Multifunktioneel meten (MFM/EFM) voor gerichte wetenschappelijke studies

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope (AFM) is een zeer geavanceerd instrument dat is ontworpen voor multifunctionele metingen en biedt een ongeëvenaarde veelzijdigheid en precisie in nanoschaalbeeldvorming en -analyse.Deze geavanceerde AFM integreert een verscheidenheid aan meetmodi, met inbegrip van elektrostatische krachtmicroscoop (EFM), scanning Kelvin sonde krachtmicroscoop (KPFM), piezo-elektrische krachtmicroscoop (PFM), magnetische krachtmicroscoop (MFM) en krachtcurve analyse,het maken van een onmisbaar hulpmiddel voor onderzoekers en ingenieurs die op het gebied van nanotechnologie en materiaalwetenschappen op de voorgrond staan.

Een van de opvallende kenmerken van deze AFM is het uitzonderlijke scanningbereik van 100 μm * 100 μm * 10 μm,die gebruikers in staat stelt met hoge precisie oppervlakte-topografieën en -eigenschappen over een breed gebied te verkennenDeze uitgebreide scannermogelijkheid zorgt ervoor dat zowel grootschalige als fijne nanoschaalfuncties nauwkeurig kunnen worden gekarakteriseerd zonder dat de resolutie of details worden aangetast.

Het instrument beschikt over een indrukwekkend laag geluidsniveau in de Z-richting, gemeten op slechts 0,04 Nm.het mogelijk maken dat onderzoekers subtiele variaties in de oppervlaktemorfologie en materiaal eigenschappen met een nanometerresolutie kunnen detecterenEen dergelijke gevoeligheid is essentieel voor toepassingen waarbij nauwkeurige krachtmetingen en oppervlakteinteracties op atoom- of moleculaire schaal vereist zijn.

De AFM ondersteunt meerdere werkwijzen om te kunnen voldoen aan een breed scala aan steekproeftypen en proefomstandigheden.waarbij de sonde voortdurend contact houdt met het monsteroppervlak• Tap-modus, die schade aan delicate monsters tot een minimum beperkt door intermitterend contact met het oppervlak te maken;met een vermogen van meer dan 10 W,; en Multi-directional Scanning Mode, die de beeldnauwkeurigheid verbetert door monsters vanuit verschillende hoeken te scannen.Deze flexibiliteit zorgt ervoor dat gebruikers hun aanpak kunnen aanpassen aan de specifieke vereisten van hun onderzoek.

Naast zijn technische mogelijkheden kan het AFM monsters van maximaal 25 mm bevatten, wat voldoende ruimte biedt voor verschillende soorten monsters.van halfgeleiderwafels en biologische weefsels tot polymeren en nanostructured materialenDeze grote compatibiliteit tussen steekproefgroottes verruimt de reikwijdte van potentiële studies en vergemakkelijkt de naadloze integratie in bestaande laboratoriumwerkstromen.

Deze AFM is ontworpen met een nanometerresolutie als kern en levert gedetailleerde oppervlaktebeeldvorming en kwantitatieve analyse die van cruciaal belang zijn voor de vooruitgang van nanoscience en nanotechnologie.Door het combineren van multifunctionele meetmodi met een breed scanningbereik en een zeer lage geluidsprestatie, stelt het gebruikers in staat om uitgebreide onderzoeken van elektrische, magnetische, piezo-elektrische en mechanische eigenschappen op nanoschaal uit te voeren.

Of het nu gaat om wetenschappelijk onderzoek, industriële kwaliteitscontrole of de ontwikkeling van geavanceerde materialen, deze AFM is een krachtig en betrouwbaar instrument.De integratie van meerdere microscopische technieken binnen één platform stroomlijnt niet alleen experimentele processen, maar vergroot ook de diepte en breedte van de gegevens die kunnen worden verkregenDit maakt het een onbetaalbare troef voor iedereen die de grenzen van nanoschaalkarakterisering en innovatie wil verleggen.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope
• Niet-lineariteit: 0,15% in XY-richting en 1% in Z-richting
• Grootte van het monster: tot 25 mm
• Multifunctionele meetmogelijkheden:
  • Elektrostatische krachtmicroscoop (EFM)
  • Scanning Kelvin Microscoop (KPFM) voor Scanning Kelvin Probe Microscopy
  • Piezo-elektrische krachtmicroscoop (PFM)
  • Magnetische krachtmicroscoop (MFM)
  • Krachtcurve-analyse voor nanomechanische testen
• Beeldmonsteringspunt: maximale resolutie van het beeld van de scansonde is 4096*4096 pixels
• Werkwijze:
  • Contactmodus
  • Tikmodus
  • Fase-afbeeldingsstand
  • Liftmodus
  • Multi-directionele scanmodus
• Geavanceerde nanomechanische testmogelijkheden voor nauwkeurige materiaalkarakterisering

Technische parameters:

Deze Atomic Force Microscope dient als een geavanceerd Nanoscale Characterization Platform, waardoor Nanoscale Analysis met Atomic Resolution voor diverse wetenschappelijke en industriële toepassingen mogelijk is.

