdge Pro.Esta técnica permite a los investigadores estudiar materiales piezoeléctricos y ferroeléctricos mapeando su comportamiento electromecánico con resolución a nanoescalaEstas ideas son vitales para el desarrollo de sensores, actuadores y dispositivos de recolección de energía.El amplio rango de escaneo de 100 μm * 100 μm * 10 μm combinado con una velocidad de escaneo ajustable entre 0.1 a 30 Hz proporciona flexibilidad para capturar de manera eficiente las características detalladas de la superficie.la resolución máxima del punto de muestreo de la imagen de 4096 * 4096 asegura que incluso los detalles más finos de la imagen de la sonda se capturan con una claridad excepcional.

Además de PFM, the AtomEdge Pro’s capabilities in Magnetic Force Microscopy (MFM) and Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) open up further possibilities for exploring magnetic properties and surface potential variations at the nanometer scaleEstas aplicaciones son invaluables en campos como la espíntrónica, la investigación de la corrosión y la caracterización de dispositivos semiconductores.

En general, el microscopio de fuerza atómica AtomEdge Pro de Truth Instruments es ideal para laboratorios dedicados a la investigación de nanociencia y nanotecnología de vanguardia.Sus capacidades de medición multifuncionales, combinado con una alta precisión y resolución, permite la investigación detallada de las propiedades de los materiales en diversas condiciones, lo que lo convierte en un instrumento vital en la investigación académica, la I+D industrial,y escenarios de control de calidad.

Apoyo y servicios:

Nuestro producto de microscopio de fuerza atómica (AFM) cuenta con un soporte técnico y servicios integrales para garantizar un rendimiento óptimo y la satisfacción del cliente.Nuestro equipo de expertos proporciona asistencia con la instalación, calibración y mantenimiento de rutina para mantener su AFM funcionando a máxima eficiencia.

Ofrecemos manuales de usuario detallados y recursos en línea para ayudarle a comprender todas las capacidades de su AFM y solucionar problemas comunes.Las actualizaciones y actualizaciones periódicas del software están disponibles para mejorar la funcionalidad e incorporar los últimos avances tecnológicos.

Para problemas técnicos complejos, nuestros especialistas de soporte están listos para proporcionar diagnóstico remoto y, si es necesario, servicio en el sitio para minimizar el tiempo de inactividad.Proporcionamos sesiones de capacitación y talleres para ayudar a los usuarios a maximizar el potencial de sus sistemas AFM.

Estamos comprometidos a brindar apoyo rápido y efectivo durante todo el ciclo de vida de su microscopio de fuerza atómica,garantizar que sus proyectos de investigación y análisis se desarrollen sin problemas y con éxito.

Preguntas frecuentes:

P1: ¿Cuál es la marca y el modelo del microscopio de la fuerza atómica?

R1: El microscopio de la Fuerza Atómica es de la marca Truth Instruments, y el número de modelo es AtomEdge Pro.

P2: ¿Dónde se fabrica el microscopio de fuerza atómica AtomEdge Pro?

R2: El AtomEdge Pro es fabricado en China.

P3: ¿Cuáles son las características clave del Truth Instruments AtomEdge Pro?

A3: El AtomEdge Pro ofrece imágenes de superficie de alta resolución, mediciones precisas de fuerza y modos de escaneo versátiles adecuados para varios materiales y aplicaciones.

P4: ¿Qué tipos de muestras se pueden analizar utilizando el AtomEdge Pro?

A4: El AtomEdge Pro puede analizar una amplia gama de muestras, incluidas muestras biológicas, polímeros, semiconductores y nanomateriales.

P5: ¿Es el AtomEdge Pro adecuado tanto para aplicaciones de investigación como industriales?

R5: Sí, el AtomEdge Pro está diseñado para satisfacer las necesidades de la investigación académica y el control de calidad industrial con sus características avanzadas y confiabilidad.