Многофункциональное измерение (MFM/EFM) для целевых научных исследований

Описание продукта:

Микроскоп атомной силы (AFM) - это высокоразвитый инструмент, предназначенный для многофункциональных измерений, предлагающий непревзойденную универсальность и точность в наноразмере изображения и анализа.Эта современная AFM интегрирует различные режимы измерения, включая электростатический силовой микроскоп (ЭФМ), сканирующий силовой микроскоп Кельвина (KPFM), пиезоэлектрический силовой микроскоп (PFM), магнитный силовой микроскоп (MFM) и анализ кривой силы,что делает его незаменимым инструментом для исследователей и инженеров, работающих в авангарде нанотехнологий и материаловедения.

Одной из отличительных особенностей этого AFM является его исключительный диапазон сканирования 100 мкм * 100 мкм * 10 мкм,который позволяет пользователям исследовать топографию и свойства поверхности на широкой территории с высокой точностьюЭта обширная возможность сканирования гарантирует, что как крупномасштабные, так и тонкие наномасштабные особенности могут быть точно охарактеризованы без ущерба для разрешения или детализации.

Прибор может похвастаться впечатляюще низким уровнем шума в направлении Z, измеренным всего в 0,04 Нм. Этот минимальный уровень шума имеет решающее значение для достижения высокой точности измерений и надежных данных,позволяет исследователям обнаруживать тонкие изменения морфологии поверхности и свойств материалов с нанометровым разрешениемТакая чувствительность необходима для применений, требующих точных измерений силы и поверхностных взаимодействий в атомном или молекулярном масштабе.

AFM поддерживает несколько режимов работы для размещения широкого спектра типов образцов и экспериментальных условий.где зонд поддерживает непрерывный контакт с поверхностью образца; Tap Mode, который минимизирует повреждение деликатных образцов путем периодического контакта с поверхностью; Phase Imaging Mode, который обеспечивает подробный контраст на основе свойств материала; Lift Mode,используется для разделения топографических и магнитных или электростатических сигналов; и многонаправленный режим сканирования, который повышает точность изображения путем сканирования образцов под различными углами.Эта гибкость обеспечивает пользователям возможность адаптировать свой подход к конкретным требованиям их исследований..

В дополнение к своим техническим возможностям, AFM может вмещать образцы размером до 25 мм, обеспечивая достаточное пространство для различных типов образцов,от полупроводниковых пластин и биологических тканей до полимеров и наноструктурированных материаловЭта великодушная совместимость размера выборки расширяет сферу потенциальных исследований и облегчает бесперебойную интеграцию в существующие лабораторные рабочие процессы.

Разработанный с нанометровым разрешением в его ядре, этот AFM обеспечивает подробную визуализацию поверхности и количественный анализ, которые имеют решающее значение для развития нанонауки и нанотехнологий.Сочетание многофункциональных режимов измерений с широким диапазоном сканирования и сверхнизкой производительностью шума, он позволяет пользователям проводить всесторонние исследования электрических, магнитных, пьезоэлектрических и механических свойств в наномасштабе.

Независимо от того, используется ли она для академических исследований, контроля качества в промышленности или разработки передовых материалов, эта AFM выделяется как мощный и надежный инструмент.Его интеграция нескольких методов микроскопии в рамках одной платформы не только упрощает экспериментальные процессы, но и увеличивает глубину и широту данных, которые могут быть полученыЭто делает его бесценным активом для всех, кто стремится расширить границы характеристики и инноваций на наномасштабе.

Особенности:

• Наименование продукта: Микроскоп атомной силы
• Нелинейность: 0,15% в направлении XY и 1% в направлении Z
• Размер образца: до 25 мм
• Многофункциональные возможности измерения:
  • Электростатический силовой микроскоп (ЭФМ)
  • Сканирующий микроскоп Кельвина (KPFM) для сканирующей микроскопии зонды Кельвина
  • Пиезоэлектрический силовой микроскоп (PFM)
  • Магнитно-силовой микроскоп (МФМ)
  • Анализ кривой силы для наномеханических испытаний
• Точка отбора образцов изображения: максимальное разрешение изображения сканирующего зонда 4096*4096 пикселей
• Рабочие режимы:
  • Режим контакта
  • Режим нажатия
  • Режим фазовой визуализации
  • Режим подъема
  • Многонаправленный режим сканирования
• Усовершенствованные возможности наномеханических испытаний для точной характеристики материалов

Технические параметры:

Этот микроскоп атомной силы служит передовой платформой для характеристики наномасштаба, позволяющей анализировать наномасштаб с атомным разрешением для различных научных и промышленных применений.