Toepassingen:

De Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, trots gemaakt in China, is een geavanceerd instrument ontworpen voor een breed scala aan geavanceerde wetenschappelijke toepassingen.De multifunctionele meetmogelijkheden omvatten elektrostatische krachtmicroscopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezo-elektrische krachtmicroscopie (PFM), magnetische krachtmicroscopie (MFM) en krachtcurve analyse,Dit maakt het een uitzonderlijk veelzijdig instrument voor onderzoekers en ingenieurs die op nanoschaal werken..

In het domein van nanomechanische testen, excelleert de AtomEdge Pro door precieze metingen van mechanische eigenschappen op de nanoschaal te leveren.onderzoek naar halfgeleiders, en de ontwikkeling van biomaterialen, waarbij het begrijpen van de oppervlakte-mechanica en interacties op extreem kleine schaal kan leiden tot innovaties in productontwerp en -prestaties.De niet-lineariteit van het systeem is slechts 0.15% in de XY-richting en 1% in de Z-richting zorgen voor zeer nauwkeurige en betrouwbare gegevens, die essentieel zijn voor kwantitatieve analyse op deze veeleisende gebieden.

Piezoresponse Force Microscopy (PFM) is een ander belangrijk toepassingsgebied voor de AtomEdge Pro.Deze techniek stelt onderzoekers in staat om piezo- en ferro-elektrische materialen te bestuderen door hun elektromechanisch gedrag in kaart te brengen met een nano-resolutieDergelijke inzichten zijn van vitaal belang voor de ontwikkeling van sensoren, actuatoren en apparaten voor energie-opvang.Het hoge scanningbereik van 100 μm * 100 μm * 10 μm gecombineerd met een scanningssnelheid die tussen 0.1 tot en met 30 Hz zorgt voor flexibiliteit bij het efficiënt vastleggen van gedetailleerde oppervlaktefuncties.De maximale resolutie van het beeldmonsterpunt van 4096 * 4096 zorgt ervoor dat zelfs de kleinste details van het sondebeeld met uitzonderlijke helderheid worden vastgelegd.

Naast PFM, the AtomEdge Pro’s capabilities in Magnetic Force Microscopy (MFM) and Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) open up further possibilities for exploring magnetic properties and surface potential variations at the nanometer scaleDeze toepassingen zijn van onschatbare waarde op gebieden als spintronics, corrosieonderzoek en karakterisering van halfgeleiders.

Over het algemeen is de AtomEdge Pro Atomic Force Microscope van Truth Instruments ideaal voor laboratoria die zich bezighouden met geavanceerde nanowetenschappen en nanotechnologieonderzoek.De multifunctionele meetmogelijkheden, in combinatie met hoge precisie en resolutie, een gedetailleerd onderzoek mogelijk maken van de materiële eigenschappen onder verschillende omstandigheden, waardoor het een essentieel instrument is voor academisch onderzoek, industrieel onderzoek en ontwikkeling,en kwaliteitscontrole scenario's.

Ondersteuning en diensten:

Ons Atomic Force Microscope (AFM) product wordt ondersteund door uitgebreide technische ondersteuning en diensten om optimale prestaties en klanttevredenheid te garanderen.Ons team van experts biedt hulp bij de installatie, kalibratie en routinematig onderhoud om uw AFM optimaal te laten werken.

We bieden gedetailleerde gebruikershandleidingen en online bronnen om u te helpen de volledige mogelijkheden van uw AFM te begrijpen en veel voorkomende problemen op te lossen.Er zijn regelmatige software-updates en -upgrades beschikbaar om de functionaliteit te verbeteren en de nieuwste technologische ontwikkelingen op te nemen.

Voor complexe technische problemen zijn onze support specialisten klaar om op afstand te diagnosticeren en, indien nodig, ter plaatse service te verlenen om downtime te minimaliseren.we bieden trainingsessies en workshops om gebruikers te helpen het potentieel van hun AFM-systemen te maximaliseren.

We zijn toegewijd aan snelle en effectieve ondersteuning gedurende de levenscyclus van uw Atomic Force Microscope.ervoor zorgen dat uw onderzoek- en analyseprojecten vlot en succesvol verlopen.

Vragen:

V1: Wat is het merk en model van de Atomic Force Microscope?

A1: De Atomic Force Microscope is van het merk Truth Instruments, en het modelnummer is AtomEdge Pro.

V2: Waar wordt de AtomEdge Pro Atomic Force Microscope geproduceerd?

A2: De AtomEdge Pro is gemaakt in China.

V3: Wat zijn de belangrijkste kenmerken van de Truth Instruments AtomEdge Pro?

A3: De AtomEdge Pro biedt oppervlaktebeelden met hoge resolutie, nauwkeurige krachtmetingen en veelzijdige scannermodi die geschikt zijn voor verschillende materialen en toepassingen.

V4: Welke soorten monsters kunnen met de AtomEdge Pro worden geanalyseerd?

A4: De AtomEdge Pro kan een breed scala aan monsters analyseren, waaronder biologische monsters, polymeren, halfgeleiders en nanomaterialen.

V5: Is de AtomEdge Pro geschikt voor zowel onderzoek als industriële toepassingen?

A5: Ja, de AtomEdge Pro is ontworpen om te voldoen aan de behoeften van zowel academisch onderzoek als industriële kwaliteitscontrole met zijn geavanceerde functies en betrouwbaarheid.