Применение:

Микроскоп атомной силы Truth Instruments AtomEdge Pro, с гордостью изготовленный в Китае, является передовым инструментом, предназначенным для широкого спектра передовых научных приложений.Его многофункциональные возможности измерения включают электростатическую силовую микроскопию (EFM), сканирующая микроскопия силовых зондов Кельвина (KPFM), пиезоэлектрическая микроскопия сил (PFM), микроскопия магнитных сил (MFM) и анализ кривой сил,что делает его исключительно универсальным инструментом для исследователей и инженеров, работающих на наномасштабе.

В области наномеханических испытаний, AtomEdge Pro превосходит, предоставляя точные измерения механических свойств на наноуровне.исследования полупроводников, и разработки биоматериалов, где понимание поверхностной механики и взаимодействий в крайне малых масштабах может привести к инновациям в дизайне и производительности продукции.Нелинейность системы составляет только 00,15% в направлении XY и 1% в направлении Z обеспечивают высокую точность и надежность данных, необходимых для количественного анализа в этих сложных областях.

Микроскопия силовой пизореакции (PFM) является еще одной ключевой областью применения для AtomEdge Pro.Этот метод позволяет исследователям изучать пьезоэлектрические и ферроэлектрические материалы, отображая их электромеханическое поведение с наноразрешениемТакие знания имеют жизненно важное значение для разработки датчиков, приводов и устройств сбора энергии.Высокий диапазон сканирования 100 мкм * 100 мкм * 10 мкм в сочетании с скоростью сканирования, регулируемой от 0 до.1 до 30 Гц обеспечивает гибкость для эффективного захвата детальных особенностей поверхности.Максимальное разрешение точки отбора образцов изображения 4096 * 4096 гарантирует, что даже самые мелкие детали изображения зонда захвачены с исключительной ясностью.

Помимо PFM, the AtomEdge Pro’s capabilities in Magnetic Force Microscopy (MFM) and Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) open up further possibilities for exploring magnetic properties and surface potential variations at the nanometer scaleЭти приложения неоценимы в таких областях, как спинтроника, исследования коррозии и характеристика полупроводниковых устройств.

В целом, микроскоп атомной силы AtomEdge Pro от Truth Instruments идеально подходит для лабораторий, занимающихся передовыми исследованиями в области нанонауки и нанотехнологий.Многофункциональные возможности измерений, в сочетании с высокой точностью и разрешением, позволяют детально исследовать свойства материалов в различных условиях, что делает его жизненно важным инструментом в академических исследованиях, промышленном НИОКР,и сценарии контроля качества.

Поддержка и услуги:

Наш продукт атомной микроскопы (AFM) поддерживается всеобъемлющей технической поддержкой и услугами для обеспечения оптимальной производительности и удовлетворенности клиентов.Наша экспертная команда оказывает помощь с установкой, калибровки и рутинного обслуживания, чтобы ваш AFM работал с максимальной эффективностью.

Мы предлагаем подробные руководства пользователя и онлайн-ресурсы, которые помогут вам понять все возможности вашего AFM и устранить распространенные проблемы.Регулярные обновления и обновления программного обеспечения для улучшения функциональности и включения последних технологических достижений.

В случае сложных технических проблем наши специалисты готовы предоставить дистанционную диагностику и, при необходимости, сервис на месте для минимизации простоев.Мы предоставляем тренинги и семинары, чтобы помочь пользователям максимизировать потенциал их систем AFM.

Мы стремимся оказать оперативную и эффективную поддержку на протяжении всего жизненного цикла вашего Микроскопа Атомной Силы,обеспечение бесперебойного и успешного проведения ваших исследовательских и аналитических проектов.

Часто задаваемые вопросы

Вопрос 1: Какая марка и модель микроскопа атомной силы?

Ответ: Микроскоп атомной силы - это из марки Truth Instruments, и номер модели AtomEdge Pro.

Q2: Где производится микроскоп атомной силы AtomEdge Pro?

Ответ: AtomEdge Pro производится в Китае.

Вопрос 3: Каковы ключевые особенности Truth Instruments AtomEdge Pro?

A3: AtomEdge Pro предлагает изображения поверхности с высоким разрешением, точные измерения силы и универсальные режимы сканирования, подходящие для различных материалов и приложений.

Вопрос 4: Какие виды образцов можно проанализировать с помощью AtomEdge Pro?

A4: AtomEdge Pro может анализировать широкий спектр образцов, включая биологические образцы, полимеры, полупроводники и наноматериалы.

Вопрос 5: Подходит ли AtomEdge Pro как для исследований, так и для промышленных применений?

A5: Да, AtomEdge Pro предназначен для удовлетворения потребностей как академических исследований, так и промышленного контроля качества с его передовыми функциями и надежностью.